单晶生长原理
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单晶材料的生长及应用单晶材料是一种高纯度、高质量的材料,由于其结晶形态独特,因此在材料研究、电子设备、光学装置、传感器等领域有着广泛的应用。
本文将从单晶材料的生长及其应用两个方面进行论述。
一、单晶材料的生长单晶材料的生长是制备高纯度、高质量单晶的重要步骤。
通常采用质晶生长法、气相生长法、液相生长法、熔体法等方法进行单晶材料的生长。
1. 质晶生长法质晶生长是通过熔融物料中的慢冷过程而获得单晶。
材料首先被融化,然后在恒定温度下缓慢冷却。
在冷却过程中,熔体的成份逐渐结晶,通过控制结晶速率和温度,使得晶体在相似的晶体学方向上生长,从而获得高质量的单晶。
2. 气相生长法气相生长是通过热分解气体、化学反应、沉积等方式在固定位置上生长单晶。
在气相生长过程中,单晶在半导体材料工业、电子器件及其他光学应用中得到广泛运用。
3. 液相生长法液相生长法是指利用溶剂在有机液相或高熔点固体溶剂中生长单晶。
在液相生长过程中,贵金属及宝石类制品、化学物质、波长选择性钙钛矿、氧化物等单晶特许材料都能被制造。
4. 熔体法熔体法通常是通过熔融材料注入熔体中,在高温条件下快速冷却形成单晶。
在熔体法中,电子金属材料、高冰温超导体、稀土元素及其化合物、金属材料等都能被制造。
二、单晶材料的应用单晶材料在电子学、光学、传感器、医学、材料工业等领域都有广泛的应用。
1. 电子学单晶材料在电子产品及半导体制造行业有广泛的应用。
例如,硅单晶是半导体制造中最常用的单晶材料。
2. 光学单晶材料在光学设备制造等领域有着重要的应用价值。
例如,蓝宝石单晶、铝氧化物单晶等材料都是高品质的激光晶体材料。
3. 传感器单晶材料还可被应用于传感器制造。
例如,压阻式传感器中常用的压电晶体就是一种单晶材料,它能够用来测量压力、重量、温度等参数。
4. 医学单晶材料在医学领域也有着广泛的应用,例如用于人工晶体的制造。
5. 材料工业单晶材料在材料工业中也发挥着重要的作用,例如,金属锆单晶制成的喷气式发动机叶片,能够提高航空和航天领域中的效率。
单晶培养的方法一、挥发法原理:依靠溶液的不断挥发,使溶液由不饱和达到饱和过饱和状态。
条件:固体能溶解于较易挥发的有机溶剂理论上,所有溶剂都可以,但一般选择60~120℃。
注意:不同溶剂可能培养出的单晶结构不同方法:将固体溶解于所选有机溶剂,有时可采用加热的办法使固体完全溶解,冷却至室温或者再加溶剂使之不饱和,过滤,封口,静置培养。
经验:1.掌握好溶解度,一般100mL可溶解0.2g~2g, 50mL的烧杯,0.5g~0.8g.2.纯度大的易长出晶体。
3. 可选用混合溶剂,但必须遵循高沸点的难溶低沸点易容的原则。
混合溶剂必须选用完全互溶的二种或多种溶剂。
※怎么看是否形成单晶:如果析出的固体有发亮的颗粒或者在显微镜下可观察到凹凸的多面体形状。
※怎么挑选单晶:不要等溶剂挥发完再挑,一定要在有母液存在下挑单晶,用毛细管将晶体吸出,滴到滤纸上,用针将单晶挑到密封管中,3~5颗即可。
二、扩散法原理:利用二种完全互溶的沸点相差较大的有机溶剂。
固体易溶于高沸点的溶剂,难溶或不溶于低沸点溶剂。
在密封容器中,使低沸点溶剂挥发进入高沸点溶剂中,降低固体的溶解度,从而析出晶核,生长成单晶。
一般选难挥发的溶剂,如DMF,DMSO,甘油甚至离子液体等。
条件:固体在难挥发的溶剂中溶解度较大或者很大,在易挥发溶剂中不溶或难溶。
经验:固体在难挥发溶剂中溶解度越大越好。
培养时,固体在高沸点溶剂中必须达到饱和或接近过饱和。
方法:将固体加热溶解于高沸点溶剂,接近饱和,放置于密封容器中,密封容器中放入易挥发溶剂,密封好,静置培养。
三、温差法原理:利用固体在某一有机溶剂中的溶解度,随温度的变化,有很大的变化,使其在高温下达到饱和或接近饱和,然后缓慢冷却,析出晶核,生长成单晶。
一般,水,DMF, DMSO,尤其是离子液体适用此方法。
条件:溶解度随温度变化比较大。
经验:高温中溶解度越大越好,完全溶解。
推广:建议大家考虑使用离子液体做溶剂,尤其是对多核或者难溶性的配合物。
一,挥发法原理:依靠溶液的不断挥发,使溶液由不饱和达到饱和过饱和状态. 条件:固体能溶解于较易挥发的有机溶剂一般丙酮,甲醇,乙醇,乙腈,乙酸乙酯,三氯甲烷,苯,甲苯,四氢呋喃,水等. 理论上,所有溶剂都可以,但一般选择60~120℃. 注意:不同溶剂可能培养出的单晶结构不同方法:将固体溶解于所选有机溶剂,有时可采用加热的办法使固体完全溶解,冷却至室温或者再加溶剂使之不饱和,过滤,封口, 静置培养.经验: 1.掌握好溶解度,一般100mL 可溶解0.2g~2g, υ 2.纯度大的易长出晶体. 3. 可选用混合溶剂,但必须遵循高沸点的难溶低沸点易容的原则.混合溶剂必须选用完全互溶的二种或多种溶剂.二,扩散法原理:利用二种完全互溶的沸点相差较大的有机溶剂.固体易溶于高沸点的溶剂,难溶或不溶于低沸点溶剂. 在密封容器中, 使低沸点溶剂挥发进入高沸点溶剂中, 降低固体的溶解度, 从而析出晶核,生长成单晶. 一般选难挥发的溶剂,如DMF,DMSO,甘油甚至离子液体等.条件:固体在难挥发的溶剂中溶解度较大或者很大,在易挥发溶剂中不溶或难溶. 经验: 固体在难挥发溶剂中溶解度越大越好.培养时,固体在高沸点溶剂中必须达到饱和或接近过饱和.方法: 将固体加热溶解于高沸点溶剂,接近饱和,放置于密封容器中,密封容器中放入易挥发溶剂,密封好,静置培养.三,温差法原理:利用固体在某一有机溶剂中的溶解度,随温度的变化,有很大的变化,使其在高温下达到饱和或接近饱和,然后缓慢冷却,析出晶核,生长成单晶. 一般,水,DMF, DMSO,尤其是离子液体适用此方法.条件:溶解度随温度变化比较大.经验:高温中溶解度越大越好,完全溶解.水热法及溶剂热法的一些经验总结(important):1.降温过程过快,毫无疑问降温过程是晶体慢慢长大的过程,如果降温过程过快可能会导致得倒晶体结构不好或者直接就是粉末。
2.反应PH值,我不知道大家怎么调PH,因为我反应釜比较多,我调PH一般就是直接加浓HCl或则直接加浓NaOH来进行简单调节。
单晶生长原理
单晶生长是一种将物质从非晶态或多晶态转变为单晶态的过程。
在单晶生长过程中,通过控制温度、压力和溶液成分等条件,使得原子或分子按照一定的排列规律逐渐从无序状态转变为有序的单晶结构。
单晶生长的基本原理是利用种子晶体或者某种特定方法形成结晶核,并通过在其上加热或者降低温度、减小溶液浓度等方式提供足够驱动力,使原子或分子从溶液中逐渐沉积在结晶核上,并按照晶格结构进行有序排列。
通过不断增长结晶核的大小和形状,最终得到完整的单晶体。
单晶生长的过程中,温度的控制非常重要。
通常情况下,通过控制温度梯度来驱动晶体生长。
例如,可以在熔融状态下,通过在上部降低温度,使热解的物质逐渐沉积在下部的结晶核上,实现晶体生长。
另外,还可以通过改变溶液中物质的浓度梯度,实现晶体的生长。
此外,除了温度的控制外,还需要控制其他条件,如压力和溶液成分。
在很多情况下,增加压力可以提高晶体生长的速度,并减小生长中的缺陷。
此外,控制溶液中的成分浓度,可以调节晶体生长过程中的化学反应速率,使得晶体生长更加均匀。
总的来说,单晶生长的原理是通过控制温度、压力和溶液成分等条件,使得原子或分子在有序排列的晶格中逐渐沉积,最终形成完整的单晶体结构。
这种生长过程的控制对于获得高质量的单晶体具有至关重要的作用。
SIC碳化硅单晶的生长原理引言碳化硅(SiC)是一种重要的半导体材料,具有优异的物理和化学性质。
它在高温、高电压和高频率等条件下表现出良好的性能,因此被广泛应用于功率电子器件、射频器件、光电器件等领域。
SIC碳化硅单晶是制备这些器件的基础材料之一。
本文将详细解释SIC碳化硅单晶的生长原理,包括基本原理、生长方法和生长过程控制。
基本原理SIC碳化硅单晶的生长基于石墨化学气相沉积(CVD)方法。
在CVD过程中,使用含有Si和C原子的气体在高温下反应生成SIC单晶。
基本的生长反应方程如下所示:SiH4(g) + CH4(g) → SiC(s) + 2H2(g)在这个反应中,SiH4是硅源,CH4是碳源,SiC是沉积在衬底上的SIC碳化硅单晶,H2是副产物。
生长方法SIC碳化硅单晶的生长方法主要有两种:物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)。
物理气相沉积(PVD)物理气相沉积是通过在真空环境中加热SIC源材料,使其蒸发并沉积在衬底上。
这种方法的优点是生长速度快、晶体质量高,但需要高真空设备。
化学气相沉积(CVD)化学气相沉积是通过在高温下使含有Si和C原子的气体反应生成SIC单晶。
CVD方法可以分为低压CVD(LPCVD)和化学汽相沉积(VPE)两种。
•低压CVD:在低压条件下,将硅源和碳源气体引入反应室,通过热解反应生成SIC单晶。
这种方法的优点是生长速度较快、晶体质量高,但需要高真空设备。
•化学汽相沉积:在大气压下,将硅源和碳源气体引入反应室,通过热解反应生成SIC单晶。
这种方法的优点是设备简单、制备成本低,但生长速度较慢、晶体质量较差。
生长过程控制SIC碳化硅单晶的生长过程需要控制多个参数,包括温度、气体流量、压力等。
温度控制温度是影响SIC碳化硅单晶生长速度和质量的重要参数。
一般来说,较高的温度有利于生长速度的提高,但过高的温度会导致晶体质量下降。
因此,需要根据具体的生长需求选择合适的温度。
lec砷化镓单晶生长技术
LEC砷化镓单晶生长技术是一项重要的半导体材料制备技术,具有广泛的应用前景。
该技术可以制备高质量、高晶格匹配性的砷化镓单晶材料,用于制造高性能的光电器件和微电子器件。
本文将从生长原理、生长方法和应用领域三个方面,介绍LEC砷化镓单晶生长技术的相关内容。
一、生长原理
LEC砷化镓单晶生长技术是利用液相外延的原理,通过在熔融状态下控制溶液中溶质浓度和温度梯度,使砷化镓单晶材料从溶液中生长出来。
在生长过程中,通过控制砷化镓溶液的温度和成分,可以控制生长出的单晶材料的性质和质量。
二、生长方法
LEC砷化镓单晶生长技术主要有静态法和动态法两种方法。
静态法是将砷化镓溶液放置在石英坩埚中,通过加热使溶液达到熔点后,将衬底缓慢地浸入溶液中,使砷化镓单晶逐渐生长。
动态法是将砷化镓溶液注入到石英坩埚中,通过旋转坩埚或搅拌溶液,使溶液中的溶质均匀分布,然后将衬底缓慢地浸入溶液中,使砷化镓单晶生长。
三、应用领域
LEC砷化镓单晶材料具有优异的电学和光学性能,广泛应用于光电器件和微电子器件的制造。
在光电器件方面,砷化镓单晶材料可以
制作高效的太阳能电池、高亮度LED和激光器等。
在微电子器件方面,砷化镓单晶材料可以用于制造高速、高功率的场效应晶体管和集成电路等。
总结:
通过静态法和动态法两种生长方法,LEC砷化镓单晶技术可以制备出高质量、高晶格匹配性的砷化镓单晶材料。
这种材料在光电器件和微电子器件领域具有广泛的应用前景。
随着科技的不断发展,LEC砷化镓单晶生长技术将进一步推动光电子和微电子领域的发展,并为人们的生活带来更多便利和创新。
单晶材料的制备方法介绍单晶材料,指的是具有完全单一晶体结构的材料,其晶粒呈现为整体性完整的晶体。
这种材料的制备方法包括单晶增长法、气相转化法和物理气相沉积法等。
下面将对这些方法进行详细的介绍。
(一)单晶增长法单晶增长法是目前制备单晶材料最常用的方法之一、其主要原理是通过液相或气相中的原料溶液或气体在晶体表面上沉积,并利用材料的热和质量迁移,使晶体逐渐增长,最终形成单晶。
1.液相法液相法是一种常见的制备单晶材料的方法。
其主要过程包括晶种的培养、溶液配制、溶解和淬火等步骤。
首先,选择一个适合的晶种,在高温下使晶种与溶液接触,晶种逐渐增大。
然后,配制溶液,将材料溶解于溶剂中,形成适合生长晶体的溶液。
接下来,将晶种放入溶液中,通过控制温度和溶液浓度等参数,晶体逐渐从溶液中生长出来。
最后,取出晶体并进行淬火处理,使其冷却到室温。
2.气相法气相法是一种通过蒸发气体使晶体逐渐生长的方法。
其主要过程包括晶种选择、反应气体制备、晶种遗忘和生长阶段等步骤。
首先,选择一个合适的晶种,将其放入反应器中。
然后,制备反应气体,根据晶体材料的要求选择适当的气体进行气相反应。
接下来,将反应气体通过外部加热的方式在晶体表面进行蒸发,晶体逐渐生长。
最后,取出晶体并进行后续处理。
(二)气相转化法气相转化法是一种通过气体中的化学反应在晶体表面上形成单晶的方法。
其主要过程包括原料选择、反应条件控制、晶体生长和后续处理等步骤。
首先,选择适合的原料,在高温高压下使其在气氛中发生化学反应。
然后,通过控制反应条件,使得反应物在晶体表面发生转化反应,逐渐形成单晶。
接下来,将晶体取出并进行后续处理,例如清洗和退火等。
(三)物理气相沉积法物理气相沉积法是一种利用物理沉积技术制备单晶材料的方法。
其主要过程包括蒸发源制备、蒸发和沉积等步骤。
首先,制备一个蒸发源,将所需材料放入蒸发源中。
然后,通过加热蒸发源,使其产生气态物质。
接下来,将气态物质从蒸发源中输送到晶体表面,通过沉积在晶体表面上,逐渐形成单晶。
sic碳化硅单晶的生长原理碳化硅(Silicon Carbide,SiC)是一种优秀的半导体材料,具有高温、高电压和高频率特性,是发展功率电子和射频器件的重要材料之一。
为了研究和应用碳化硅,需要大量高质量的碳化硅单晶材料。
本文将介绍碳化硅单晶的生长原理。
碳化硅单晶的生长方法有多种,包括半导体硅碳在高温下热解生长、低压化学气相沉积(LPCVD)、物理气相沉积(PVD)等。
其中,半导体硅碳热解生长法是最常用的一种方法。
在半导体硅碳热解生长法中,首先需要将硅源和碳源混合,在高温下热解生成SiC原料。
硅源一般使用单质硅(Si),碳源可以选择甲烷(CH4)、乙烯(C2H4)等有机碳源。
在反应室中,通过适当的比例和流量控制,将硅源和碳源送入到硅化炉中加热,使其发生化学反应。
在一定的温度、压力和气氛条件下,硅源和碳源会反应生成SiC颗粒。
随后,SiC颗粒在硅化炉中不断堆积并长大,最终形成大尺寸的碳化硅单晶。
这个过程中,需要控制温度、压力和气氛等参数,以及在硅化炉中添加合适的衬底材料,来保证单晶的高质量生长。
同时,还需要控制SiC颗粒的大小和生长速度,以获得均匀一致的单晶。
在生长过程中,热解生成的SiC颗粒会沉积在衬底上,并在衬底表面层层生长。
由于SiC的熔点较高(约为2700℃),温度通常要高于熔点,使其颗粒能够在固相状态下生长。
此外,还需要保持适当的压力,以避免颗粒聚集或散开过快。
碳化硅单晶的生长速度一般较慢,通常在0.1-1 mm/h之间。
为了获得大尺寸和高质量的单晶,需要进行多次生长和退火处理。
多次生长可以提高单晶的大小和质量,退火则可以消除生长过程中的缺陷和应力,使单晶更加完整和稳定。
总之,碳化硅单晶的生长是一个复杂的过程,涉及多个参数和控制条件。
通过适当的控制,可以获得大尺寸、高质量的碳化硅单晶,为碳化硅材料在功率电子和射频器件等领域的应用提供重要的支持。
碳化硅(Silicon Carbide,SiC)是一种兼具较高导电性和较高耐高温特性的材料,因此在功率电子和高频电子器件领域有着广泛的应用前景。
几种培养单晶的方法和大家共享单晶培养的方法一、挥发法原理:依靠溶液的不断挥发,使溶液由不饱和达到饱和过饱和状态。
条件:固体能溶解于较易挥发的有机溶剂一般丙酮、甲醇、乙醇、乙腈、乙酸乙酯、三氯甲烷、苯、甲苯、四氢呋喃、水等。
理论上,所有溶剂都可以,但一般选择沸点在60~120℃。
注意:不同溶剂可能培养出的单晶结构不同二、扩散法原理:利用二种完全互溶的沸点相差较大的有机溶剂。
固体易溶于高沸点的溶剂,难溶或不溶于低沸点溶剂。
在密封容器中,使低沸点溶剂挥发进入高沸点溶剂中,降低固体的溶解度,从而析出晶核,生长成单晶。
一般选难挥发的溶剂,如DMF,DMSO,甘油甚至离子液体等。
条件:固体在难挥发的溶剂中溶解度较大或者很大,在易挥发溶剂中不溶或难溶。
三、温差法原理:利用固体在某一有机溶剂中的溶解度,随温度的变化,有很大的变化,使其在高温下达到饱和或接近饱和,然后缓慢冷却,析出晶核,生长成单晶。
一般,水,DMF, DMSO,尤其是离子液体适用此方法。
条件:溶解度随温度变化比较大。
经验:高温中溶解度越大越好,完全溶解。
推广:建议大家考虑使用离子液体做溶剂,尤其是对多核或者难溶性的配合物。
四、接触法原理:如果配合物极易由二种或二种以上的物种合成,选择性高且所形成的配合物很难找到溶剂溶解,则可使原料缓慢接触,在接触处形成晶核,再长大形成单晶。
一般无机合成,快反应使用此方法。
方法:1.用U形管,可采用琼脂降低离子扩散速度。
2.用直管,可做成两头粗中间细。
3.用缓慢滴加法或稀释溶液法(对反应不很快的体系可采用)4.缓慢升温度(对温度有要求的体系适用)经验:原料的浓度尽可能的降低,可以人为的设定浓度或比例。
0.1g~0.5g的溶质量即可。
五、高压釜法原理:利用水热或溶剂热,在高温高压下,是体系经过一个析出晶核,生长成单晶的过程,因高温高压条件下,可发生许多不可预料的反应。
方法:将原料按组合比例放入高压釜中,选择好溶剂,利用溶剂的沸点选择体系的温度,高压釜密封好后放入烘箱中,调好温度,反应1~4小时均可。
直拉法:直拉法即切克老斯基法(Czochralski: Cz), 直拉法是半导体单晶生长用的最多的一种晶体生长技术。
直拉法单晶硅工艺过程-引晶:通过电阻加热,将装在石英坩埚中的多晶硅熔化,并保持略高于硅熔点的温度,将籽晶浸入熔体,然后以一定速度向上提拉籽晶并同时旋转引出晶体;-缩颈:生长一定长度的缩小的细长颈的晶体,以防止籽晶中的位错延伸到晶体中;-放肩:将晶体控制到所需直径;-等径生长:根据熔体和单晶炉情况,控制晶体等径生长到所需长度;-收尾:直径逐渐缩小,离开熔体;-降温:降底温度,取出晶体,待后续加工直拉法-几个基本问题最大生长速度晶体生长最大速度与晶体中的纵向温度梯度、晶体的热导率、晶体密度等有关。
提高晶体中的温度梯度,可以提高晶体生长速度;但温度梯度太大,将在晶体中产生较大的热应力,会导致位错等晶体缺陷的形成,甚至会使晶体产生裂纹。
为了降低位错密度,晶体实际生长速度往往低于最大生长速度。
熔体中的对流相互相反旋转的晶体(顺时针)和坩埚所产生的强制对流是由离心力和向心力、最终由熔体表面张力梯度所驱动的。
所生长的晶体的直径越大(坩锅越大),对流就越强烈,会造成熔体中温度波动和晶体局部回熔,从而导致晶体中的杂质分布不均匀等。
实际生产中,晶体的转动速度一般比坩锅快1-3倍,晶体和坩锅彼此的相互反向运动导致熔体中心区与外围区发生相对运动,有利于在固液界面下方形成一个相对稳定的区域,有利于晶体稳定生长。
生长界面形状(固液界面)固液界面形状对单晶均匀性、完整性有重要影响,正常情况下,固液界面的宏观形状应该与热场所确定的熔体等温面相吻合。
在引晶、放肩阶段,固液界面凸向熔体,单晶等径生长后,界面先变平后再凹向熔体。
通过调整拉晶速度,晶体转动和坩埚转动速度就可以调整固液界面形状。
生长过程中各阶段生长条件的差异直拉法的引晶阶段的熔体高度最高,裸露坩埚壁的高度最小,在晶体生长过程直到收尾阶段,裸露坩埚壁的高度不断增大,这样造成生长条件不断变化(熔体的对流、热传输、固液界面形状等),即整个晶锭从头到尾经历不同的热历史:头部受热时间最长,尾部最短,这样会造成晶体轴向、径向杂质分布不均匀。
直拉法-技术改进:一,磁控直拉技术1,在直拉法中,氧含量及其分布是非常重要而又难于控制的参数,主要是熔体中的热对流加剧了熔融硅与石英坩锅的作用,即坩锅中的O2, 、B、Al等杂质易于进入熔体和晶体。
热对流还会引起熔体中的温度波动,导致晶体中形成杂质条纹和旋涡缺陷。
2,半导体熔体都是良导体,对熔体施加磁场,熔体会受到与其运动方向相反的洛伦兹力作用,可以阻碍熔体中的对流,这相当于增大了熔体中的粘滞性。
在生产中通常采用水平磁场、垂直磁场等技术。
3,磁控直拉技术与直拉法相比所具有的优点在于:减少了熔体中的温度波度。
一般直拉法中固液界面附近熔体中的温度波动达10 C以上,而施加0.2 T 的磁场,其温度波动小于 1 ℃。
这样可明显提高晶体中杂质分布的均匀性,晶体的径向电阻分布均匀性也可以得到提高;降低了单晶中的缺陷密度;减少了杂质的进入,提高了晶体的纯度。
这是由于在磁场作用下,熔融硅与坩锅的作用减弱,使坩锅中的杂质较少进入熔体和晶体。
将磁场强度与晶体转动、坩锅转动等工艺参数结合起来,可有效控制晶体中氧浓度的变化;由于磁粘滞性,使扩散层厚度增大,可提高杂质纵向分布均匀性;有利于提高生产率。
采用磁控直拉技术,如用水平磁场,当生长速度为一般直拉法两倍时,仍可得到质量较高的晶体。
4,磁控直拉技术主要用于制造电荷耦合(CCD)器件和一些功率器件的硅单晶。
也可用于GaAs、GaSb 等化合物半导体单晶的生长。
连续生长技术为了提高生产率,节约石英坩埚(在晶体生产成本中占相当比例),发展了连续直拉生长技术,主要是重新装料和连续加料两中技术:1,重新加料直拉生长技术:可节约大量时间(生长完毕后的降温、开炉、装炉等),一个坩埚可用多次。
2,连续加料直拉生长技术:除了具有重新装料的优点外,还可保持整个生长过程中熔体的体积恒定,提高基本稳定的生长条件,因而可得到电阻率纵向分布均匀的单晶。
连续加料直拉生长技术有两种加料法:连续固体送料和连续液体送料法。
液体覆盖直拉技术:是对直拉法的一个重大改进,用此法可以制备多种含有挥发性组元的化合物半导体单晶。
主要原理:用一种惰性液体(覆盖剂)覆盖被拉制材料的熔体,在晶体生长室内充入惰性气体,使其压力大于熔体的分解压力,以抑制熔体中挥发性组元的蒸发损失,这样就可按通常的直拉技术进行单晶生长。
对惰性液体(覆盖剂)的要求:- 密度小于所拉制的材料,既能浮在熔体表面之上;对熔体和坩埚在化学上必须是惰性的,也不能与熔体混合,但要能浸云晶体和坩埚;熔点要低于被拉制的材料且蒸气压很低;- 有较高的纯度,熔融状态下透明。
广泛使用的覆盖剂为B2O3: 密度1.8 g/cm3,软化温度450C,在1300 C时蒸气压仅为13 Pa,透明性好,粘滞性也好。
此种技术可用于生长GaAs、InP、GaP、GaSb和InAs等单晶。
悬浮区熔法:主要用于提纯和生长硅单晶;基本原理:依靠熔体的表面张力,使熔区悬浮于多晶硅棒与下方生长出的单晶之间,通过熔区向上移动而进行提纯和生长单晶。
不使用坩埚,单晶生长过程不会被坩埚材料污染,由于杂质分凝和蒸发效应,可以生长出高电阻率硅单晶。
测试方法:电阻率:用四探针法。
OISF密度:利用氧化诱生法在高温、高洁净的炉管中氧化,再经过腐蚀后观察其密度进行报数。
碳含量:利用红外分光光度计进行检测。
单晶硅抛光片品质规格:单晶硅抛光片的物理性能参数同硅单晶技术参数---------------------------|厚度(T)|200-1200um||----------|--------------||总厚度变化(TTV)|<10um||----------|--------------||弯曲度(BOW)|<35um||----------|--------------||翘曲度(WARP)|<35um|---------------------------单晶硅抛光片的表面质量:正面要求无划道、无蚀坑、无雾、无区域沾污、无崩边、无裂缝、无凹坑、无沟、无小丘、无刀痕等。
背面要求无区域沾污、无崩边、无裂缝、无刀痕。
(2)加工工艺知识多晶硅加工成单晶硅棒:多晶硅长晶法即长成单晶硅棒法有二种:CZ(Czochralski)法FZ(Float-ZoneTechnique)法目前超过98%的电子元件材料全部使用单晶硅。
其中用CZ法占了约85%,其他部份则是由浮融法FZ生长法。
CZ法生长出的单晶硅,用在生产低功率的集成电路元件。
而FZ法生长出的单晶硅则主要用在高功率的电子元件。
CZ法所以比FZ法更普遍被半导体工业采用,主要在于它的高氧含量提供了晶片强化的优点。
另外一个原因是CZ法比FZ法更容易生产出大尺寸的单晶硅棒。
目前国内主要采用CZ法CZ法主要设备:CZ生长炉CZ法生长炉的组成元件可分成四部分(1)炉体:包括石英坩埚,石墨坩埚,加热及绝热元件,炉壁(2)晶棒及坩埚拉升旋转机构:包括籽晶夹头,吊线及拉升旋转元件(3)气氛压力控制:包括气体流量控制,真空系统及压力控制阀(4)控制系统:包括侦测感应器及电脑控制系统加工工艺:加料—→熔化—→缩颈生长—→放肩生长—→等径生长—→尾部生长3.1原料的品质规格原料品质为免洗料,符合相关国内或国际行业技术标准规定及合同对产品质级的认定。
3.2成品的品质规格单晶硅棒品质规格:该单耗标准对原料适用于相关GB/T12962-1996国家标准及合同对单晶硅棒质级的认定。
单晶硅抛光片品质规格:该单耗标准适用于相关GB/T12964-1996国家标准及合同对单晶硅抛光片质级的认定。
3.3单、损耗标准3.3.1多晶硅——单晶硅棒-------------------------------------------------------------|序号|成品名称|成品单位|商品编号|成品规格|原料名称|原料单位|商品编号|单耗标准(kg)|损耗率(%)||--|----|----|--------|----|----|----|--------|------|------||1.|单晶硅棒|Kg|28046110|4英寸|多晶硅|Kg|28046190|1.83|45.3||--|----|----|--------|----|----|----|--------|------|------||2.|单晶硅棒|Kg|28046110|5英寸|多晶硅|Kg|28046190|1.78|43.8|-------------------------------------------------------------3.3.2单晶硅棒——单晶硅抛光片--------------------------------------------------------------|序号|成品名称|成品单位|商品编号|成品规格|原料名称|原料单位|商品编号|净耗标准(kg)|损耗率(%) ||--|-----|----|--------|-----|----|----|--------|------|-----|||IC级单晶|||4英寸|||||||1.||千片|38180011||单晶硅棒|Kg|28046110|10.224|57.4|||硅抛光片|||525um|||||||--|-----|----|--------|-----|----|----|--------|------|-----|||IC级单晶|||5英寸|||||||2.||千片|38180011||单晶硅棒|Kg|28046110|18.619|56.7|||硅抛光片|||625um||||||--------------------------------------------------------------注:1、可利用制成低档次硅产品的掺埚底料、头尾料,应按边角料征税。
2、用线切割机,损耗较小。
HDB/YD003-2000单晶硅棒、单晶硅片加工贸易单耗标准编制说明任务来源为加强加工贸易单耗管理,规范和完善海关和外经贸管理部门对单耗审批、备案、核销,落实国务院关于加强对加工贸易管理的政策措施,打击伪报单耗的不法行为,促进加工贸易的健康发展,根据加工贸易单耗标准制定工作联络小组工作计划,制定单晶硅棒、单晶硅片加工贸易单耗标准。
本标准由海关总署关税征管司委托上海海关负责起草制定。
由海关总署关税征管司、国家经贸委外经司和国家信息产业部组织相关工业协会及企业的工艺、技术专家和有关海关加工贸易保税专业技术人员进行审定。