四分法取样详解

粗集料的取样方法1，适用范围本方法适用于对粗集料的取样，也适用于含粗集料的集料混合料如级配碎石、天然砂砾等取样方法。

2，取样的方法和份数（1）通过皮带运输机的材料如采石场的生产线、沥青拌合楼的冷料输送带、无机结合料稳定集料、级配碎石混合料等，应从皮带运输机上采集样品。

取样时，可从皮带运输机骤停的状态下取其中一节全部材料或在皮带运输机的端部连续接一定时间的料得到，将间隔3次以上所取得的试样组成一组试样，作为代表性试样。

（2）在材料同批来料的料堆上取样时，应先铲除堆脚等处无代表性的部分，再在料堆的顶部、中部和底部，各由均匀分布的几个不同部位，取大致相等的若干份组成一组试样，务必使所取试样能代表本批来料的情况和品质。

（3）从火车、汽车、货船上取样时，应从各不同部位和深度处，抽取大致相等的试样若干份，组成一组试样。

抽取的具体份数，应视能够组成本批来料代表样的需要而定。

（4）从沥青拌合楼的热料仓取样时，应在放料口的全断面上取样。

通常宜将一开始按正式生产的配比投料拌合的几锅（至少5锅以上）废弃，然后分别将每个热料仓放出至装载机上，倒在水泥地上，适当拌和，从3处以上的位置取样，拌和均匀，取要求数量试样。

3，取样数量对每一单项试验，每组试样的取样数量不宜少于《公路工程集料试验规程》中所规定的最少取样数量，需做几项试验时，如能保证试样经一项试验后不致影响另一试验结果时，可用同组试样进行几项不同的试验。

4，试样的缩分（1）分料器法：将试样拌合均匀后，通过分料器分为大致相等的两份，再取其中的一份分成两份，缩分至需要的数量为止。

（2）四分法：将所取试样置于平板上，在自然状态下拌合均匀，大致摊平，然后沿互相垂直的两个方向，把试样由中向边摊开，分成大致相等的四份，取其对角的两份重新拌匀，重复上述过程，直至缩分后的材料略多于进行试验所必需的量。

材料取样和缩分方法
筛分数据能不能指导施工、是否具备代表性，取样这个环节已经决定了1/3；同样的，将样品缩分至试验用量一样占1/3的重要性，剩下的1/3才是试验和计算。

一、取样方法
在料堆上取样时，取样部位应均匀分布。

取样前先将取样部位表层铲除，然后从不同的部位随机抽取大致等量的材料若干份，组成一组样品。

二、缩分法
首先将现场取回的材料通过移锥法拌合均匀，然后通过四分法，将材料缩分至试验用量即可。

1、移锥法；
将样品从袋中向中心点徐徐倒下，形成圆锥形矿堆，再将此样品沿同一方向从锥底两相对位置将样品依次铲取放在附近另一中心点，又堆成新的圆锥形矿堆，一般混合3~4次为宜即可将样品混匀。

2、四分法：
按右图方法，将圆锥形试样堆用一
块薄板插入锥顶，使矿样沿圆周分散，
最后成圆盘形；再把它分成四个象限,两
对角部分合并，一份丢弃,一份作为试
样,至此进行完一次缩分。

每进行一次缩分前均要混匀一次, 移锥法混匀和四分法缩分常结合在一起进行。

专利名称：一种工程集料四分法自动取样器及其取样方法专利类型：发明专利
发明人：张宜洛,郭科,刘彦珍,赵少宗,张轲,段周洋,王福满,闫怀宇
申请号：CN201510023275.1
申请日：20150116
公开号：CN104614198A
公开日：
20150513
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种工程集料四分法自动取样器及其取样方法，包括固定桶，所述固定桶两端开口，所述固定桶内由上至下依次设置有拌合装置、缩分装置和收集装置；所述拌合装置与缩分装置之间留有空隙；所述收集装置支撑在缩分装置的下方；所述固定桶的下方设置有质量控制装置；通过拌合装置将工程集料搅拌均匀，搅拌均匀的集料经过缩分装置后，进入收集装置进行收集，得到缩分后的集料试样。

本发明的装置及其取样方法能够保证缩分时的连续性，使整个试样在缩分的过程中整体性不被破坏，并能够大大提高缩分的效率。

申请人：长安大学
地址：710064 陕西省西安市雁塔区二环南路中段126号
国籍：CN
代理机构：西安恒泰知识产权代理事务所
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一、粉煤灰烧失量（%）试验取样方法及数量以连续供应的200t相同等级的粉煤灰为一批，不足200t亦按一批论，粉煤灰的数量按干灰（含水率小于1%）的重量计算。

散装灰取样——从不同部位取15份试样，每份试样1~3kg，混合均匀，按四分法缩取比试验所需量大一倍的试样（称为平均试样）。

袋装灰取样——从每批中抽10袋，并从每袋中各取试样不少于1kg，混合均匀，按四分法缩取比试验所需量大一倍的试样（称为平均试样）。

二、试验方法：按四分法取样，准确称取1g试样，置于已灼烧恒重的瓷坩埚中，将盖斜置与坩埚上，放在高温炉内从低温开始逐渐升高温度，在950~1000℃以灼烧15~20min，取出坩埚，置于干燥器中冷至室温。

称量，如此反复灼烧，直至恒重。

三、计算：烧失量（%）S=(G1-G2)/G1*100G1烧前质量，G2烧后质量。

四、粉煤灰必试项目试验结果评定标准评定依据《用于水泥和混凝土中的粉煤灰》（GB1596-91），其品质指标应符合下表规定：烧失量（%）不大于Ⅰ级5%Ⅱ级8 %Ⅲ级15%粉煤灰烧失量对混凝土有什么影响?烧失量大的话，主要降低粉煤灰的减水效应和活性效应，烧失量是粉煤灰分级的一个重要指标.粉煤灰烧失量对高性能混凝土有何影响?烧失量大的话，主要降低粉煤灰的减水效应和活性效应，国家对粉煤灰分级有规定的，烧失量大会降级的.粉煤灰细度的试验方法和步骤？粉煤灰细度试验方法 A.1 范围本附录规定了粉煤灰细度试验用负压筛析仪的结构和组成，适用于粉煤灰细度的试验。

A.2 原理利用气流作为筛分的动力和介质，通过旋转的喷嘴喷出的气流作用使筛网里的待测粉状物料呈流态化，并在整个系统负压的作用下，将细颗粒通过筛网抽走，从而达到筛分的目的。

A.3 仪器设备A.3.1 负压筛析仪负压筛析仪主要由45um方孔筛、筛座、真空源和收尘器等组成，其中45um方孔筛内径为φ150mm，高度为25mm，45um方孔筛及负压筛析仪筛座结构示意图如图A1所示。

四分法取样方法
四分法取样，又叫圆锥四分法，是指每样堆成均匀的圆锥形，并压成锥台，而后用十字形架分成四等分的一种缩分操作方法。

植物群落的调查取样，
为植被研究提供原始数据。

取样方法的选择决定了最后结论的准确性和可
靠性，因此，具体操作起来要视情况而定。

具体操作步骤如下：
1. 将样品按照测定要求磨细，过一定孔径的筛子，然后混合，平铺成圆形。

2. 沿直径方向切成四等分，去掉两个相对部分。

3. 将剩下的两部分混合后再按上述方法重复进行，直到获得试验所需量为止。

固体研细、混合均匀取样是四分法取样的基本要求，液体样品则可以先混匀再取样。

在操作过程中，如果需要取样的样品量较大，可以通过多次重复四分法取样来获得足够的样品量。

以上信息仅供参考，如有需要，建议查阅相关文献或咨询专业人士。

四分法混匀
四分法混匀，又叫圆锥四分法，是一种将样品混匀的常用方法。

具体步骤为：
1. 将样品按照测定要求磨细，过一定孔径的筛子，然后混合，平铺成圆形。

2. 用十字形架分成四等分，取相对的两份混合，然后再平分，直到达到自己的要求。

这种方法在植物群落的调查取样、分析化学等领域有广泛应用。

例如，在植物群落调查中，四分法取样被用于为植被研究提供原始数据。

在分析化学中，四分法是一种常用的手工缩分方法，用于使试样量逐步减少，从而更便于处理和分析。

以上信息仅供参考，如需了解更多信息，建议咨询专业人士。

土壤样品采集方法指导标签：土壤采样方法土壤检测土壤检测机构国联质检四分法土壤样品的采集要根据土壤检测目的而定，取样的深度，取样的方法、采集土壤的多少以及样品的前处理都直接影响到检测数据的准确性。

因此，正确采集土壤样品至关重要，下面我就具体细节给大家做一阐述。

一、土壤样品的采集(一) 采样深度1、一般了解土壤污染状况：取0—15cm或0—20cm表层(或耕层)土壤，种植果林类农作物采0～60cm。

2、了解土壤污染对植物或农作物的影响：采样深度通常在耕层地表以下15-30cm处，对于根深的作物，也可取50cm深度处的土壤样品。

3、了解污染物质在土壤中的垂直分布：沿土壤剖面层次分层取样，每个柱状样取样深度都为100cm，分取三个土样：表层样（0～20cm），中层样（20～60cm），深层样（60～100cm）4、了解土壤污染深度时采集剖面样品：按土壤剖面层次分层采样。

土壤剖面土层示意图A层(耕作层)B层(亚层、淀积层) C层(风化母岩层、母质层)底岩层实际图5、剖面规格一般为长1.5m、宽0.8m、深1.0m，每个剖面采集A、B、C 三层土样。

过渡层（AB、BC）一般不采样。

当地下水位较高时，挖至地下水出露时止。

现场记录实际采样深度，如0～20、50～65、80～100cm。

在各层次典型中心部位自下而上采样，切忌混淆层次、混合采样。

在山地土壤土层薄的地区，B层发育不完整时，只采A、C层样。

干旱地区剖面发育不完整的土壤，采集表层（0～20cm）、中土层（50cm）和底土层（100cm）附近的样品。

土壤剖面A、B、C层示意图（二）、混合样品1. 一般了解土壤污染状况时采集混合样品：将一个采样单元内各采样分点采集的土样混合均匀制成。

2. 对种植一般农作物的耕地，只需采集0～20 cm耕作层土壤；3. 对于种植果林类农作物的耕地，采集0～60cm耕作层土壤。

4 混合样品采集布点方法，由于土壤本身存在着空间分布的不均一性，为更好地代表取样区域的土壤性状，采用以地块为单位，多点取样，再混合成一个混合样品。

土壤样品采集方法指导标签：土壤采样方法土壤检测土壤检测机构国联质检四分法土壤样品的采集要根据土壤检测目的而定，取样的深度，取样的方法、采集土壤的多少以及样品的前处理都直接影响到检测数据的准确性。

因此，正确采集土壤样品至关重要，下面我就具体细节给大家做一阐述。

一、土壤样品的采集(一) 采样深度1、一般了解土壤污染状况：取0—15cm或0—20cm表层(或耕层)土壤，种植果林类农作物采0～60cm。

2、了解土壤污染对植物或农作物的影响：采样深度通常在耕层地表以下15-30cm处，对于根深的作物，也可取50cm深度处的土壤样品。

3、了解污染物质在土壤中的垂直分布：沿土壤剖面层次分层取样，每个柱状样取样深度都为100cm，分取三个土样：表层样（0～20cm），中层样（20～60cm），深层样（60～100cm）4、了解土壤污染深度时采集剖面样品：按土壤剖面层次分层采样。

土壤剖面土层示意图A层(耕作层)B层(亚层、淀积层) C层(风化母岩层、母质层)底岩层实际图5、剖面规格一般为长1.5m、宽0.8m、深1.0m，每个剖面采集A、B、C三层土样。

过渡层（AB、BC）一般不采样。

当地下水位较高时，挖至地下水出露时止。

现场记录实际采样深度，如0～20、50～65、80～100cm。

在各层次典型中心部位自下而上采样，切忌混淆层次、混合采样。

在山地土壤土层薄的地区，B层发育不完整时，只采A、C层样。

干旱地区剖面发育不完整的土壤，采集表层（0～20cm）、中土层（50cm）与底土层（100cm）附近的样品。

土壤剖面A、B、C层示意图（二）、混合样品1. 一般了解土壤污染状况时采集混合样品：将一个采样单元内各采样分点采集的土样混合均匀制成。

2. 对种植一般农作物的耕地，只需采集0～20 cm耕作层土壤；3. 对于种植果林类农作物的耕地，采集0～60cm耕作层土壤。

4 混合样品采集布点方法，由于土壤本身存在着空间分布的不均一性，为更好地代表取样区域的土壤性状，采用以地块为单位，多点取样，再混合成一个混合样品。

土壤样品采集方法指导标签：土壤采样方法土壤检测土壤检测机构国联质检四分法土壤样品的采集要根据土壤检测目的而定，取样的深度，取样的方法、采集土壤的多少以及样品的前处理都直接影响到检测数据的准确性。

因此，正确采集土壤样品至关重要，下面我就具体细节给大家做一阐述。

一、土壤样品的采集(一) 采样深度1、一般了解土壤污染状况：取0—15cm或0—20cm表层(或耕层)土壤，种植果林类农作物采0～60cm。

2、了解土壤污染对植物或农作物的影响：采样深度通常在耕层地表以下15-30cm处，对于根深的作物，也可取50cm深度处的土壤样品。

3、了解污染物质在土壤中的垂直分布：沿土壤剖面层次分层取样，每个柱状样取样深度都为100cm，分取三个土样：表层样（0～20cm），中层样（20～60cm），深层样（60～100cm）4、了解土壤污染深度时采集剖面样品：按土壤剖面层次分层采样。

土壤剖面土层示意图A层(耕作层)B层(亚层、淀积层) C层(风化母岩层、母质层)底岩层实际图5、剖面规格一般为长1.5m、宽0.8m、深1.0m，每个剖面采集A、B、C 三层土样。

过渡层（AB、BC）一般不采样。

当地下水位较高时，挖至地下水出露时止。

现场记录实际采样深度，如0～20、50～65、80～100cm。

在各层次典型中心部位自下而上采样，切忌混淆层次、混合采样。

在山地土壤土层薄的地区，B层发育不完整时，只采A、C层样。

干旱地区剖面发育不完整的土壤，采集表层（0～20cm）、中土层（50cm）和底土层（100cm）附近的样品。

土壤剖面A、B、C层示意图（二）、混合样品1. 一般了解土壤污染状况时采集混合样品：将一个采样单元内各采样分点采集的土样混合均匀制成。

2. 对种植一般农作物的耕地，只需采集0～20 cm耕作层土壤；3. 对于种植果林类农作物的耕地，采集0～60cm耕作层土壤。

4 混合样品采集布点方法，由于土壤本身存在着空间分布的不均一性，为更好地代表取样区域的土壤性状，采用以地块为单位，多点取样，再混合成一个混合样品。

样品制备及缩分知识要点（精选文档）(文档可以直接使用，也可根据实际需要修改使用,可编辑欢迎下载）样品制备及缩分知识要点一、样品缩分方法自动分样、人工分样（四分法）。

二、四分法制样的步骤在洁净的滤纸上用舌型取样铲堆锥法三次后，四分法分样第一次、四分法分样第二次、四分法分样多次后，直到分样后样品为500~800克，分装在二个试剂瓶中，一份为实验室样品，另一份为备考样品。

实验室样品和备考样品要做好标签。

三、样品制备步骤实验简介当前，制样技术已多种多样，如生物试样的超薄切片法，固体材料的表面复型法、机械抛光法、化学浸蚀法和电解抛光法，离子减薄和溅射以及蒸发镀膜法等等。

本实验中仅对应用广泛，设备由比较简单的蒸发镀膜法作比较详细的介绍。

本实验的主要目的是掌握真空镀膜机原理、结构和操作，掌握称重法、干涉测厚法计算膜后，制备非晶锗基底上的铟-镓合金镀电镜试样。

实验原理⏹蒸发镀膜制备电镜样品●透射电镜样品厚度要在100nm以下，样品过厚，对点子束吸收和散射严重，无法透射成像。

而扫描电镜则是对因散射离开试样表面的电子成像，试样可略厚。

扫描电镜的样品室常可植入大小的试样，扫描隧穿显微镜研究试样表面的结构和性质时，要在试样和探针针尖之间加一定电压，当试样和针尖的距离小于一定值时，会有量子隧穿电流产生。

因此，STM试样表面光洁度要求较高。

另外，用扫描电镜研究绝缘体时，为避免试样表面积累电荷，破坏成像质量，先要在试样表面蒸发镀一层导电物质。

蒸发镀膜是在高真空条件下的操作，所以先要介绍高真空镀膜的工作原理。

⏹镀膜原理●当镀膜室内压强为1.3mPa时，空气分子的自由程达0.5m，比蒸发源到基片的距离（0.1m左右）大得多。

因此蒸发原子到达基片的过程中与气体分子碰撞的概率很小，可以认为蒸发源是点源。

蒸发材料置放在钨丝做成做成的篮内或钼片做成的舟内，当钨篮或钼舟瞬间通过大电流加热时，待蒸发的材料汽化，其分子以直线轨迹向四周空间射出，沉积到适当的基片表面上，形成薄膜。