AFM的像
三、纳米资料的构造分析
• 不仅纳米资料的成份和形貌对其性能有重 要影响,纳米资料的物相构造和晶体构造 对资料的性能也有着重要的作用。
• 目前,常用的物相分析方法有X射线衍射分 析、激光拉曼分析以及微区电子衍射分析。
X射线衍射构造分析
• XRD 物相分析是基于多晶样品对X射线的衍射效应,对样 品中各组分的存在形状进展分析。测定结晶情况,晶相, 晶体构造及成键形状等等。 可以确定各种晶态组分的构 造和含量
纳米资料成份分析种类
光谱分析 主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS, 电感耦合等离 子体原子发射光谱ICP-OES, X-射线荧光光谱XFS 和X射线衍射光谱分析法XRD;
质谱分析 主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS 和飞行时间二次 离子质谱法TOF-SIMS
能谱分析 主要包括X 射线光电子能谱XPS 和俄歇电子能谱法AES
光散射法粒度分析
• 丈量范围广,如今最先进的激光光散射粒度 测试仪可以丈量1nm~3000μm,根本满足 了超细粉体技术的要求
• 测定速度快,自动化程度高,操作简单,普通 只需1~1.5min
• 丈量准确,重现性好 • 可以获得粒度分布
激光相关光谱粒度分析法
• 经过光子相关光谱〔PCS〕法,可以丈量粒子的 迁移速率。而液体中的纳米颗粒以布朗运动为主, 其运动速度取决于粒径,温度和粘度等要素。在 恒定的温度和粘度条件下,经过光子相关光谱 〔PCS〕法测定颗粒的迁移速率就可以获得相应 的颗粒粒度分布
• 几个纳米到几十微米的薄膜厚度测定
外表与微区成份分析
• X射线光电子能谱 • 俄歇电子能谱 • 二次离子质谱 • 电子探针分析方法 • 电镜的能谱分析 • 电镜的电子能量损失谱分析