菲希尔射线镀层测厚仪的应用——PCB电路板行业

镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是一种用于测量材料表面镀层厚度的仪器。

其工作原理有多种，以下是其中几种常见的原理：1. 磁感应原理：利用磁感应原理测量金属材料的磁导率以及电导率，从而计算出其镀层厚度。

磁感应原理适用于导磁材料，如钢铁、镍等。

2. 涡流原理：涡流原理是通过测量材料表面镀层的电导率来计算其厚度。

当电流通过线圈时，会在材料表面产生涡流，而涡流的分布与材料表面的镀层厚度有关。

涡流原理适用于导电材料，如铜、铝等。

3. 激光干涉原理：利用激光干涉现象测量镀层厚度。

当激光束照射到材料表面时，会与镀层发生干涉，产生干涉条纹。

通过测量干涉条纹的数量和激光波长，可以计算出镀层厚度。

激光干涉原理适用于透明或不导电的镀层，如玻璃、陶瓷等。

4. 放射线原理：利用放射线穿过材料表面镀层后的衰减程度来测量镀层厚度。

不同厚度的镀层对放射线的吸收程度不同，因此可以通过测量放射线的衰减程度来计算镀层厚度。

放射线原理适用于不透明材料，如塑料、橡胶等。

5. 电化学原理：电化学原理是通过测量材料表面的电化学性质来计算其镀层厚度。

通过在材料表面施加一定的电位或电流，可以测量出镀层的电化学性质，从而计算出其厚度。

电化学原理适用于电化学性质不同的镀层材料。

6. 超声波原理：利用超声波在材料表面和镀层之间的反射和传播特性来测量镀层厚度。

超声波在不同介质中的传播速度不同，因此可以通过测量超声波在材料表面和镀层之间的传播时间来计算镀层厚度。

超声波原理适用于导声材料，如金属、玻璃等。

7. X射线原理：利用X射线在不同物质中的吸收和散射特性来测量镀层厚度。

X射线通过材料表面时，会被不同厚度的镀层吸收和散射，因此可以通过测量X射线的吸收和散射程度来计算镀层厚度。

X射线原理适用于高密度的镀层材料，如金属等。

这些工作原理可以相互组合，以提高测量的精度和适应性。

使用镀层测厚仪时，需要根据不同的材料和测量要求选择适合的测量方法和工作原理。

菲希尔测厚仪Fischer MPO信息
德国菲希尔DUALSCOPE MPO特点
仪器集成了探头，便于操作
出色的重复精度
受基材透磁率、电导率和几何形状（曲率和厚度等）影响小
享有电导率补偿技术（电涡流方法）
快速的单手操作：将仪器放置于工件上即可看到测量读数
两个背光液晶显示屏，便于从各个角度读取测量值，甚可从仪器顶部读取读数
耐用的探头和坚固的外壳
记录测量值时可以发出声音和视觉的信号
德国菲希尔测厚仪Fischer MPO技术参数
菲希尔测厚仪量程： 0～2000μm
菲希尔涂层测厚仪精度：±1.5μm（0～75μm），±2%（75μm～1000μm），小于3%（1000μm～ 2000μm）
重复精度：小于0.5μm（0～50μm），小于0.5%（50-2000μm）
测量面积：测量面积为直径φ4mm
数据存储：999组
间隔测试时间：2秒
功耗：0.2W
环境温度：5-40度
重量： 85g（不含电池）
外形尺寸： 64mm×30m×85mm 电源：两节5号电池
精品资料欢迎下载。

镀层测厚仪原理镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器，它在工业生产中扮演着非常重要的角色。

镀层测厚仪的原理是通过不同的物理原理来实现测量，下面我们将详细介绍镀层测厚仪的原理。

首先，我们需要了解的是镀层测厚仪的工作原理。

镀层测厚仪主要利用了磁性感应原理和涡流原理。

在测量金属表面镀层厚度时，镀层测厚仪会产生一个磁场，并通过测量磁场的变化来确定镀层的厚度。

当金属表面有镀层时，磁场的传感器会受到影响，从而产生一个信号。

通过对这个信号进行分析，就可以确定镀层的厚度。

其次，镀层测厚仪还可以利用涡流原理来进行测量。

涡流原理是指当金属表面有导电性材料时，通过交变磁场的作用会在金属中产生涡流。

镀层测厚仪会利用涡流的衰减程度来确定镀层的厚度。

通过测量涡流的频率和振幅的变化，就可以准确地测量出镀层的厚度。

除了磁性感应原理和涡流原理，镀层测厚仪还可以利用射线透射原理来进行测量。

射线透射原理是利用射线在不同材料中的透射率不同来测量材料的厚度。

镀层测厚仪会通过发射射线，并测量射线透过材料后的强度变化，从而确定镀层的厚度。

在实际应用中，镀层测厚仪的原理可以根据不同的测量要求来进行选择。

例如，在测量较薄的镀层时，可以选择利用磁性感应原理和涡流原理进行测量；而在测量较厚的镀层时，可以选择利用射线透射原理进行测量。

通过灵活运用不同的原理，可以满足不同厚度镀层的测量需求。

总的来说，镀层测厚仪的原理主要包括磁性感应原理、涡流原理和射线透射原理。

通过这些原理的灵活运用，可以准确、快速地测量金属表面镀层的厚度，为工业生产提供了重要的技术支持。

希望本文对镀层测厚仪的原理有所帮助，谢谢阅读。

fischer镀铜仪测量原理
Fischer镀铜仪的测量原理基于X射线反射。

当X射线照射在样品上时，它会从样品上反射出来，通过测量反射出来的X射线的强度，可以确定镀层等金属薄膜的厚度。

这种方法的特点是不会对样品造成损坏，且测量可以在很短的时间内完成。

Fischer镀铜仪主要有磁感应镀层测厚仪、电涡流镀层测厚仪和荧光X射线
仪镀层测厚仪。

具体测量方法会因不同的类型而异，如磁性测厚法是通过利用测头经过非铁磁覆层流入铁磁基体的磁通大小来测定覆层厚度，而二次荧光法的测厚仪则是通过测量被释放出来的荧光的能量及强度来进行定性和定量分析。

以上信息仅供参考，如需了解更多信息，建议查阅相关文献或咨询专业人士。

Fischer Xulm系列荧光涂层厚度表的工作原理基于荧光现象。

当一种材料被X射线或紫外线等高能辐射轰炸时，它可以吸收这种能量，然
后以可见光的形式在较低的能量水平上重新产生。

这个过程被称为荧光，是Xulm系列仪表操作的基础。

Xulm系列仪表包含辐射源，辐射源向被测量材料的表面发射高能辐射。

当这种辐射与材料中的原子相互作用时，会使它们变得兴奋并发出荧光。

测量仪检测到这种荧光光，并利用它来确定材料上的涂层厚度。

测量过程是基于荧光光的强度与涂层厚度直接成比例的原则。

通过测
量荧光光的强度，Xulm系列仪表能够准确测定涂层的厚度，为质量控制和检查提供了无损和高度精确的方法。

Xulm系列仪表的主要优点之一是能够测量包括金属、塑料和复合材料在内的各种材料的涂层厚度。

这使得它成为从汽车制造到航空航天工
程等各种工业应用的多功能工具。

除了其多面性外，Xulm系列仪表也以其高度精度而闻名。

其精度可
达0。

1微米的涂层厚度测量能力使其成为确保涂层符合规定规格和标准的宝贵工具。

航空航天工业是Xulm系列仪表在现实世界应用中使用的一个例子。

在飞机部件的制造中，必须确保涂层适用于正确的厚度，以便提供必
要的防腐蚀和防磨。

通过使用Xulm系列仪表，制造商可以准确测量各种材料上的涂层厚度，帮助确保飞机部件的安全性和可靠性。

Fischer Xulm系列荧光涂层厚度表的工作原理是基于荧光现象，使得能够准确和无损地测量各种材料的涂层厚度。

其多面性和高精度使它成为各种工业应用的宝贵工具，有助于确保涂层材料的质量和性能。

菲希尔膜厚仪使用说明菲希尔膜厚仪使用说明菲希尔膜厚仪是一种可以测量薄膜厚度及其性质的仪器。

在科学研究和工业生产中，薄膜的厚度是一个重要的参数。

对薄膜的厚度掌握得越准确，对薄膜的研究和应用就越深入。

因此，菲希尔膜厚仪的使用非常重要。

本文将介绍菲希尔膜厚仪的使用说明。

菲希尔膜厚仪的使用步骤如下：第一步：准备工作1. 将菲希尔膜厚仪取出，安置于平稳的工作台上，在使用时要确保仪器平稳。

2. 打开菲希尔膜厚仪主机，通电开机。

待仪器岛证运行正常后，进行参数设置。

第二步：参数设置1. 通过菲希尔膜厚仪的显示屏进入参数设置界面。

2. 设置大气压和温度，正确输入目标材料的基础参数。

3. 设置测试条件，包括目标材料和膜层厚度的测量范围等。

4. 设置测量方式，菲希尔膜厚仪有多种测量方式可供选择。

第三步：样品测量1. 准备好样品，并将其固定在菲希尔膜厚仪测试台上。

2. 将测试头缓慢地移向样品，直到测试头与样品表面产生接触。

3. 菲希尔膜厚仪可以选择单点扫描测量或连续扫描测量，根据需要进行选择。

4. 单点扫描测量时，测试头会停留在样品的特定位置进行测量。

连续扫描测量时，测试头会连续扫描样品表面进行测量。

第四步：数据处理和分析1. 测量完成后，菲希尔膜厚仪会自动计算出被测薄膜的厚度数据，并在显示屏上显示出来。

2. 测量结果可以通过连接电脑进行数据处理和分析。

3. 菲希尔膜厚仪可以进行多种参数的设置和数据处理，包括均值、标准差、相关系数等。

4. 通过数据处理和分析，可以得到更全面、更准确的样品性质和特征。

注意事项：1. 使用菲希尔膜厚仪时，要注意自身身体卫生。

应当佩戴防护手套和口罩等防护用品。

2. 菲希尔膜厚仪应当放置在干燥通风的地方，避免受潮和腐蚀。

3. 应当按照说明书中的要求正确使用菲希尔膜厚仪，避免使用不当导致仪器损坏。

总之，菲希尔膜厚仪是一种先进的测量仪器，在科学研究和工业生产中起到非常重要的作用。

正确使用菲希尔膜厚仪，可以得到更准确的样品参数数据，为薄膜研究和应用提供有力的支持。

High & New Technology︱28︱2017年7期X 射线光谱法测量镀层厚度的适用范围的研究石鹏远中国电子科技集团公司第十三研究所，河北 石家庄 050051摘要：镀层厚度对微电子封装外壳的可靠性具有重要影响。

分析了X 镀层测厚的原理以及单一镀层测量的饱和厚度。

通过工艺实验总结出了双层镀层厚度测量的基线范围。

关键词：微电子封装外壳；镀层厚度；X 射线；测量极限；中图分类号：TL271+.4 文献标识码：B 文章编号：1006-8465（2017）07-0028-02前言 微电子封装外壳镀层厚度对外壳的性能有重要影响。

镀层厚度不足，会影响外壳的耐腐蚀性能，容易造成产品后续使用过程中失效；若镀层厚度过厚，引线的疲劳强度下降，造成外壳引脚断裂。

因此，目前微电子封装外壳的国军标中对外壳的镀层厚度有明确的要求。

测量方法主要有横断面显微镜法、称量法、阳极溶解库伦法、X 射线光谱法和β反向库伦法。

其中X 射线光谱法以其方便、快捷且无损的特点在微电子封装外壳镀层测厚中有广泛的应用。

目前，在实际使用过程中，微电子封装外壳镀层测试过程中，随着镀层厚度的增加，测试数据逐渐波动较大，对X 射线测厚的极限进行了探究。

1 X 射线测厚原理 X 射线光谱法的基本原理是：多色X 射线与试样互相作用，产生了不同波长的具有镀覆层元素和基本元素特征的二次辐射。

在饱和厚度范围内，镀覆层厚度与二次辐射强度存在着函数关系，利用已知镀覆层厚度的标准样品，即可求得二次辐射强度与厚度之间的定量关系。

图1 X 射线光谱法原理示意图对于裸基体，这种镀覆层二次辐射的强度最小，仅有一些散射辐射构成；对于纯镀覆层金属试样或者是镀覆层厚度大于饱和厚度的试样，在给定条件下，这一辐射的强度最大；对于镀覆层厚度小于饱和厚度的试样，这一辐射强度将为中间值。

X 射线的二次辐射的强度，取决于启发能、镀覆层和基体金属的原子序数、受一次射线照射的面积以及镀覆层的厚度。

菲希尔膜厚仪原理1. 引言菲希尔膜厚仪（Fizeau Interferometer）是一种用于测量薄膜厚度的仪器。

它基于干涉原理，通过观察干涉条纹的变化来确定薄膜的厚度。

本文将详细介绍菲希尔膜厚仪的基本原理及相关概念。

2. 干涉原理在了解菲希尔膜厚仪的原理之前，先了解一下干涉原理是什么。

干涉是指两个或多个波源发出的光波相互叠加形成干涉图样的现象。

干涉图样可以是明暗相间的条纹，也可以是彩色的光环。

干涉现象的产生是由于光的波动性质，光波在传播过程中会受到相位差的影响。

当两个光波相遇时，如果它们的相位差为整数倍的波长，就会出现干涉增强的现象；而如果相位差为半波长的奇数倍，就会出现干涉抵消的现象。

3. 菲希尔膜厚仪原理菲希尔膜厚仪利用干涉原理来测量薄膜的厚度。

其基本原理如下：3.1 光源菲希尔膜厚仪通常使用单色光源，例如激光器。

单色光源可以使得干涉图样更加清晰，方便观察和测量。

3.2 分束器菲希尔膜厚仪中的分束器将光源发出的光波分成两束，分别称为参考光和样品光。

3.3 参考光参考光是从分束器中分出的一束光，经过反射镜反射后与样品光进行干涉。

参考光的路径长度是固定的，用来作为参照物来测量样品光的相位差。

3.4 样品光样品光是从分束器中分出的另一束光，经过样品后与参考光进行干涉。

样品光的路径长度会受到样品的厚度影响，从而产生相位差。

3.5 干涉条纹当参考光和样品光相互干涉时，会形成干涉条纹。

干涉条纹的形状和密度与样品的厚度有关。

通过观察干涉条纹的变化，可以推算出样品的厚度。

3.6 干涉条纹的解析为了更好地观察和测量干涉条纹，菲希尔膜厚仪通常会使用干涉图样的解析方法，例如白光干涉或相位移干涉。

3.6.1 白光干涉白光干涉是指使用宽光谱的白光作为光源，通过分散元件（例如棱镜）将不同波长的光分离出来，形成彩色的干涉图样。

通过观察不同波长的干涉条纹，可以得到样品的厚度信息。

3.6.2 相位移干涉相位移干涉是指通过改变样品或参考光的相位来观察干涉条纹的变化。

德国菲希尔测厚仪使用说明书
德国菲希尔测厚仪是一种高精度测量设备，它广泛应用于各种工业、研究和检测领域。

使用它需要掌握一定的技术知识和操作方法，
下面对其使用进行详细介绍。

步骤一：仪器准备
首先需要将德国菲希尔测厚仪取出来，并仔细检查是否有明显的损坏。

然后打开仪器盖，安装所需的电池。

根据使用要求，选择合适的测量
头和测量模式，并将其插入到仪器上。

最后，按照说明书的要求进行
仪器的初始设置和校准。

步骤二：样品测量
将需要测量厚度的样品放置于仪器支架上，保证样品表面完好无损。

打开仪器开关，将测量头沿着样品表面快速滑动，记录下厚度数据。

需要注意的是，为了保证测量精度，应该进行多次测量，取平均数作
为最终结果。

步骤三：数据处理
将测得的厚度数据整理起来，可以利用计算机等工具进行进一步的处
理和分析。

此外，需要注意保持数据记录的完整性和准确性，以便在
后续的使用和比较中进行有意义的参考。

需要特别注意的是，德国菲希尔测厚仪的使用过程中应该严格遵
守说明书的要求和安全规定，保证使用过程中的安全和稳定性。

如果
有任何使用问题或者故障情况，应该立即停止使用，并向相应的服务
机构求助。

总的来说，德国菲希尔测厚仪是一种高精度的测量设备，使用相
对复杂，需要掌握一定的技术知识和操作方法。

只有在正确的使用和
维护下，才能够发挥其优越的测量效果和长期的使用寿命。

镀层测厚仪原理
镀层测厚仪是一种用于测量金属、非金属或合金的薄膜或涂层厚度的仪器。

该仪器基于射线透射原理进行测量，主要包括以下原理：
1. 射线透射原理：镀层测厚仪利用射线（如X射线或γ射线）通过被测物体，并根据射线透射的强度来测量镀层的厚度。

射线通过镀层和基底材料时会发生不同程度的衰减，通过测量透射射线的强度变化来推算出镀层的厚度。

2. 衬底材料的吸收常数：不同的金属或合金在特定射线下，其吸收射线的能力是各不相同的。

镀层测厚仪通过测量射线透射的强度变化，结合不同材料的吸收常数，可以确定镀层的厚度。

3. 标准曲线法：镀层测厚仪通常需要先制备一系列标准样品，这些样品具有已知厚度的镀层。

通过测量这些样品的射线透射强度，并建立标准曲线，可以根据待测样品的射线透射强度确定其镀层的厚度。

4. 反射率法：镀层测厚仪也可以通过测量射线的反射率来推算镀层的厚度。

镀层的厚度与射线的反射率之间存在一定的关系，通过测量反射射线的强度变化并结合已知的反射率-厚度曲线，可以确定镀层的厚度。

综上所述，镀层测厚仪利用射线透射原理、吸收常数、标准曲线法以及反射率法来测量镀层的厚度，为表面涂层的质量控制提供了有效的手段。

菲希尔库伦法测厚仪安全操作及保养规程菲希尔库伦法测厚仪是一种用于测量磁性和非磁性材料厚度的工具。

正确的使用和保养可保证其精准性和使用寿命。

本文将介绍菲希尔库伦法测厚仪的安全操作和保养规程。

安全操作1. 戴防护手套操作时，戴上防护手套，避免手指被磁力吸引，或者受到测量杆的夹击。

2. 注意电池的使用使用前，请检查电池的电量是否充足，并安装正确。

电池已经过期或损坏时，需及时更换。

3. 禁止在易燃和易爆场所中使用禁止在易燃和易爆场所中使用该测厚仪，避免引起危险。

4. 避免磁场干扰菲希尔库伦法测厚仪是一种磁力探头测厚仪，需要离被测量物体一定距离内进行检测。

在测量过程中，应避免电池、手机或其他铁质物品靠近或接近。

5. 正确悬挂便于测量的物体物体必须牢固地悬挂在配备的吊钩上，以确保测量结果的准确性。

同时，物体也需要垂直地悬挂在吊钩上，以避免测量角度对测量结果的影响。

6. 测量前的表面准备被测量的表面应该干燥、整洁、光滑和均匀，避免油污、腐蚀物和凹凸不平等影响测量结果。

如果发现污渍，应先清洁。

如果表面粗糙，可以使用砂纸或其他材料打磨。

7. 注意测量范围在测量前，应首先了解测厚仪的测量范围。

如果被测物体超出了最大允许范围，将可能导致设备损坏甚至危险。

8. 保持测量头的正常使用在使用过程中，建议不要使用太大力气推压测量头，避免产生不必要的损伤。

9. 远离磁性物体测量过程中，要避免与磁性物体接触，避免干扰测量数据。

10. 注意使用温度和湿度菲希尔库伦法测厚仪的温度范围是-10℃50℃，湿度范围是0%90%。

在操作前，要确保室内温度和湿度相对稳定，以免影响测量结果。

保养规程1. 定期校准定期校准可确保测厚仪的精确性。

建议每六个月进行校准，或依据实际使用情况定期定时校准。

2. 定期检查传感器测厚仪使用过程中，定期检查传感器是否无损坏，并清洁传感器上的污渍。

3. 使用后干燥在使用测厚仪后，应将测量头擦拭干净，并保持干燥，以避免积水和腐蚀。

[供应]OSP膜厚测量仪（无损测量）(图)发布更新日期：20XX-9-13 该信息获得共获得0评价发布者：深圳市鼎极天电子有限公司共有 1 张图片 1/1运用光学原理精确测量OSP膜厚度OSP膜厚测试& 质量分析OSPrey800仪器利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。

无需准备样品，可实时检测实际产品上的OSP镀层度。

OSPrey800仪器在检测过程中不会对PCB/PWB板产生不利影响。

通过进行PCB/PWB上OSP镀层厚度的定量、完整性、可靠性及膜层形态的细致分析，进而检验OSP镀层的应用可靠性。

检测可在OSP镀层的生命周期的不同阶段进行，使用户可以通过监控OSP镀层形成和储藏过程中产生的不良变化对工艺进行必要的调整。

例如，可以在PCB/PWB生命周期的不同阶段检测OSP镀层的厚度以预测在后续的工艺过程中由于OSP镀层的可焊性变化而对工艺产生的影响。

-----------------------------------------------------------产品特色:无损实时检测不再使用检验铜箔，无需样品制备超小检测点二维图象分析功能可在粗糙表面测量OSP镀层厚度人性化操作流程设计[供应]铜箔抗剥离强度测量仪(图)发布更新日期：20XX-9-13 该信息获得共获得0评价发布者：深圳市鼎极天电子有限公司共有 1 张图片 1/1PST-R 系列铜箔抗剥离强度测试仪Peel Strength TesterPST-R系列铜箔抗剥离强度测试仪按IPC-TM-650试验方法手册中的2.4.8设计制造，配备优质力表，专业用于覆铜层压板和印制线路板工业的实验室中测量刚性板上铜箔的抗剥离强度。

PST-R Serial Copper Foil Peel Strength Testers are designed and made in accordance with IPC-TM-650 testing method 2.4.8. All units are equipped with quality force gage. The testers used for laboratories in Laminate and PCB industries for testing copper foil peel strength of rigid laminates.PST-R系列铜箔抗剥离强度测试仪规范● 专业用于测量刚性覆铜板上的铜箔抗剥离强度，配备刚性试样夹具小台车。

菲希尔测厚仪安全操作及保养规程1. 前言菲希尔测厚仪（以下简称测厚仪）是一款广泛应用于工业领域的测量仪器，可用于测量金属、非金属和复合材料的厚度，具有高精度、高灵敏度、高可靠性等特点。

然而，错误的使用和保养会导致仪器损坏甚至危及使用者的安全。

因此，本文档将详细介绍测厚仪的安全操作和保养规程，以确保使用者的安全和仪器的长期稳定运行。

2. 安全操作规程2.1 装载和使用1.在使用测厚仪前，仔细阅读使用说明书，确保已掌握使用方法和注意事项。

2.使用前应检查测厚仪外部是否有损坏，是否有异物进入仪器内部。

若发现问题应及时联系维修人员。

3.装载电池时，应按照说明书上的要求正确安装电池，确保极性正确。

同时，不要使用不同品牌或型号的电池混合使用。

4.在使用测厚仪前，应确保环境和待测工件的表面干燥、清洁，以保证测量值的准确性。

5.使用测厚仪时，应认真根据使用说明书上的操作步骤进行操作，切勿随意更改或省略细节步骤。

6.在测量过程中，应将测厚仪轻轻贴紧被测物体表面，轻按测量键，待数值稳定再记录测量值。

不要使用过大的力气按压或抖动测厚仪。

7.使用完毕后，应关闭测厚仪电源，取出电池并妥善存放。

2.2 维护保养1.测厚仪在使用过程中，应注意防止与尖锐物品和化学品等接触，以免损坏灵敏的探头和元器件。

2.使用后，应及时将测厚仪表面和探头清洁干净，并将其存放在防尘、防潮的地方。

不要将测厚仪直接暴露在阳光或高温环境下。

3.定期（如每六个月一次）进行校正和维护，以保证测量值的准确性和稳定性。

若测厚仪显示异常或出现故障，应及时联系修理人员进行维修。

4.不要随意更换或拆卸测厚仪内部的零部件和元器件，以免损坏仪器或降低测量精度。

5.测厚仪应定期接地，确保使用安全。

3. 结语测厚仪的安全操作和保养对使用者的安全和测量结果的准确性都非常重要。

因此，使用测厚仪前务必要认真阅读说明书，严格按照规程操作和保养，定期维护和校准，以确保长期稳定的运行和准确的测量结果。

菲希尔射线荧光测厚仪安全操作及保养规程1. 引言菲希尔射线荧光测厚仪是一种常用于测量材料厚度的仪器。

为确保操作过程的安全，并增加仪器的使用寿命，本文档列出了菲希尔射线荧光测厚仪的安全操作和保养规程。

2. 安全操作规程2.1 仪器操作1.在进行任何操作之前，请仔细阅读并理解菲希尔射线荧光测厚仪的用户手册，并遵循其中的操作步骤。

2.在操作射线荧光测厚仪时，请佩戴个人防护设备，包括安全眼镜、手套和实验服等。

3.在操作过程中，请确保工作区域干净整洁，以防止仪器被污染或损坏。

4.在操作过程中，请确保周围人员了解射线荧光测厚仪的辐射风险，并保持适当的距离。

5.当仪器出现任何异常情况时，请立即停止使用，并联系专业维修人员进行检查和维修。

2.2 射线安全1.使用菲希尔射线荧光测厚仪时，请遵守当地相关的辐射安全法规和指南。

2.在操作仪器时，请确保射线束不直接照射到人体或动物身上。

3.在测量过程中，尽量减少辐射时间，以降低辐射暴露的风险。

4.使用射线荧光测厚仪时，请定期检查射线束的曝光情况，并确保其符合标准。

2.3 处理样品1.在操作过程中，请注意样品的安全性和稳定性，以防止样品移动或倾斜导致的伤害或数据失真。

2.使用适当的夹具或支架来固定样品，并确保样品与射线仪的传感器之间保持适当的间距。

3.如果需要移动或调整样品位置，请先切断射线源，以确保操作安全。

3. 保养规程3.1 日常保养1.在使用菲希尔射线荧光测厚仪之前和之后，请务必将仪器清洁干净，以去除尘埃和污垢。

2.使用干净柔软的布进行清洁，避免使用化学溶剂或刺激性清洁剂，以避免损坏仪器表面。

3.定期检查仪器的电缆、连接口和附件是否完好无损，如有损坏或松动，请及时更换或修复。

3.2 定期校准1.菲希尔射线荧光测厚仪的准确性和稳定性依赖于定期校准。

请按照用户手册中的指导进行定期校准。

2.如果发现仪器的测量结果存在偏差或不稳定，请立即联系专业维修人员进行校准和维修。

3.3 仪器存储1.当不使用菲希尔射线荧光测厚仪时，请将其存放在干燥、通风和无尘的环境中。

关于X射线荧光镀层测厚仪产品的应用阐述
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。

用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。

其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。

对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。

在进行测量时，X 射线管产生的高能量x射线通过光圈聚集，并照射在样品非常小的区域（该区域的大小为光斑尺寸）。

这些X射线与光斑内元素的原子相互作用。

XRF镀层测厚仪相机帮助用户准确定位测量区域。

某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以准确定位需要测量的区域。

样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样品台上。

快速或慢速移动对于找到测试位置很重要，随后聚焦于准确的区域进行测量。

工作台移动的精准度是带来测试定位准确的一个因素，并进提升仪器的整体准确度。

特点：
适应性设计，可对各种产品进行可靠分析
自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
多准直器设计为每个样品提供高准确性
选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
光学分析单层和多层镀层，包括合金层
简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果。

菲希尔荧光射线测厚仪安全操作及保养规程1. 引言菲希尔荧光射线测厚仪是一种常用的非破坏性测厚仪器，广泛应用于工业领域中对各类金属、合金、塑料等材料的厚度测量。

为了保证测量的准确性和操作的安全性，本文将详细介绍菲希尔荧光射线测厚仪的安全操作方法及保养规程。

2. 安全操作规程2.1 仪器使用前准备在使用菲希尔荧光射线测厚仪之前，务必进行以下准备工作：1.仔细阅读并理解仪器的操作手册，熟悉仪器各部件的功能和使用方法。

2.确保工作环境安全：清理测量区域，确保平整无障碍物，避免工具、材料等杂物干扰测量结果。

3.检查仪器的电池电量，确保充足的电力供应，以免影响测量结果或造成仪器故障。

2.2 正确操作菲希尔荧光射线测厚仪在使用菲希尔荧光射线测厚仪时，应按照以下步骤进行操作：1.打开仪器电源开关，并根据仪器显示屏上的提示选择合适的测量模式。

2.将测量探头紧贴待测物体表面，确保探头与表面接触良好，并避免出现气泡或污渍影响测量准确性。

3.按下测量按钮开始测量，保持探头与待测物体表面保持稳定的接触状态，直到测量结果稳定在显示屏上。

4.记录测量结果并及时清除探头上可能残留的污渍，以便下一次测量。

5.完成测量后，及时关闭仪器电源开关，并将仪器妥善存放，避免不必要的损坏。

2.3 安全注意事项在使用菲希尔荧光射线测厚仪时，需要注意以下安全事项：1.避免长时间连续测量，以防止仪器过热和电池损耗。

2.在测量过程中，不要将探头用力捏压或摇晃，以免影响测量准确性。

3.避免使用菲希尔荧光射线测厚仪进行测量时，直接暴露在强烈的光线源下，以免影响测量结果。

4.当仪器出现异常情况或故障时，应及时停止使用并联系专业维修人员进行修理。

3. 保养规程为了保证菲希尔荧光射线测厚仪的正常运行和使用寿命，需要进行定期的保养和维护。

以下是保养规程的主要内容：1.仪器保养前，应将电源开关关闭，并取出电池以防止电池漏液。

2.清洁探头：使用干净的软布或棉花蘸取少量去离子水轻轻擦拭探头表面的污渍，切勿使用有腐蚀性的溶剂或刷子。

镀层测厚仪的工作原理及优点介绍摘要本文将介绍镀层测厚仪的工作原理和优点。

镀层测厚仪是一种用于对涂层或表面镀层进行测量的仪器。

它可以通过简单的操作测量出涂层的厚度，可以用于检测基材表面镀层的尺寸和厚度。

使用这种仪器可以为生产和质量控制提供重要的信息，从而提高产品质量和生产效率。

工作原理镀层测厚仪采用非破坏性测试技术，它通过使用无损探测方法快速测量涂层的厚度。

它可以用于各种涂层类型，如漆、铬、铜、锡、金、银、锌等，并可测量涂层与基材之间的粘结强度。

镀层测厚仪包含一个光学探测器和一个电子探测器。

光学探测器将光发射到被测曲面上，测量的对象物体内的某一点对其发出的反射信号进行采样，并将这些采样数据发送到电子探测器进行处理。

电子探测器用于获取采样数据并将其转换为一个数字信号，该数字信号经过处理后可用于计算涂层厚度。

优点镀层测厚仪的优点如下：1. 非破坏性测试由于测量涂层厚度的方法是非破坏性的，因此可以不影响涂层本身和基材。

这意味着即使进行重复测量，样品也不会受到任何损害。

2. 快速测量镀层测厚仪可以快速准确地测量涂层的厚度，因此可以节省大量的时间和精力，提高生产效率。

3. 应用广泛镀层测厚仪可以测量各种不同类型的涂层，包括漆、铬、铜、锡、金、银、锌等等，因此可以应用于不同的行业和领域。

4. 时间和成本节约使用镀层测厚仪可以减少二次加工，并且可以提前发现生产过程中的缺陷，节约时间和成本。

结论镀层测厚仪是一种高效、准确且非破坏性的测试仪器，它可以为生产和质量控制提供重要的信息，从而提高产品质量和生产效率。

在各种行业和领域，镀层测厚仪得到了广泛的应用。

菲希尔测厚仪磁感应方法
菲希尔测厚仪磁感应方法
物理原理及主要影响因素
用磁感应法可以无损地测量涂层厚度。

前提是铁磁性的基材，例如钢或铁。

另一方面，涂层必须是非磁性的。

因此，该方法适用于测量锌和铬等镀层以及油漆层和塑料层。

测量原理
用于磁感应法测量的探头由一个铁芯和围绕它的励磁线圈组成。

低频交流电流过这个线圈（通常在赫兹范围内）。

这会在铁芯的磁极周围产生一个交变磁场。

现在，当探针的磁极接近一个可磁化的材料时，例如靠近一个由铁制样品时，铁材会加强交变磁场。

测量线圈会将这种磁场的增加记录为电压。

而电压的变化量取决于磁极和铁材之间的距离。

对于涂层样品，这个距离就对应了涂层的厚度。

电磁感应法
根据DIN、EN、ISO2178,ASTM B499标准的电磁感应方法，适用于测量：
非铁金属镀层（例如：铬，铜，锌等）在钢和铁上；
油漆，合成涂层和腊克（Lacquer）在钢和铁上。

电涡流感应法
根据DIN、EN、ISO2360、ASTM B244标准的电涡流方法，适用于测量：
非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。

铝的阳极氧化层（非铁基材）。

一个特殊的应用就是测量铜上的薄铬层厚度。

出差学习报告2013-4-12应菲希尔邀请，到菲希尔仪器有限公司进行免费培训一天。

主要培训课程内容如下：第一部分：仪器性能和技术参数介绍第二部分：X射线测厚仪内部结构，基本原理及电脑软件操作第三部分：操作中注意事项针对以上每个部分内容具体阐述如下：第一部分：仪器性能和技术参数介绍1.1)仪器性能：主要用于测量涂镀层厚度及成份，分析合金成分，测量镀液主盐离子浓度。

因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验的样品。

仪器放置应特别注意与存在电磁的场合隔离开来，房间温度最好控制在20 + /-5℃。

相对湿度控制在40~60%为宜。

平时经常开启空调除湿功能。

1.2)技术参数介绍、测试台左方测试台右方测试台正面第二部分：X射线测厚仪内部结构，基本原理及电脑软件操作2.1)X射线仪器内部——比例接收器：是一种用气体工作介质，输出信号的脉冲幅度与入射辐射的能量成正的探测器，可以对单个粒子进行计数。

通常采用圆筒形的结构，中间是一根细丝，与电源正极相连，圆筒外壳与负极相连，中间形成一个非均匀电场，并且充有惰性气体。

2.2)基本原理：膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是粒子入射后与筒内气体的原子发生碰撞，使其电离。

在电场作用下，电子向中心阳极丝运动，正离子则以比电子慢得多的速度向阴极筒壁运动。

电子在运动过程中受到电场的加速，促使更多的原子电离，这些原子电离产生的次级电子又会加速导致更多的次级电离。

电子越接近阳极，电场越强，电离的可能性越大，这种电离不断增值的过程叫做电子雪崩过程。

最终能够在阳极丝得到较大的脉冲幅度。

在计数管的工作电压一定时，正比计数管所产生的电脉冲值与被吸收的光子能量呈正比。

来进行定性和定量分析，精度可以达到0.01um2.3)电脑软件操作(1)开关机的顺序，开机时先开电源，再开高压钥匙，最后开电脑软件；关机时先关软件，其次关高压钥匙，最后关电源。

(2)预热30分钟后进行测量基准，建议每天开机后都不需做一次。

电路板涂层厚度的测试方法
电路板涂层厚度的测试方法一般采用非接触式测试方法，常用的测试方法有以下几种：
1. X射线荧光法：使用X射线荧光分析仪，通过测量测试样品的荧光光谱来确定涂层厚度。

该方法测试精度高，但需要专业的仪器和技术。

2. 磁感应法：利用涂层材料对磁场的散磁性质，通过测量磁场的变化来确定涂层厚度。

该方法适用于金属涂层的测试，但对非金属涂层不适用。

3. 感应法：利用高频感应电流在涂层和基材之间的感应作用，通过测量涂层对感应电压的阻抗来确定涂层厚度。

该方法适用于非金属涂层的测试，但对金属涂层不适用。

4. 激光扫描法：利用激光扫描涂层表面，通过测量激光反射的强度来确定涂层厚度。

该方法测试速度快，但对涂层表面的平整度要求较高。

在进行电路板涂层厚度测试时，需要根据具体情况选择合适的测试方法，并严格遵守测试方法和操作规程，以确保测试结果的准确性和可靠性。

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