石墨炉原子吸收中基体干扰的产生和消除干扰的方法
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原⼦吸收光谱分析中的⼲扰因素分析及消除⽅法2019-08-25摘要:本⽂主要针对原⼦吸收光谱分析中的⼲扰因素及消除⽅法展开了分析,通过结合具体的试验实例,对原⼦吸收光谱分析中的⼲扰因素作了详细的阐述,并给出了相应的消除⽅法,以期能为有关⽅⾯的需要提供参考借鉴。
关键词:原⼦吸收光谱法;⼲扰;消除⽅法;分析所谓的原⼦吸收光谱法,是基于⽓态的基态原⼦外层电⼦对紫外光和可见光范围的相对应原⼦共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析⽅法。
在实际的应⽤过程中,会存在着⼀定的⼲扰因素,因此,为了原⼦吸收光谱法试验的科学和准确,就需要采取有效的消除⽅法对感染因素做好应对。
基于此,本⽂就原⼦吸收光谱分析中的⼲扰因素及消除⽅法进⾏了分析,相信对有关⽅⾯的需要能有⼀定的帮助。
1 原⼦吸收光谱分析中的⼲扰因素及其消除⽅法1.1 物理⼲扰及其消除⽅法物理⼲扰是指试样在转移、蒸发和原⼦化过程中,由于试样的任何物理变化⽽引起的原⼦吸收强度变化的效应。
物理⼲扰是⼀种⾮选择性⼲扰,对试剂中各元素的影响基本上是相似的。
吸样⽑细管的长度和直径、溶剂的蒸⽓压、溶液的黏度、雾化器的压⼒以及侵⼊试剂溶液中的深度这些因素都会影响进样速度,从⽽影响到分析元素的原⼦化效率。
消除物理⼲扰的主要⽅法有:(1)配制与分析试样组成相似的标准系列溶液制作校正曲线,这是最常⽤的⽅法。
(2)配置与分析试样组成相似的标准溶液有困难时,可⽤标准加⼊法,可以提⾼测定的准确度。
(3)试样中分析元素浓度较⾼时,在灵敏度能满⾜要求的情况下,可以采⽤稀释溶液的⽅法减⼩或消除物理⼲扰。
(4)⽤双道原⼦吸收分光光度计时,以待测元素与内标元素的原⼦吸收强度⽐制作校正曲线进⾏定量,可以有效地消除物理⼲扰。
(5)在电热原⼦吸收光谱法中,加⼊某种化学改进剂与待测元素⽣成难挥发化合物,可以消除在⼲燥与灰化过程中的物理⼲扰。
1.2 化学⼲扰及其消除⽅法化学⼲扰是指在试样溶液中或⽓相中分析元素与共存物质之间的化学作⽤⽽引起的⼲扰效应,它主要影响分析元素化合物的解离与原⼦化的速度和程度,降低原⼦吸收信号。
原子吸收光谱分析干扰因素及消除方法(二)1.电离干扰电离干扰是指待测元素在火焰中汲取能量后,除举行原子化外,还使部分原子电离,从而降低了火焰中基态原子的浓度,使待测元素的吸光度降低,造成结果偏低。
火焰温度愈高,电离干扰愈显著。
当对电离电位较低的元素(如Be、Sr、Ba、Al)举行分析时,为抑制电离干扰,除可采纳降低火焰温度的办法外,还可向试液中加入消电离剂,如1% Cscl(或KCI、RbCl)溶液,因Cscl在火焰中极易电离产生高的电子密度,此高电子密度可抑制待测元素的电离而除去干扰。
2.放射光谱的干扰原子汲取光谱用法的锐线光源应只放射波长范围很窄的特征谱线,但因为以下缘由也会放射出少量干扰谱线而影响测定。
(1)当空心阴极灯放射的敏捷线和次敏捷线非常临近,且不易分开时就会降低测定敏捷度。
例如,Ni的敏捷线为232.0nm,次敏捷线为231.6nm和231.1nm,若使它们彼此分开,应选用窄的光谱通带,否则会降低测定的敏捷度。
(2)空心阴极灯内充有Ar、Ne等惰性气体,其放射的敏捷线与待测元素的敏捷线相近时,也产生干扰。
例如Ne放射359.34nm 谱线,Cr的敏捷线为359.35nm,为此测铬元素的空心阴极灯,应改充Ar而消退Ne的干扰。
(3)空心阴极灯阴极含有的杂质元素放射出与待测元素相近的谱线。
例如:待测元素Sb 217.02nm, Sb 231.15nm, Hg 253.65nm, Mn 403.31nm;杂质元素Pb 217.00nm, Ni 231.10nm,Co253.60nm, Ca 403.29nm。
此时应转变锐线的波长,以避开干扰。
3.背景干扰 (1)背景干扰的产生背景干扰主要是由分子汲取和光散射而产生的,表现为增强表观吸光度,使测定结果偏高。
分子汲取是指在原子化过程因为燃气、助燃气、生成气体、试液中的盐类与无机酸(主要为H2SO4、H3PO4)等分子或自由基对锐线辐射的汲取而产生的干扰。
原子吸收分光光度法干扰及其消除方法一、电离干扰由于原子在火焰中电离而引起的干扰效应。
被测元素在火焰中形成自由原子后,原子继续电离,使基态原子数减少,造成吸收信号减少,降低灵敏度。
影响自由原子电离的主要因素有:电离电位、火焰温度及原子的电子结构。
电离过程是一个可逆过程,若增加火焰中电子浓度,则电离平衡向生成基态原子的方向移动,使吸光值增大。
可在待测溶液中加入一种较易电离的另一种元素,增加火焰中的电子浓度,抑制电离干扰。
如一氧化二氮、乙炔火焰中测定钡时,加入0.2%氯化钾,又称为电离缓冲剂。
大部分碱金属的电离电位较低,受到电离干扰也最严重,可降低温度以减少电离平衡常数,从而使电离度变小,可选择不同的火焰配比。
二、物理干扰火焰原子吸收分析中,样品溶液与参比溶液的物理性质不同,对在观测高度上,通过火焰水平横截面的气溶胶流量产生影响,改变吸收信号的强度。
样液的粘度与密度、毛细管的直径和长度、浸入试样的深度均将影响样液的提升速率。
样液表面张力的变化,影响雾珠和气溶胶粒子大小与分布以及雾化效率。
大量基体物质在火焰中蒸发和解离时,消耗大量的热能,在蒸发过程中有可能包裹待测元素,影响原子化效率。
另外,高盐含量可造成燃烧缝隙堵塞,改变其工作特性,均为物理干扰。
石墨炉原子吸收虽不存在火焰原子化由物理因素形成的传输干扰。
但进样量的大小和进样位置都是重要的。
进样量过大,使待测原子蒸气逸出,样液在石墨炉中得位置不重现,影响原子化的速率,程序升温中的干燥、灰化以及原子化的温度与时间设置均有影响。
消除物理干扰的方法:尽量使样品溶液与参比溶液保持一致,也可采取标准加入法,对较浓的样品可采用稀释溶液的方法来减少物理干扰,在非火焰原子吸收法中可使用基体改良剂。
三、光谱干扰1.多重谱线干扰理想的情况下,光谱通带内只有一条可供吸收的发射线,但一些元素在有限的光谱通带内有多重辐射线及吸收谱线,且每条谱线又有不同的发射强度和吸收系数,可导致校正曲线的非线性及灵敏度降低。
石墨炉原子吸收中基体干扰的降低和消除摘要:石墨炉原子吸收光谱法中的干扰相对比较少,但在某些情况下也是不可忽视的。
石墨炉原子吸收光谱法中的干扰大体可分为物理干扰、电离干扰、光谱干扰及化学干扰四类。
其中化学干扰是主要的干扰来源。
它是选择性干扰,即对试样中各种元素的影响各不相同,亦称基体干扰。
离干扰元素。
后者能使被测元素得到富集,有利于提高测定灵敏度,但手续麻烦,所以加入消除基体干扰的方法有:加入集体改进剂(释放剂、保护剂和干扰缓冲剂)及利用化学分集体改进剂是降低或消除石墨炉原子吸收中基体干扰的主要手段。
Ediger首先提出了硝酸镍和硝酸铵等无机试剂可作为基体改进剂用于石墨炉原子吸收测定某些金属元素。
到目前,基体改进剂约有50余种,它们分为无机试剂、有机试剂和活性气体三种类型。
关键词:石墨炉基体干扰基体改进剂化学干扰一、前言电热源原子吸收光谱法即石墨炉原子吸收法以其固有的高灵敏度噁选择性成为生物和环境样品中测定痕量元素最有效的方法之一。
然而,问题在于样品由复杂和易变的材料组成。
在一个脉冲加热的电热原子化器中常常出现潜在的化学干扰影响。
这种化学干扰经常导致对原子吸收信号的抑制。
减少这种干扰的方法有:恒温炉,石墨平台,探针等。
样品在石墨炉中的化学处理四一种简单的减少干扰的方法,尤其在大量基体的样品中测定易挥发元素。
本文介绍了石墨炉原子吸收法中干扰的种类及消除干扰的方法,其中主要讲了化学干扰(基体干扰)的消除方法。
二、石墨炉原子吸收中基体干扰的产生和消除干扰的方法1 物理干扰及其消除方法物理干扰是指试样在转移,灰化和原子化过程中,由于试样任何物理性质的变化而引起的原子吸收信号强度变化的效应。
物理干扰属非选择性干扰。
物理干扰产生的原因在石墨炉原子吸收中,试样溶液的性质发生任何变化,都直接或间接的影响原子阶级效率。
如试样的粘度生生变化时,则影响吸喷速率进而影响雾量和雾化效率。
试样的表面张力和粘度的变化,将影响雾滴的细度、脱溶剂效率和蒸发效率,最终影响到原子化效率。
原子吸收分析中常见的四大干扰的原因和消除办法定义:试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应,主要影响试样喷入火焰的速度、进样量、雾化效率、原子化效率、雾滴大小等。
因素:溶液的粘度、表面张力、密度、溶剂的蒸汽压和雾化气体的压力等。
特点:物理干扰是非选择性干扰,对各种元素影响基本相同。
消除方法:1) 配置相似组成的标准样品,采用标准加入法;2) 尽可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸来处理试样;3) 当试样浓度较高时,适当稀释试液也可以抑制物理干扰。
定义:待测元素与其它组分之间的化学作用,生成了难挥发或难解离的化合物,使基态原数目减少所引起的干扰效应。
主要影响到待测元素的原子化效率,是主要干扰源。
特点:化学干扰是选择性干扰。
因素:1) 分子蒸发:待测元素形成易挥发卤化物和某些氧化物,在灰化温度下蒸发损失;2) 形成难离解的化合物(氧化物、炭化物、磷化物等);3) 氧化物:较难原子化的元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U;4) 很难原子化的元素:Os、Re、Nd、Ta、Hf、W;5) 炭化物:Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U稀土等形成难挥发炭化物;6) 磷化物:Ca3PO4等。
消除方法:1) 提高火焰温度使得难解离的化合物较完全基态原子化。
2) 加入释放剂,与干扰元素生成更稳定或更难挥发的化合物,使待测元素释放出来。
常用的释放剂:LaCl3、Sr(NO3)2等。
(如:火焰原子吸收法测定钙,磷酸盐的存在会生成难挥发的Ca2P2O7,此时可以加入LaCl3,则La3+与PO43-生成热更稳定的LaPO4,抑制了磷酸根对钙测定的干扰。
)3) 加入保护剂,待测元素形成稳定的络合物,防止待测元素与干扰物质生成难挥发化合物。
常用的保护剂:EDTA、8-羟基喹林、乙二醇等。
(如:火焰原子吸收法测定钙,磷酸盐的存在会生成难挥发的Ca2P2O7,加入EDTA,生成EDTA-Ca 络合物,该络合物在火焰中易于原子化,避免磷酸根与钙作用。
石墨炉原子吸收法的干扰及消除石墨炉原子吸收法(Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy, GFAAS)是一种常用的分析技术,广泛应用于环境监测、食品安全等领域。
然而,GFAAS在实际应用中可能受到干扰,影响结果准确性。
本文将重点探讨石墨炉原子吸收法的干扰问题及其消除方法。
1. 干扰的类型GFAAS分析中常见的干扰类型包括基体效应、化学干扰、光谱干扰和非特异性吸收。
基体效应是样品基质对原子吸收信号的影响,可能导致测定值偏高或偏低。
化学干扰是指样品中其他元素或化合物对目标元素的吸收产生干扰。
光谱干扰则是由于吸收光源的选择不当,造成干扰峰的产生。
非特异性吸收是指其他化合物或离子与目标元素形成复合物,引起信号偏移。
2. 干扰的原因分析干扰的原因主要有样品基质、实验操作和仪器仪表等方面。
不同样品基质的化学特性不同,可能带来不同程度的基体效应和化学干扰。
实验操作中,溶解度、pH值、稀释比例等参数的不同选择都可能产生干扰。
而仪器仪表的选择和初始参数设定是否合理也会对分析结果产生重要影响。
3. 干扰的消除方法(1)基体效应可以通过选用合适的基础基质进行稀释或用基体效应校正剂进行修正。
同时,校正曲线中加入基质效应标准物质,也是一种有效的消除基体效应的方法。
(2)化学干扰的消除可以通过样品预处理、酸碱调节、螯合剂添加等方法进行。
样品预处理可以将目标元素与其他干扰物分离,以防止它们相互干扰。
酸碱调节可以改变溶液pH值,使干扰物与目标元素的吸收行为有所不同。
螯合剂添加可以形成稳定的络合物,使干扰物与目标元素的化学行为发生改变。
(3)光谱干扰可以通过选择适当的吸收光源进行消除。
例如,使用中空阴极灯代替中心空心阴极灯可以提高分析灵敏度和选择性,减小光谱干扰。
此外,多元线性回归技术也可以用于干扰校正。
(4)非特异性吸收的消除方法包括使用选择性络合剂、氧化剂、还原剂等,以改变吸收行为,减小非特异性吸收的影响。
石墨炉原子吸收中基体干扰的降低和消除摘要:石墨炉原子吸收光谱法中的干扰相对比较少,但在某些情况下也是不可忽视的。
石墨炉原子吸收光谱法中的干扰大体可分为物理干扰、电离干扰、光谱干扰及化学干扰四类。
其中化学干扰是主要的干扰来源。
它是选择性干扰,即对试样中各种元素的影响各不相同,亦称基体干扰。
离干扰元素。
后者能使被测元素得到富集,有利于提高测定灵敏度,但手续麻烦,所以加入消除基体干扰的方法有:加入集体改进剂(释放剂、保护剂和干扰缓冲剂)及利用化学分集体改进剂是降低或消除石墨炉原子吸收中基体干扰的主要手段。
Ediger首先提出了硝酸镍和硝酸铵等无机试剂可作为基体改进剂用于石墨炉原子吸收测定某些金属元素。
到目前,基体改进剂约有50余种,它们分为无机试剂、有机试剂和活性气体三种类型。
关键词:石墨炉基体干扰基体改进剂化学干扰一、前言电热源原子吸收光谱法即石墨炉原子吸收法以其固有的高灵敏度噁选择性成为生物和环境样品中测定痕量元素最有效的方法之一。
然而,问题在于样品由复杂和易变的材料组成。
在一个脉冲加热的电热原子化器中常常出现潜在的化学干扰影响。
这种化学干扰经常导致对原子吸收信号的抑制。
减少这种干扰的方法有:恒温炉,石墨平台,探针等。
样品在石墨炉中的化学处理四一种简单的减少干扰的方法,尤其在大量基体的样品中测定易挥发元素。
本文介绍了石墨炉原子吸收法中干扰的种类及消除干扰的方法,其中主要讲了化学干扰(基体干扰)的消除方法。
二、石墨炉原子吸收中基体干扰的产生和消除干扰的方法1 物理干扰及其消除方法物理干扰是指试样在转移,灰化和原子化过程中,由于试样任何物理性质的变化而引起的原子吸收信号强度变化的效应。
物理干扰属非选择性干扰。
物理干扰产生的原因在石墨炉原子吸收中,试样溶液的性质发生任何变化,都直接或间接的影响原子阶级效率。
如试样的粘度生生变化时,则影响吸喷速率进而影响雾量和雾化效率。
试样的表面张力和粘度的变化,将影响雾滴的细度、脱溶剂效率和蒸发效率,最终影响到原子化效率。
当试样中存在大量的基体元素时,它们在石墨管中蒸发解离时,不仅要消耗大量的热量,而且在蒸发过程中,有可能包裹待测元素,延缓待测元素的蒸发、影响原子化效率。
物理干扰一般都是负干扰,最终影响火焰分析体积中原子的密度。
2 光谱干扰及其消除方法原子吸收光谱分析中的光谱干扰较原子发射光谱要少得多。
理想的原子吸收,应该是在所选用的光谱通带内仅有光源的一条共振发射线和波长与之对应的一条吸收线。
当光谱通带内多于一条吸收线或光谱通带内存在光源发躬垢非吸收线时,灵敏度降低且工作曲线线性范围变窄。
当被测试液中含有吸收线相重叠的两种元素时,无论测哪一种都将产生干扰。
a光谱通带内多于一条吸收线如果在光谱内存在光源的几条发射线,而且被测元素对这几种辐射光均产生吸收,这就产生干扰。
也就是所谓的多重谱线干扰,以过渡元素较多。
若多重吸收线和主吸收线波长差不是很小时,通过减小狭缝来克服多重谱线的干扰。
但波长差很多小时,通过减小狭缝仍难消除干扰,并且可能使信噪比大大降低,此时需别选谱线。
b光谱通带内存在光源发射的非吸收线待测元素的非吸收线出现在光谱通带内,这非吸收线可以是待测元素的谱线,也可能是其它元素的谱线.此时产生的干扰使灵敏度降低和工作曲线弯曲。
造成这种干扰的原因有几种:1具有复杂光谱的元素本身就发射出单色器难以分开的谱线;2多元素空芯阴极灯因发射线较复杂而存在非吸收干扰;3光源阴极材料中的杂质所引起的非吸收干扰;4光源填充的惰性气体的辐射线引起的非吸收干扰。
克服这种干扰常用方法是减小狭缝宽度,使光谱通带小到步以分离掉非吸收线但使信噪比变坏。
这时可以改用其它分析线,虽灵敏度较低,但允许较大的光谱通带,有利于提高信噪比。
3 电离干扰及消除方法某些易电离的元素在火焰中电离而使参与原子吸收的基态原子数减少,导致吸光度下降,而且使工作曲线随浓度的增加向纵轴弯曲。
元素在火焰中的电离度与火焰温度和该元素的电离电位有密切的关系。
火焰温度越高,元素的电离电位越低,则电离度越大。
因此电离干扰要发生于电离电位较低的石金属和碱土金属。
另外,电离度随金属元素总浓度的增加而减小,故工作曲线向纵轴弯曲。
提高火焰中离子的浓度、降低电离度是消除电离干扰的最基本途径。
最常用的方法是加入消电离剂。
一般消电离剂的电离位越低越好。
有时加入的消电离剂的电离电位比待测元素的电离电位还高,但由于加入的浓度较大,仍可抑制电离干扰。
利用富燃火焰也可抑制电离干扰,由燃烧不充分的碳粒电离,使火焰中离子浓度增加。
利用温度较低的火焰,降低电离度,可消除电离干扰。
提高溶液的吸喷速率也可降低电离干扰,原因是火焰中溶液量的增加,因蒸发而耗大量的热使火焰温度降低。
此外,标准加入法也可在一定程度上消除某些电离干扰。
4 化学干扰是指试样溶液转化为自由基态原子的过程中,待测元素和其它组分之间化学作用而引起的干扰效应。
它主要影响待测元素化合物的熔融、蒸发和解离过程。
这种效应可以是正效应,增强原子吸收信号,也可以是负效应,降低原子吸收信号。
化学干扰是一种选择性干扰,它不仅取决于待测元素与共存元素的性质,还和回话条件有关。
化学干扰是石墨炉原子吸收分析中干扰的最主要来源,其产生的原因是多方面的。
这里就不再讲座这个问题。
我们主要讨论一下消除化学干扰的主要方法,由于化学干扰的复杂性,目前仍无一种通用的消除这种干扰的方法。
需针对特定的样品、待测元素和实验条件进行具体的分析。
主要采用的有以下几种:4.1加入释放剂待测元素和干扰元素在火焰中稳定的化合物时,加入另一种物质使之与干扰元素反应,生成更挥发的化合物,从而使待测元素从干扰元素的化合物中释放出来,加入的这种物质叫释放剂。
常用的释放剂有氯化镧和氯化锶等。
采用加入释放剂来消除干扰,必须注意的是释放剂的加入量。
另入一定量才能起释放作用,但有可能因加入过量而降低吸收信号。
最佳加入量要通过实验来确定。
4.2加入保护剂加入一种试剂使待测元素不与干扰元素生成难挥发的化合物,可保护待测元素不受干扰,这种试剂叫保护剂。
保护剂的作用机理有三:一是保护剂与待测元素形成稳定的络合物,阻止干扰元素与待测元素形成难挥发化合物。
二保护剂与干扰元素形成稳定的化合物,避免待测元素与干扰元素形成难挥发的化合物;三是保护剂与待测元素和干扰元素形成各自的稳定络合物,避免待测元素与干扰元素形成难挥发的化合物。
需要指出的是使用有机保护剂,因有机络合物容易解离而使待测元素更易原子化。
4.2加入缓冲剂于试样和标准溶液加入一种过量的干扰元素,使干扰影响不再变化,进而抑制或消除干扰元素对测定结果的影响,这种干扰物质称为缓冲剂。
需要指出的是,缓冲剂的加入量,必须大于吸收值不再变化的干扰元素的最低限量。
应用这种方法往往明显地降低灵敏度。
4.4采用标准加入法首先说明的是,标准加入法只能消除“与浓度无关”的化学干扰,而不能消除“与浓度有关的化学干扰。
但是由于标准加入法在克服化学干扰方面的局限性,因此在实际工作中必须检测标准加入法测定结果的可靠性。
一般是通过观察稀释前后测量的结果是否一致来断定。
电热原子吸收光谱法以其固有的高灵敏度和选择性成为生物和环境样品中测定痕量元素最有效的方法之一.然而,问题在于分析样品由复杂和易变的材料组成.在一个脉冲加热的电热器中常常出现潜在的化学干扰的影响.这种化学干扰经常导致对原子吸收信号的印制.减少这种干扰的方法有:恒温炉,石墨平台,探针,电容放电加热或稳定温度平台炉—STPE,和塞曼背景校正消除石墨炉在加热过程中时间和空间的不等温性.样品在石墨炉中的化学处理是一种简单的减少干扰的方法,尤其在大量基体的样品中测定易挥发元素.以下便简述在石墨炉原子吸收中的化学处理(基体改进剂)及其应用。
5 基体改进剂5.1基体改进技术所谓基体改进技术,就是往石墨炉中或试液中加入一种化学物质,使基体形成易挥发化合物在原子化前驱除,从而避免待测元素的挥发;或降低待测元素的挥发性以防止灰化过程中的损失。
随着研究和应用工作的深入和发展,基体改进剂在控制和消除背景吸收、灰化损失、分析物释放不完全、分析物释放速率的变化、难解离气相化合物的形成及电离、分析物排出速率的变化等方面均起着重要作用。
考虑到石墨炉原子化器中的基体复杂,某种改进剂实际上不是仅起单一的改进作用,例如往氯化钠基体中加入某种改进剂,可使上述几种干扰均可不同程度地受到控制。
因此,有必要从基体改进效应的角度来综合评述和介绍这成易挥发化合物在原子化前驱除,从而避免待测元素的挥发;或降低待测元素的挥发性以防止灰化过程中的损失。
随着研究和应用工作的深入和发展,基体改进剂在控制和消除背景吸收、灰化损失、分析物释放不完全、分析物释放速率的变化、难解离气相化合物的形成及电离、分析物排出速率的变化等方面均起着重要作用。
考虑到石墨炉原子化器中的基体复杂,某种改进剂实际上不是仅起单一的改进作用,例如往氯化钠基体中加入某种改进剂,可使上述几种干扰均可不同程度地受到控制。
因此,有必要从基体改进效应的角度来综合评述和介绍这种技术的原理、作用和应用。
目前,基体改进技术已广泛应用于石墨炉原子吸收测定生物和环境样品中的痕量金属元素及其化学形态。
到目前为止,约有50余种基体改进剂已用于30余种元素的分析测定。
但是,关于基体改进的机理,目前的研究工作尚不多,还未建立起一般的理论来解释观测到的众多的基体改进效应。
5.2 基体改进剂Ediger首先提出了硝酸镍和硝酸铵等无机试剂可作为基体改进剂用于石墨炉原子吸收测定某些金属元素。
到目前,基体改进剂约有50余种,它们分为无机试剂、有机试剂和活性气体三种类型。
5·2·1无机改进剂许多铵盐、无机酸、金属氧化物和金属盐类已作为有效的基体改进剂用于石墨炉原子吸收分析,如硝酸铵、硫酸铵、焦磷酸铵、磷酸铵、磷酸二氢铵、硫化铵、硝酸、高氯酸、磷酸、盐酸、过氧化氢、硫化钠、硫氰化钾、过氧化钠、重铬酸钾、高锰酸钾、硝酸锂、镍、铂、钯、镧、铜、铁、钼、铑、银、钙等。
无机基体改进剂已用于下述元素的测定:铅、镉、锌、铜、锰、金、汞、硒、砷、碲、铋、锑、镓、锗、磷、硅和硼等元素。
例如大气环境中铍的测定就可用Al作基体改进剂铍及其化合物是剧毒物质。
大气环境中的铍主要来自铍冶炼 , 铍合金制造、X射线管的制造 , 氧化铍陶瓷的制造及原子能工业等。
铍蒸气在空气中易被氧化为很轻的氧化铍粉尘,而铍化合物主要进入人体的途径为呼吸道。
因此铍化合物对人体的侵害主要来自于空气。
大气环境中铍的采样测定通常使用的是过氯乙稀滤膜 , 并用浓氨水作基体改进剂。
该方法在实际操作中存在诸多不便。
基于此,我们选择了用0.22um孔径的微孔滤膜作为采样滤料 , 用铝作为基体改进剂来对大气颗粒物中的铍进行采样并测定。