卡尺内校作业指导书

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卡尺内校作业指导书 LEKIBM standardization office【IBM5AB- LEKIBMK08- LEKIBM2C】

卡尺内校作业指导书

1.目的

确保校准结果的准确性,使校准作业规范化。

2.范围

本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺、游标卡尺、带表卡尺。电子数显卡尺。

3.定义

4.权责

卡尺保管人:负责所属卡尺维护和保养。

品保部:卡尺专用量块的维护和保养。

校验人:卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。

5.作业流程图:

6. 作业内容说明:

卡尺结构:(见下页)

游标卡尺结构如下图所示。

6.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。

6.1.3 带表卡尺结构如下图所示。

6.1.4 电子数显深度卡尺结构如下图所示。

校准基准:标准量块(外校合格的标准件)。

校准环境及周期:温度20+/-5℃、湿度≤80%RH,静置2小时以上,校准周期为半年。

校准步骤:

6.4.1 校准前:

①目测尺身、量爪、深度测量杆是否有弯曲变形;

②检验游尺与本尺全程滑动时是否顺畅;

③归零后,目测观察内外径的测量面是否完全密合;

④检查深度测量杆的磨损状况;

⑤检查影响测量内外径的测量面是否完全密合

⑥紧固螺丝的作用是否有效;

⑦带表卡尺需检查卡尺指针运动是否平稳、灵活。

⑧电子数显类卡尺需检验数字显示是否平稳、灵敏。

6.4.2 校验中:

①将适当的标准量块(外校合格的标准件)放在平台上对卡尺进行校正;

② 0-150mm测量范围内的卡尺,其校正件受检点为:、、,每点校正两次,取平均值;

③150-300mm测量范围内的卡尺,其校正件受检点为:、、,每点校正两次,取平均值;

④300mm以上测量范围内的卡尺,其校正件受检点为:10mm、20mm、、、、,每点校正

两次,取平均值;

⑤选择20mm深的标准量块,对卡尺深度进行校验;

⑥选择合适内径物,用多把卡尺进行对比;

⑦取用标准量块时,须戴好手套,并小心不可将其掉落地上;

⑧将量测读数值减去标准量块值即为误差值。

6.4.3 校验后:

①如果测量误差过大,不调整时或维修时应暂停使用,无法维修者作报废处理;

②标准量块使用完毕后,须擦拭干净,并喷上防锈油,放回固定位置保存。

6.4.4 判定标准:

①校验合格后,贴上校验合格标签;

②校验不合格时,依实际情况定为暂停使用,严重者作报废处理;

③将校验结果登录在《量测仪器内校报告书》上并归档保存。

7.参考文件

8.附件/表单

量测仪器内校报告书