400MHz 250W VDMOS功率场效应晶体管
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EMOS场效应晶体管简介金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)是微处理器和半导体存储器这样一类超大规模集成电路中最重要的器件。
它正在成为一种重要的功率器件。
在20世纪30年代初期,Lilienfeld和Heil首次提出表面场效应晶体管的原理。
随后,在40年代末,Shockley和Pearson对其进行了研究。
1960年,Ligenza和Spitzer采用热氧化法制造出第一个器件级Si-SiO2MOS结构。
采用这种MOS系统制造出基本MOSFET器件是由Atalla提出的。
随后,在1960年,Kahng和Atalla制造出了第一只MOSFET。
Ihantola和Moll,Sah,Hofstein,Heiman等人完成了器件基本特性的早起研究。
场效应晶体管是一种在相应区域的多数载流子参与导电,少数载流子形成沟道的单极型晶体管,目前按工作方式主要有增强型场效应晶体管(以下简称EMOSFET)和耗尽型(DMOSFET)两种。
EMOSFET(Enhancement Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)的工作原理示意图如下:图中是一种NPN型,可以看出EMOS是一种高度对称的半导体,而且它是在P型半导体上生成一层SiO2薄膜绝缘层并扩散两个重掺杂的N型区(图中N+区),从N 型区引出电极,在源极和漏极之间的绝缘层上镀一层金属铝作为栅极。
S(Source)G(Gate)D(Drain)分别代表源极、栅极、漏极。
利用场效应,即在栅极上加一个正电压,通过栅极与P衬底的电容作用,形成一个垂直电场,排斥空穴,形成空穴的耗尽层,吸引电子,并形成一个导通两个N型区的通道,即沟道。
所施加的电压有一个最小值,大于这个最小值才会吸引足够多的电子形成沟道,如图(a)。
在漏极电压一定的情况下,栅极电压与漏极电流的关系曲线大致如图:更详细的计算参见教材P228-P231。
功率场效应晶体管(MOSFET)基本知识功率场效应管(PowerMOSFET)也叫电力场效应晶体管,是一种单极型的电压控制器件,不但有自关断能力,而且有驱动功率小,开关速度高、无二次击穿、安全工作区宽等特点。
由于其易于驱动和开关频率可高达500kHz,特别适于高频化电力电子装置,如应用于DC/DC变换、开关电源、便携式电子设备、航空航天以及汽车等电子电器设备中。
但因为其电流、热容量小,耐压低,一般只适用于小功率电力电子装置。
一、电力场效应管的结构和工作原理电力场效应晶体管种类和结构有许多种,按导电沟道可分为P沟道和N沟道,同时又有耗尽型和增强型之分。
在电力电子装置中,主要应用N沟道增强型。
电力场效应晶体管导电机理与小功率绝缘栅MOS管相同,但结构有很大区别。
小功率绝缘栅MOS管是一次扩散形成的器件,导电沟道平行于芯片表面,横向导电。
电力场效应晶体管大多采用垂直导电结构,提高了器件的耐电压和耐电流的能力。
按垂直导电结构的不同,又可分为2种:V形槽VVMOSFET和双扩散VDMOSFET。
电力场效应晶体管采用多单元集成结构,一个器件由成千上万个小的MOSFET组成。
N沟道增强型双扩散电力场效应晶体管一个单元的部面图,如图1(a)所示。
电气符号,如图1(b)所示。
电力场效应晶体管有3个端子:漏极D、源极S和栅极G。
当漏极接电源正,源极接电源负时,栅极和源极之间电压为0,沟道不导电,管子处于截止。
如果在栅极和源极之间加一正向电压UGS,并且使UGS大于或等于管子的开启电压UT,则管子开通,在漏、源极间流过电流ID。
UGS超过UT越大,导电能力越强,漏极电流越大。
二、电力场效应管的静态特性和主要参数PowerMOSFET静态特性主要指输出特性和转移特性,与静态特性对应的主要参数有漏极击穿电压、漏极额定电压、漏极额定电流和栅极开启电压等。
1、静态特性(1)输出特性输出特性即是漏极的伏安特性。
特性曲线,如图2(b)所示。
motorola tmos功率场效应晶体管原理及应用摩托罗拉(Motorola)的TMOS(Top Metal Oxide Semiconductor,顶部金属氧化物半导体)功率场效应晶体管(Power MOSFET)是一种广泛应用的半导体器件,主要用于电力控制和转换。
其工作原理和主要应用如下:
工作原理:
TMOS功率场效应晶体管是一种电压控制型半导体器件,其核心结构是一个垂直导电的金属氧化物半导体场效应晶体管。
在TMOS中,金属氧化物半导体场效应晶体管被集成在顶部,因此被称为“顶部金属氧化物半导体”。
当在TMOS的栅极上施加电压时,会在其内部产生一个电场,这个电场控制着半导体内部的电子流动。
通过改变栅极电压的大小,可以控制电子流动的数量和方向,从而实现电流的开关和调节。
由于TMOS具有较低的导通电阻和较高的开关速度,因此它在高频率和高电压的应用中具有优越的性能。
应用:
TMOS功率场效应晶体管广泛应用于各种电力电子设备中,如电机控制器、不间断电源(UPS)、电源供应器、开关电源等。
它们在电力转换和控制中起着至关重要的作用,可以实现高效的电能转换、过流保护、电压调节等功能。
此外,TMOS功率场效应晶体管还可以用于音频放大器、电池保护电路、LED驱动器等其他领域。
由于其高效、可靠和长寿命的特点,TMOS已成为现代电子设备中不可或缺的元件之一。
功率场效应晶体管(MOSFET)基本知识功率场效应管(Power MOSFET)也叫电力场效应晶体管,是一种单极型的电压控制器件,不但有自关断能力,而且有驱动功率小,开关速度高、无二次击穿、安全工作区宽等特点。
由于其易于驱动和开关频率可高达500kHz,特别适于高频化电力电子装置,如应用于DC/DC变换、开关电源、便携式电子设备、航空航天以及汽车等电子电器设备中。
但因为其电流、热容量小,耐压低,一般只适用于小功率电力电子装置。
一、电力场效应管的结构和工作原理电力场效应晶体管种类和结构有许多种,按导电沟道可分为P沟道和N沟道,同时又有耗尽型和增强型之分。
在电力电子装置中,主要应用N沟道增强型。
电力场效应晶体管导电机理与小功率绝缘栅MOS管相同,但结构有很大区别。
小功率绝缘栅MOS管是一次扩散形成的器件,导电沟道平行于芯片表面,横向导电。
电力场效应晶体管大多采用垂直导电结构,提高了器件的耐电压和耐电流的能力。
按垂直导电结构的不同,又可分为2种:V形槽VVMOSFET和双扩散VDMOSFET。
电力场效应晶体管采用多单元集成结构,一个器件由成千上万个小的MOSFET组成。
N沟道增强型双扩散电力场效应晶体管一个单元的部面图,如图1(a)所示。
电气符号,如图1(b)所示。
电力场效应晶体管有3个端子:漏极D、源极S和栅极G。
当漏极接电源正,源极接电源负时,栅极和源极之间电压为0,沟道不导电,管子处于截止。
如果在栅极和源极之间加一正向电压UGS,并且使UGS大于或等于管子的开启电压UT,则管子开通,在漏、源极间流过电流ID。
UGS超过UT越大,导电能力越强,漏极电流越大。
二、电力场效应管的静态特性和主要参数Power MOSFET静态特性主要指输出特性和转移特性,与静态特性对应的主要参数有漏极击穿电压、漏极额定电压、漏极额定电流和栅极开启电压等。
1、静态特性(1)输出特性输出特性即是漏极的伏安特性。
特性曲线,如图2(b)所示。
vdmos名词解释
VDMOS是Vertical Double-diffused Metal-Oxide-Semiconductor的缩写,中文意思为垂直双扩散金属氧化物半导体
器件。
VDMOS是一种常见的功率MOSFET(金属氧化物半导体场效应
晶体管)结构,常用于功率放大器和开关电路中。
它的结构特点是
在P型衬底上沉积N型外延层,并在N型外延层上再沉积P型扩散层,形成N-P-P+的结构。
VDMOS具有低导通电阻、高开关速度和良
好的耐压特性,因此在功率电子器件中得到广泛应用。
从物理结构来看,VDMOS具有垂直结构,电流主要是在垂直方
向上流动,因此具有较大的功率承受能力。
另外,VDMOS的栅极结
构和电荷平衡设计使得其在高频开关应用中具有较好的性能。
此外,VDMOS还具有较好的热特性,能够在高温环境下工作。
总的来说,VDMOS器件因其结构特点和性能优势,在功率电子
领域得到广泛应用,包括电源管理、电动车控制、工业控制等领域。
希望这些信息能够全面回答你的问题。
场效应晶体管工作原理场效应晶体管(Field Effect Transistor,简称FET)是一种主要由三个区域组成的半导体器件,包括源极(Source)、栅极(Gate)和漏极(Drain)。
其工作原理基于栅极电场对导电层的控制作用。
当电源电压施加到源极和漏极之间时,形成了源漏电流路径。
栅极和源极之间的电场会控制漏极-源极电流的大小。
栅极与源极之间电压变化会改变栅极与漏极之间的场强,进而控制漏极-源极电流的大小。
场效应晶体管具有高输入阻抗、低输出阻抗以及较高的电流放大倍数等特点。
在N沟道MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)中,栅极被绝缘层(通常是二氧化硅)所包围,栅极电压通过场效应控制沟道的电导。
沟道中的载流子类型根据FET的构造来确定,例如N沟道MOSFET中沟道是由N型材料形成的,而P沟道MOSFET则是由P型材料形成的。
在P沟道MOSFET中,当栅极电压低于经过正常工作所需的阈值电压时,几乎没有电流通过栅极,沟道阻断,FET处于关闭状态。
当栅极电压高于阈值电压时,正负载流子从源极注入沟道,形成源漏电流,FET处于开启状态。
栅极电压越高,源漏电流越大。
在N沟道MOSFET中,工作原理与P沟道MOSFET相反。
当栅极电压高于阈值电压时,FET关闭,沟道阻断。
当栅极电压低于阈值电压时,正负载流子从源极注入沟道,形成源漏电流,FET处于开启状态。
栅极电压越低,源漏电流越大。
通过控制栅极电压,可以实现对FET的开关功能以及电流放大功能。
场效应晶体管广泛应用于放大电路、数字逻辑电路和功率放大器等领域。
vdmos工作原理
一、VDMOS工作原理
VDMOS(Vertical DMOS)是一种利用沟道垂直结构制作的MOS晶体管。
它是一种通过将半导体晶体管平行式沟道加以垂直化、增强以及重组,以改变晶体管特性的新型晶体管。
因为这种结构可以大大提高晶体管的动态响应特性和偏置控制能力,所以在高频放大中有着重要的应用。
VDMOS晶体管的特性之一是低功耗,因为它没有垂直结构的共振现象,而且平行式沟道的电容受到垂直增强和重组的影响晶体管操作温度范围很广,从-55°C到300°C都能正常工作。
另外,VDMOS晶体管比其他晶体管可以提供更宽的频率范围,从低频到高频,可以有效的满足开关放大需求。
VDMOS晶体管也可以应用于功率放大器或功率放大器中。
它可以提供较大的放大增益,而且具有良好的偏置控制能力。
此外,它在低压下也可以工作,这对电池供电系统很有用。
因此,VDMOS晶体管可以应用于高频放大、功率放大、低压控制、线路缓冲等工程领域。
它可以提供宽动态范围、高频率响应以及较高的效率。
除此之外,它还具有一定的可靠性,可以满足多种应用的要求。
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功率场效应晶体管(MOSFET基本知识功率场效应管(Power MOSFET)也叫电力场效应晶体管,是一种单极型的电压控制器件,不但有自关断能力,而且有驱动功率小,开关速度高、无二次击穿、安全工作区宽等特点。
由于其易于驱动和开关频率可咼达500kHz,特别适于咼频化电力电子装置,如应用于DC/DC变换、开关电源、便携式电子设备、航空航天以及汽车等电子电器设备中。
但因为其电流、热容量小,耐压低,一般只适用于小功率电力电子装置。
一、电力场效应管的结构和工作原理电力场效应晶体管种类和结构有许多种,按导电沟道可分为P沟道和N沟道,同时又有耗尽型和增强型之分。
在电力电子装置中,主要应用N沟道增强型。
电力场效应晶体管导电机理与小功率绝缘栅MOS管相同,但结构有很大区别。
小功率绝缘栅MOS管是一次扩散形成的器件,导电沟道平行于芯片表面,横向导电。
电力场效应晶体管大多采用垂直导电结构,提高了器件的耐电压和耐电流的能力。
按垂直导电结构的不同,又可分为2种:V形槽VVMOSFET和双扩散VDMOSFET。
电力场效应晶体管采用多单元集成结构,一个器件由成千上万个小的MOSFET 组成。
N沟道增强型双扩散电力场效应晶体管一个单元的部面图,如图1(a)所示。
电气符号,如图1(b)所示。
r # /(b)电吒粹号图I Power MOSFET的结构和电气符号电力场效应晶体管有3个端子:漏极D、源极S和栅极G。
当漏极接电源正, 源极接电源负时,栅极和源极之间电压为0,沟道不导电,管子处于截止。
如果在栅极和源极之间加一正向电压UGS,并且使UGS大于或等于管子的开启电压UT,贝U 管子开通,在漏、源极间流过电流ID。
UGS超过UT越大,导电能力越强,漏极电流越大。
二、电力场效应管的静态特性和主要参数Power MOSFET静态特性主要指输出特性和转移特性,与静态特性对应的主要参数有漏极击穿电压、漏极额定电压、漏极额定电流和栅极开启电压等。
半导体器件分立器件–场效应晶体管引言场效应晶体管(Field-Effect Transistor,FET)是一种关键的半导体分立器件,广泛应用于电子电路中。
它具有速度快、功耗低、噪声小等优势,被广泛应用于放大、开关、调节等电路中。
本文将介绍场效应晶体管的基本原理、构造和工作方式,并分析其在电子电路中的应用。
基本原理场效应晶体管是一种三极管,由源极、漏极和栅极构成。
与双极晶体管相比,它不是通过控制一个载流子流向来控制电流,而是通过改变场效应晶体管中的电场来控制载流子的流动。
当在栅极与源极之间施加一个电压,形成栅源电压(VGS)时,栅极下形成一个电场。
这个电场控制了沟道中形成的载流子,从而控制了源极到漏极之间的电流流动。
栅源电压可以正向或反向偏置,栅源电流一般非常小,可以忽略不计。
根据栅源电压的不同,场效应晶体管可以分为三种类型: - N沟道型(N-Channel)FET:当栅源电压为正时,沟道中的电子受到栅源电压的吸引,形成导电通道。
- P沟道型(P-Channel)FET:当栅源电压为负时,沟道中的电洞受到栅源电压的吸引,形成导电通道。
- 绝缘栅型(I-Channel)FET:当栅源电压为零时,晶体管处于阻断状态。
结构与工作方式场效应晶体管通常采用硅材料制造,其结构主要包括源极、漏极、栅极和沟道。
源极和漏极是两个接触电极,被用于连接外部电路。
栅极位于源极和漏极之间,用于控制电流流动。
沟道将源极和漏极连接起来,负责载流子流动。
在工作时,源极和漏极之间施加一个正向偏置电压(VDS)。
栅极与源极之间施加一个电压(VGS),通常为正向或负向偏置。
当VGS为正时,N沟道型场效应晶体管中,栅源电压吸引电子,使其通过沟道流向漏极;在P沟道型场效应晶体管中,栅源电压吸引电洞,使其通过沟道流向漏极。
当VGS为负时,晶体管会进入截止状态。
应用场效应晶体管广泛应用于电子电路中,包括放大电路、开关电路、调整电路等。
以下是场效应晶体管在不同应用中的作用:放大电路场效应晶体管可以用作信号放大的关键元件。
电力电子学中的新型功率器件开发与应用第一章:引言近年来,随着电力电子技术的不断发展,人们对功率器件的需求也越来越高。
传统的功率器件存在着诸多问题,如体积大、效率低、损耗大等。
为了解决这些问题,科学家们在电力电子学领域进行了大量的研究,并取得了一系列新型功率器件的突破性进展。
本文将对几种新型功率器件的开发与应用进行介绍和分析。
第二章:功率金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)MOSFET是一种常用的功率器件,具有开关速度快、体积小、效率高等优点。
近年来,科学家们对MOSFET进行了深入研究,提出了一系列改进措施。
比如,采用了新型材料制作源漏极,提高了MOSFET的承受电流能力;同时,通过优化结构设计,降低了导通压降,提高了整体效率。
这些改进使得MOSFET在电力电子领域的应用更加广泛,如电力转换器、变频器等。
第三章:功率绝缘栅双极晶体管(IGBT)IGBT是一种特殊结构的功率器件,具有晶体管和MOSFET的特点,被广泛应用于交流电源和直流电源的开关状态。
近年来,科学家们在IGBT的制造过程中加入了阳极氧化和金属隧道结等先进技术,使得IGBT的开关速度更快,损耗更小,功率密度更高。
因此,IGBT在工业自动化、电机驱动等领域发挥着重要作用。
第四章:功率射频二极管(RF Power Diode)功率射频二极管是一种专门用于射频功率放大的器件,具有高频特性和功率特性。
在通信设备、雷达系统以及无线电频率限制器中,功率射频二极管被广泛使用。
为了提高射频功率二极管的性能,科学家们不断优化其结构和制造工艺。
例如,采用氮化硅材料制造功率射频二极管,提高了其工作频率和功率密度,大大改善了器件的性能。
第五章:功率场效应晶体管(VDMOS)功率场效应晶体管是一种专门用于高压、高功率应用的器件。
科学家们通过优化VDMOS的结构和工艺,提高了其开关速度和耐压能力。
在电力电子领域,VDMOS广泛应用于直流电源和逆变器等设备中,取得了显著效果。
功率场效应晶体管MOSFET1.概述MOSFET的原意是:MOS(Metal Oxide Semiconductor金属氧化物半导体),FET(Field Effect Transistor场效应晶体管),即以金属层(M)的栅极隔着氧化层(O)利用电场的效应来控制半导体(S)的场效应晶体管。
功率场效应晶体管也分为结型和绝缘栅型,但通常主要指绝缘栅型中的MOS型(Metal Oxide Semiconductor FET),简称功率MOSFET(Power MOSFET)。
结型功率场效应晶体管一般称作静电感应晶体管(Static Induction Transistor——SIT)。
其特点是用栅极电压来控制漏极电流,驱动电路简单,需要的驱动功率小,开关速度快,工作频率高,热稳定性优于GTR,但其电流容量小,耐压低,一般只适用于功率不超过10kW的电力电子装置。
2.功率MOSFET的结构和工作原理功率MOSFET的种类:按导电沟道可分为P沟道和N沟道。
按栅极电压幅值可分为;耗尽型;当栅极电压为零时漏源极之间就存在导电沟道,增强型;对于N(P)沟道器件,栅极电压大于(小于)零时才存在导电沟道,功率MOSFET主要是N沟道增强型。
2.1功率MOSFET的结构功率MOSFET的内部结构和电气符号如图1所示;其导通时只有一种极性的载流子(多子)参与导电,是单极型晶体管。
导电机理与小功率MOS管相同,但结构上有较大区别,小功率MOS管是横向导电器件,功率MOSFET大都采用垂直导电结构,又称为VMOSFET (Vertical MOSFET),大大提高了MOSFET器件的耐压和耐电流能力。
按垂直导电结构的差异,又分为利用V型槽实现垂直导电的VVMOSFET和具有垂直导电双扩散MOS结构的VDMOSFET(Vertical Double-diffused MOSFET),本文主要以VDMOS 器件为例进行讨论。
vdmos工作原理vdmos工作原理 VDMOS(Vertical Double-diffused Metal-Oxide-Semiconductor)是一种功率MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)。
它是一种垂直结构晶体管,具有低导通电阻和高压承受能力,常用于功率放大器和开关应用中。
VDMOS晶体管的工作原理基于MOSFET的原理。
它由多个PN结组成,包括沟道区、漂移区和源/漏区。
在无偏置情况下,当漂移区的电势为正,源区接地时,PN结被反偏。
这时,漂移区的电场将导致沟道区的载流子(电子)向漂移区移动。
由于沟道区的导电性,电子可以通过沟道和源/漏区之间的电场渗透到源/漏区,从而形成漏电流。
这个过程叫做漏电。
沟道的导电性取决于沟道中的载流子浓度和电场强度。
当施加正向偏置时,源/漏结被正向偏置,PN结变为正向偏置。
这使源/漏区的电子浓度增加,并增加源/漏区之间的电流。
这个过程叫做源漏电流。
通过调整源/漏电压,可以控制VDMOS晶体管的导通和断开。
在VDMOS晶体管导通过程中,源/漏区之间形成一个导电通道,电流由漂移区流过,然后从源区流出。
漂移区的高掺杂浓度使导电通道具有低电阻。
由于VDMOS晶体管是垂直结构,漂移区的面积可以比侧向结构更大,从而使其具有更低的导通电阻。
总结来说,VDMOS晶体管的工作原理是通过调整源/漏电压,控制漂移区电场的强弱,从而控制源漏电流。
由于其特殊的垂直结构和高掺杂漂移区,VDMOS晶体管具有较低的导通电阻和较高的压承受能力,适用于需要高功率放大和开关的应用。
大功率VDMOS(200V)的设计研究功率MOS 场效应晶体管是新一代电力电子开关器件,在微电子工艺基础上实现电力设备高功率大电流的要求。
自从垂直导电双扩散VDMOS(VerticalDou-ble-diff used Metal Oxide Semiconductor)新结构诞生以来,电力MOSFET 得到了迅速发展。
本文分别从管芯的静态参数设计方面,介绍了VMDOS(200 V)设计的方法以及仿真的结果,并对流片结果进行了比较。
1 芯片设计1.1 芯片设计思路设计高压的VDMOS 器件,希望得到高的耐压容量,低的特征导通电阻。
降低导通电阻的方法主要是:减薄外延厚度、降低外延层电阻率、增加栅长LG、降低P-body 的结深(xp+wo);而高的耐压容量要求:增加外延层厚度、增加外延电阻率、减小橱长LG,P-body 的结深对耐压的影响取决于P-body 间距的减小和外延耗尽厚度的减薄哪个因素对耐压的影响更大。
高压VDMOS 的静态参数优化设计主要矛盾集中在外延的选择、栅长及P-body 的结深的确定上。
1.2 VDMOS 耐压的设计使半导体器件耐压受到限制的电击穿有雪崩击穿与隧道击穿2 种,隧道击穿主要发生在耐压小于7 V 的低压器件中。
在这里只讨论高压器件所涉及到的雪崩击穿。
计算雪崩击穿的公式:αeff=1.8 乘以10-35E7cm-1式中:E 以V/cm 为单位。
表1 中列出了几种结的击穿电压、最大电场EM 与耗尽层厚度的关系。
表1 中:VBR 的单位V,NB 的单位为cm-3。
NB 对单边突变结代表轻掺杂。
第19卷第11期 半 导 体 学 报 V o l.19,N o.11 1998年11月 CH I N ESE JOU RNAL O F SE M I CONDU CTOR S N ov.,1998 400M Hz250W VDMO S功率场效应晶体管刘英坤 杨增敏 郎秀兰 王占利何玉樟 吕仲志 李 勇 周晓黎(电子部第十三研究所 石家庄 050051)摘要 研制出了在400M H z下连续波输出250W,功率增益10dB的垂直双扩散场效应晶体管(VD2M O SFET).采用M o栅降低串联电阻,400M H z下用共源推挽结构成功地进行了并联工作,在V ds=50V下实现了连续波输出250W,增益10dB,漏极效率60%.EEACC:1220,2560R1 引言近几年来硅功率M O SFET广泛用于各种固体功率系统,如高频功率放大器,信号发生器,高速开关等.这主要是因为作为功率器件M O SFET较双极晶体管相比具有以下优点[1]:(1)漏极电流是负温度系数,热稳定性好、无二次击穿;(2)优良的线性性能;(3)输入阻抗高,电路结构简单;(4)开关速度高.特别是DM O S作为功率器件,因为它具有高的漏源击穿电压,而且不会引起热斑,所以DM O S在高频和大功率方面近几年取得了较大进展,例如,900M H z100W的VDM O S[3], 400M H z100W的VD2M O S(U F28100)[2],2145GH z712W的LDM O S[4]等已有报道.但应用在电子对抗领域的400M H z下输出功率大于200W的DM O S器件,目前国内外尚未见报道,本文报道了我们开发研制的400M H z250W C W10dB增益,漏极效率60%的高性能VDM O S器件.2 器件设计和制造本器件的设计研制难度在于解决高频和大功率这一矛盾.而高频和大功率与器件的结刘英坤 男,1965年出生,硕士,高级工程师,主要从事硅微波功率器件研制杨增敏 男,1944年出生,高级工程师,主要从事硅微波功率器件的测试研究郎秀兰 男,1967年出生,工程师,主要从事硅微波功率器件的研制王占利 男,1972年出生,助工,主要从事硅微波功率器件的测试研究1998204202收到,1998205211定稿构和外延材料的参数选取是分不开的,因此本器件的设计主要从以下几个方面考虑.2.1 功率设计考虑众所周知,器件输出功率P O 与漏极工作电压V ds 和漏极电流I D 成正比,因此提高P O 就需要提高V ds 和I D .提高V ds 就必须提高器件的漏源击穿电压,即提高外延材料电阻率,增加外延层厚度,但这与降低导通电阻相矛盾.所以,通常是在保证V ds 的条件下,尽量提高I D ,根据I D (SA T )=C ox ΛZ (V gs -V th )22L ,式中C ox 为栅电容;Λ为电子迁移率;Z 为栅宽;L 为沟道长度;V gs 为栅源电压;V th 为阈值电压.提高I D 就需要增加总栅宽,缩短沟道长度L ,但L 太短会影响击穿电压,因此提高P O 主要是靠增加总栅宽.2.2 频率设计考虑根据f T =g m 2Π(C gs +C gd ),提高DM O S 器件的工作频率就必须缩短沟道长度,提高跨导g m ,即增大沟道的宽长比,降低栅漏电容C gd ,栅源电容C gs ,以及寄生电容,如引线压柄电容.另外提高频率响应关键的一点是降低栅R C 时间常数.降低C gd 可以采用适当加厚栅氧化层的办法.利用垂直双扩散沟道自对准技术可以减少C gs ,而且还可以有效的控制沟道的长度,采用梳状结构可以最有效的增大沟道的宽长比,有利于高频工作.但在保持L 一定的情况下,栅条的长度增加后,会使栅R C 常数增大,特别是常规多晶硅栅VDM O S [2],由于多晶硅的薄层电阻通常最小可达到208□,而且多晶硅膜较厚,因此硅栅VDM O S 的栅R C 时间常数较大,这就限制了硅栅VDM O S 向高频大功率的发展.对硅栅VDM O S 要保持高频,那么栅条长度就不能设计太长,即总栅宽就不可能太大,因此器件输出功率不可能太大,反之如果提高总栅宽,增大输出功率,那么频率就作不上去.所以,选择较理想的栅电极是制作高频大功率VDM O S 的关键.文献[3,4]报道的采用M oSi 2作为栅电极,来降低栅R C 的时间常数,大大的提高了工作频率,但由于M oSi 2通常是粉末冶金,工艺中易形成粉尘颗粒,因此我们选择了耐高温的难熔金属M o 作为栅电极,而且M o 的电阻率低,工艺上容易实现比多晶硅低1~2个数量级的薄层电阻,有利于降低栅R C 时间常数,所以是比较理想的栅电极材料,由此在频率400M H z ,实现了器件的更大功率输出.图1 VDM O SFET 结构示意图2.3 采用〈100〉晶向N 型外延片,优化选取材料参数基于这些考虑,器件采用梳状结构,常规平面工艺制造,图1示出了单元VDM O S 剖面图,衬底选用〈100〉晶向,N 型硅外延材料,电阻率38・c m ,外延层厚度12Λm ,M o 栅用于减小R C 时间常数.用硼,砷离子注入双扩自对准技术实现115Λm 的沟道长度,梳状结构的栅条长度为140Λm ,芯片最终金属化为A l ,单胞芯片尺寸为116×4195mm 2.3 器件的研制结果图2是单胞VDM O SFET 的I 2V 特性,从图可看出在V ds =15V ,V gs =6V 时,漏极电流I D =6A ,最大跨导g m 是2S ,漏源击穿电压为100V ,以保证器件可工作在V ds为40~50V 之间.图3给出了各电容对漏极电压的关878 半 导 体 学 报 19卷图2 单胞VDM O SFET I 2V特性图3 C iss 、C o ss 和C rss 与V ds 关系V gs =0,f =1M H z 单胞器件系.其中C iss =C gs +C gd ,C rss =C gd ,C o ss =C ds +C gd ,C gs ,C gd ,C ds 分别为器件的栅源电容,栅漏电容,漏源电容.根据图3,由公式f T =g m2Π(C gs +C gd )可得单胞晶体管的截止频率为f T =2156GH z .图4给出了单胞晶体管的输出功率和漏极效率.图5是采用推挽结构,由四胞合成的晶体管输出功率和漏极效率.从图4可看出单胞晶体管在V ds =50V ,输出功率可达80W ,C W ,11dB 增益,65%的效率,采用推挽结构的晶体管输出功率可达250W ,C W ,10dB ,60%的效率.图4 单胞P O 2P in 关系f =400M H z ,V ds =50V.图5 四胞P O 2P in 关系f =400M H z ,V ds =45V .97811期 刘英坤等: 400M H z 250W VDM O S 功率场效应晶体管 088 半 导 体 学 报 19卷4 结论采用M o栅降低R C时间常数,离子注入,垂直双扩散自对准技术,梳状结构,常规平面工艺技术,研制出了高性能的,高频大功率VDM O SFET,在400M H z下,连续波输出功率可达250W,10dB增益,60%的漏极效率.这是目前硅VDM O SFET在400M H z下得到的最高水平.致谢 本文作者感谢中国工程院院士梁春广教授对本项工作的支持并审阅了全文.器件研制过程中,装架工艺的黄杰高级工程师和金属化工艺的周名辉高级工程师曾给予很大的支持和帮助,在此一并表示感谢.参考文献[1] A rthur D.Evans et a l.,E lectronics,1978,June22,105~112.[2] Kazem Sedigh,Jeff M eyer,B ill L eigh ton and Don Feeney,M icrow ave&R F,1985,24(12):138~141.[3] H.E sak i,O.Ish ikaw a,“A900M H z100W VDM O SFET w ith silicide gate self2aligned channel”,IEDM,SanF rancisco,CA.,1984,447~450.[4] O.Ish ikaw a,H.Yam ada and H.E sak i,“A2.45GH z pow er LDM O SFET w ith reduced source inductance by V2groove connecti ons”,IEDM,W ash ington,DC.,1985,166~169.A400M Hz250W Power VDMOSFETL iu Y ingkun,Yang Zengm in,L ang X iu lan,W ang Zhan li,H e Yuzhang,L u Zhongzh i,L i Yong,Zhou X iao li(T he13th Institu te,M in istry of E I,S h ij iaz huang 050051)R eceived2A p ril1998,revised m anuscri p t received11M ay1998Abstract A vertical doub le2diffu sed field2effect tran sisto r(VDM O SFET)that can deliver ou tp u t pow er of250W C W w ith10dB gain at400M H z has been develop ed.M o gate is em2 p loyed fo r reducti on of gate series resistance.Parallel op erati on of the M O SFET has been successfu lly ach ieved to deliver ou tp u t pow er of250W C W w ith10dB gain and60%drain efficiency at V ds=45V and f=400M H z in a comm on sou rce,p u sh2p u ll configu rati on.EEACC:1220,2560R。