4-3 获得精确厚度的方法 & 4.4 获得均匀膜层的方法

精密测厚技术的使用教程与操作技巧导语：精密测厚技术是一种非常重要的工程技术，广泛应用于工业生产过程中。

本文将为大家介绍精密测厚技术的使用教程与操作技巧，帮助读者更好地应对实际工作中的厚度测量需求。

第一部分：精密测厚技术的基础知识在开始介绍具体的使用教程和操作技巧之前，我们先来了解一些精密测厚技术的基础知识。

首先，我们需要明白为什么需要进行厚度测量。

在许多工程项目中，产品的厚度是一个至关重要的指标，它可以直接影响产品的质量和功能。

因此，精密测厚技术被广泛应用于材料科学、制造业、建筑工程等领域。

其次，我们需要了解一些常用的精密测厚技术。

目前，常见的测厚技术包括超声波测厚、X射线测厚和激光测厚。

每种技术都有其适用的范围和特点，需要根据具体的测量要求选择合适的方法。

第二部分：超声波测厚技术的使用教程与操作技巧超声波测厚技术是一种基于超声波的非破坏性测厚方法，它可以用于测量金属和非金属材料的厚度。

下面，我们详细介绍超声波测厚技术的使用教程与操作技巧。

首先，准备工作。

在进行超声波测厚之前，需要准备一台超声波测厚仪和一根合适的传感器。

确保测量仪器的正常工作，传感器的接触面清洁无损。

其次，校准仪器。

超声波测厚仪通常具有自动校准功能，但我们仍然需要确保仪器的准确性。

可以使用一块标准样品进行校准，确保测量结果与样品的实际厚度相符。

然后，规划测量点。

根据实际需求，确定测量对象的测点。

通常情况下，需要在物体的不同位置进行多次测量以获得准确的平均值。

接下来，进行测量。

将传感器贴附在待测物体的表面，并启动测量仪器。

超声波信号通过传感器发送到物体内部，在不同材料层之间的反射和波速变化等现象中进行测量，从而得出物体的厚度。

最后，分析和记录测量结果。

根据实际需求，对测量结果进行分析和比对。

可以使用计算机软件进行数据处理，并将测量结果记录在文件或报告中。

第三部分：其他测厚技术的使用教程与操作技巧除了超声波测厚技术之外，X射线测厚和激光测厚也是常用的精密测厚技术。

测厚仪操作规程标题：测厚仪操作规程引言概述：测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，广泛应用于工业生产、建造工程、航空航天等领域。

正确操作测厚仪对于准确测量物体厚度至关重要，下面将介绍测厚仪的操作规程。

一、仪器准备1.1 确保测厚仪处于正常工作状态，检查仪器外观是否有损坏。

1.2 检查测厚仪的电池电量，确保电量充足。

1.3 准备好校准块或者标准样品，用于校准仪器。

二、测量准备2.1 将测厚仪放置在平稳的工作台上，避免受到外界干扰。

2.2 将测厚仪的传感器头对准待测物体表面，确保传感器与物体垂直接触。

2.3 调节仪器的参数，如声速、频率等，以适应待测物体的特性。

三、测量操作3.1 按下测厚仪上的测量按钮，开始进行测量。

3.2 保持传感器头与物体表面接触，直到测量完成。

3.3 记录测量结果，并及时处理数据，如保存、打印或者传输至电脑。

四、校准和维护4.1 定期对测厚仪进行校准，以确保测量结果的准确性。

4.2 清洁测厚仪的传感器头和外壳，避免灰尘或者污垢影响测量精度。

4.3 注意测厚仪的工作环境，避免高温、潮湿或者腐蚀性气体的影响。

五、安全注意事项5.1 使用测厚仪时，避免将传感器头对准眼睛或者其他人体部位。

5.2 在测量过程中，注意避免将测厚仪摔落或者碰撞到硬物。

5.3 在测量结束后，及时关闭测厚仪的电源，避免电池耗尽或者损坏。

总结：遵循以上测厚仪操作规程，可以确保测量结果的准确性和仪器的长期稳定工作。

同时，注意安全操作和定期维护，可以延长测厚仪的使用寿命，提高工作效率。

希翼以上内容对您有所匡助。

[斯诺克台球教程连载]第二篇台球基本功法————（六）重合瞄准法（厚薄度瞄准法）由mySnooker» 2007年 4月 15日 14:25原文出自：新浪博客国旗飘扬（六）重合瞄准法（厚薄度瞄准法）台球是用球杆撞击主球，再通过主球把目标球撞进球袋。

当袋口中心点与目标球中心点和主球中心点成一条直线时，这是直线球，但在实际打球时很少遇到，当3点不在一条直线上时，便出现了各种偏斜角度的偏角球，在打球时是经常出现的。

比赛中如果掌握不好打厚球与薄球的技术，是无法取胜的。

下面简单介绍一下目标球厚度的划分（图2-30），有中心球、4/5球、3/4球、2/3球、1/2球、1/3球、1/4球和1/5秋等。

图2-301. 中心瞄准点指主球的中心点与目标球的中心点直线相撞击，图2-30上的T点为瞄准点，实际瞄视结果与目标球相重合。

2. 3/4瞄准点将目标球直径分成4等分（图2-31），图中主球左侧边上的延长线A与目标球上的3/4那条线对齐，然后再沿着主球中心T1一直向前看到T2点时，这个T2点的部位，就是击球时要用眼睛观测的瞄准点。

通过这个图例说明之后，再看其他举例就容易明白了。

例如图2-30厚度与目标球的分离角与瞄准点。

图2-313. 2/3瞄准点就是把目标球的直径分成3等分，如图2-30左边的延长线与目标球2/3那条线相重合，瞄准时看T点。

通常所说的“厚球”一词，是指在瞄准时主球和目标球相重合的尺度，从整个球面（亦称满球）到相重2/3范围，均称厚球；所说的“薄球”，是指瞄视主球与目标球其球径相重在1/2以下的均称薄球。

4. 1/2瞄准点将目标球分成二等分，主球左边延长线与目标球中心相重合，此时瞄准点恰好在目标球的右边缘上，并且这个T点即在主球中心的延长线上，这个延长线也是向前瞄准的视线（如图2-32所示）。

图2-325. 其它瞄准点对于其它瞄准点，如1/3、1/4、1/5等，道理也是完全相同的，这里就不再赘述了。

引用格式：何普, 赵纪元, 颜江涛. 基于太赫兹波强度关系的热障涂层厚度测量方法[J]. 中国测试，2023, 49(10): 1-6. HE Pu,ZHAO Jiyuan, YAN Jiangtao. Thermal barrier coating thickness measurement method using terahertz wave intensity relationship[J].China Measurement & Test, 2023, 49(10): 1-6. DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2022060132基于太赫兹波强度关系的热障涂层厚度测量方法何 普， 赵纪元， 颜江涛(西安交通大学机械工程学院，陕西 西安 710049)摘　要: 针对等离子喷涂工艺制备的热障涂层内部结构复杂、太赫兹波在热障涂层内传播衰减严重等问题，提出利用太赫兹波强度关系的热障涂层厚度测量方法，根据太赫兹波在热障涂层中的传播特性建立热障涂层太赫兹波传播模型，通过模型可以得到基于太赫兹检测信号的热障涂层厚度计算方法，然后根据菲涅尔定律和太赫兹检测信号回波能量关系建立折射率计算模型，提出使用热障涂层结构特征影响因子S 修正利用太赫兹波强度关系的热障涂层厚度测量方法，并进行实验验证。

研究结果表明，该方法所得结果与130 nm 分辨率共聚焦显微镜测量结果具有良好的一致性，平均绝对误差不大于17.29 μm ，平均相对误差不高于3.42%，能够准确测量热障涂层厚度。

关键词: 无损检测; 太赫兹波; 热障涂层; 厚度测量中图分类号: TG115.28; TB9文献标志码: A文章编号: 1674–5124(2023)10–0001–06Thermal barrier coating thickness measurement method using terahertz waveintensity relationshipHE Pu, ZHAO Jiyuan, YAN Jiangtao(School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)Abstract : Aiming at the problems of complex internal structure of thermal barrier coatings made by plasma spraying and serious attenuation of terahertz wave propagation in thermal barrier coatings, a calculation method of thermal barrier coating thickness based on the relationship of terahertz wave intensity was proposed.Firstly, according to the propagation characteristics of terahertz waves in thermal barrier coatings, a terahertz wave propagation model of thermal barrier coatings was established, and the calculation method of thermal barrier coating thickness based on terahertz detection signals could be obtained through the model. Then, a refractive index calculation model was established based on Fresnel's law and the relationship between the echo energy of the terahertz detection signals. Finally, a thermal barrier coating thickness calculation method based on the THz wave intensity relationship using the influence factor S of the thermal barrier coating structure characteristic was proposed, and the experimental verification was carried out. The research results show that the results obtained by this method are in good agreement with the measurement results of 130 nm resolution confocal microscopy, the average absolute error is not more than 17.29 μm, and the average relative error is not收稿日期: 2022-06-21；收到修改稿日期: 2022-09-19基金项目: 国家自然科学基金项目(51975452)作者简介: 何　普（1996-），男，河北邯郸市人，硕士研究生，专业方向为太赫兹无损检测。

简支梁冲击强度(2篇)以下是网友分享的关于简支梁冲击强度的资料2篇，希望对您有所帮助，就爱阅读感谢您的支持。

篇一：简支梁冲击强度4．塑料——简支梁冲击强度的测定Plastics—Determination.of charpyImpact strength第二版1993-05-151适用范围1.1 本国际标准规定了塑料在规定条件下测定简支梁冲击强度的方法。

规定了几种不同种类的试样和试验配置。

根据材料类型、试样类型和缺口的类型规定了不同试验参数。

1.2本方法用于研究规定类型的试样在规定冲击条件下的行为，也用于估计试样在试验条件固有范围内的脆性和韧性。

本方法比ISO 180(悬臂梁)有较大的应用范围，且更适用于测试显示层间剪切断裂的材料或由于环境因素存在表面影响的材料。

1.3 本方法适用于下列范围的材料——硬质热塑性模塑和挤塑材料，包括填充材料和增强未填充材料，硬质热塑性板材；——硬质热固性模塑材料，包括填充和增强材料，硬质热固性板材，包括层压材料；——纤维增强的热固性和热塑性复合材料，包括单向或非单向的增强材料如毡、织物、纺织粗纱、短丝束、复合和杂混复合材料、玻璃粗纱和碎纤维、预浸渍材料制成的片材（预浸料坯）；——热致液晶聚合物。

本方法一般不适用于硬质多孔材料和含有多孔材料的夹层结构材料。

另外，长纤维增强的复合料或热致液晶聚合物一般不用缺口试样。

1.4 本方法适用于模塑到所选尺寸试样，以标准多用途试验试样(见ISO 3167)的中部机械加工的试样，或者由成品和半成品如模塑制品、层压制品和挤塑或铸塑板机械加工的试样。

1.5 本方法规定了试样的优选尺寸。

不同尺寸和缺口的试样以及不同条件下制备的试样进行的试验所得的结果是不可比的。

其他因素，如摆锤的能量大小，冲击速度和试样的状态调节也能影响结果。

因此，当需要可比数据时，必须仔细地控制和记录这些因素。

1.6 本方法不宜用作设计计算数据的来源。

但是，通过在不同的温度试验，改变缺口半径和/或厚度以及不同条件下制备试样，可以获得材料的典型特征资料。

如何排出书本厚度的尺寸
书本的厚度是指书本的纸张叠加后的整体厚度，它是一本书的重要指标之一，也是读者在选择图书时会考虑的因素之一。

一本书的厚度既不能太薄，影响了装帧的质感和震撼力，也不能太厚，不利于携带和阅读。

那么如何准确测量一本书的厚度呢？下面就介绍一下如何排出书本厚度的尺寸。

首先，测量书本的厚度需要用到一把千分尺或尺子。

将卷尺竖直放置在书本的侧面，从书的最左边到最右边测量书的宽度，然后将尺子对准书的厚度方向，从书的最上方到最下方测量书的厚度。

需要注意的是，在测量书的厚度时，要把书从中间往两侧推压，以保证每一页都处于平整且叠合在一起的状态。

在测量的过程中，还要留意是否有书页被翻折、弯曲或错位，这样会影响到最终的测量结果。

另外，在测量书本厚度时，也需要考虑到书的装帧方式对厚度的影响。

不同的装帧方式会导致书的厚度有所不同，比如精装书的厚度通常会比软装书要大一些，因为精装书有厚重的封面板和更多的装饰设计，而软装书则相对轻薄一些。

因此，在测量书的厚度时，要对不同装订方式的书进行区分，以获得最准确的测量结果。

总的来说，测量书本的厚度是一项比较简单但又需要注意细节的工作。

只要准备好合适的工具和仔细操作，就可以准确测量出一本书的厚度，并且基于这个数据做出合理的评判和选择。

希望这些小贴士能帮助你更好地了解书本的厚度测量方法，为你的阅读和选书提供一些参考。

氮化硅厚度计算引言：作为一种重要的半导体材料，氮化硅在电子器件制造过程中扮演着重要的角色。

计算氮化硅的厚度是确保器件性能稳定和一致性的关键步骤之一。

本文将介绍一种常用的方法来计算氮化硅的厚度，以帮助读者更好地理解该过程。

1. 厚度计算方法氮化硅的厚度可以通过不同的方法进行计算，其中一种常用的方法是通过测量氮化硅膜的折射率来推导厚度。

通过使用傅里叶变换红外光谱仪等设备，可以测量氮化硅膜在不同波长下的反射率和透射率，从而得到相应的折射率。

2. 折射率与厚度的关系氮化硅的折射率与其厚度之间存在一定的关系，通过这个关系可以推导出氮化硅的厚度。

当入射光从空气进入氮化硅膜时，由于介质的折射率差异，光线会发生折射。

根据菲涅尔公式，可以计算出反射和透射的光强，从而得到氮化硅膜的折射率。

3. 实际应用通过测量氮化硅膜在不同波长下的折射率，可以建立折射率与厚度之间的关系模型。

通过该模型，可以根据已知的折射率值来反推氮化硅的厚度。

这种方法在半导体工业中得到广泛应用，可以帮助工程师们确保器件的性能和一致性。

4. 精确性和限制需要注意的是，氮化硅厚度计算方法的精确性受到多种因素的影响，例如测量设备的精度、样品表面的质量等。

此外，氮化硅本身的光学性质也可能会随着厚度的变化而发生变化，这也会对厚度计算的准确性产生一定的影响。

结论：通过测量氮化硅膜的折射率，可以推导出氮化硅的厚度，从而帮助工程师们进行器件制造过程的控制和优化。

然而，需要注意的是，厚度计算方法的精确性受到多种因素的影响，因此在实际应用中需要仔细考虑这些因素。

通过不断改进测量技术和模型，可以提高厚度计算的准确性和可靠性，进一步推动半导体技术的发展。

参考文献：[1] X. Zhang, Y. Li and Z. Liu, "Optical constants of SiNx thin films," Opt. Laser Technol., vol. 38, no. 2, pp. 125-129, Feb. 2006.[2] T. Tiedje, F. Smy, P. Yeh and A. Y. Cho, "Determination of the thickness of silicon nitride films by spectroscopic ellipsometry," J. Appl. Phys., vol. 53, no. 8, pp. 5967-5971, Aug. 1982.。