JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。
14针JTAG接口定义：
14针JTAG接口定义引脚名称描述
1、13VCC接电源
2、4、6、8、10、14GND接地
3nTRST测试系统复位信号
5TDI测试数据串行输入
7TMS测试模式选择
9TCK测试时钟
11TDO测试数据串行输出
12NC未连接
20针JTAG接口定义引脚名称描述
1VTref目标板参考电压，接电源
2VCC接电源
3nTRST测试系统复位信号
4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地
5TDI测试数据串行输入
7TMS测试模式选择
9TCK测试时钟
11RTCK测试时钟返回信号
13TDO测试数据串行输出
15nRESET目标系统复位信号
17、19NC未连接
下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：
在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B已正常工作，在使能片内PLL电路的情况下，SDCLK/MCLKO引脚（Pin77）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC引脚（Pin50）和其他一些引脚也应有波形输出。
在保证S3C4510B已正常工作的情况下，可使用ADS或SDT通过JTAG接口对片内的部件进行访问和控制。
在此，首先通过对片内控制通用I/O口的特殊功能寄存器的操作，来点亮连接在P3～P0口上的4只LED，用以验证ADS或SDT调试环境是否已正确设置，以及与JTAG接口的连接是否正常。
ADS和SDT均为ARM公司为方便用户在ARM芯片上进行应用开发而推出的一整套集成开发工具，其中，ADS为SDT的升级版本。该系统的调试以ADS为例，同时也适合于SDT开发环境。
连接好硬件后，打开AXD Debugger，建立与目标板（待调试的系统板）的连接，AXDDebugger 有软件仿真方式和带目标系统的调试方式，此时应工作在带目标系统的调试方式。
选择菜单System Views→Command Line Interface功能，该选项为AXD Debugger的一个命令行窗口，可在该窗口内输入各种调试命令，使用非常方便。在命令行窗口输入：
>setmem0x3FF5000,0xFFFF,32
>setmem0x3FF5008,0xFFFF,32
setmem命令用于对特定的地址设置特定的值，待设定的值可以是8位、16位或32位，在此，对通用I/O口的模式寄存器和数据寄存器设置相应的值，点亮LED。
S3C4510B在复位后，特殊功能寄存器的基地址为0x3FF0000,由表5-2-3可知，I/O口的模式寄存器偏移地址为0x5000,因此，I/O口的模式寄存器的物理地址为0x3FF5000，设定该寄存器的值为0xFFFF，将I/O口置为输出方式。I/O口的数据寄存器的物理地址为0x3FF5008，设定该寄存器的值为0xFFFF，将I/O口的输出置为高电平。
在执行完以上两条命令后，连接在通用I/O口的4只LED应被点亮，表示调试系统的软、硬件连接完好，可进行下一步的调试工作，否则，应重新检查调试系统。
用户若使用SDT作为调试工具，操作方法类似。连接好硬件后，打开ARM Debugger for Windows，建立与目标板（待调试的系统板）的连接，选择菜单View→Command功能，即可显示命令行窗口，在命令行窗口输入：
Debug：let0x3FF5000=0xFFFF
Debug：let0x3FF5008=0xFFFF
执行完以上两条命令后，连接在通用I/O口的4只LED应被点亮。
关于通用I/O口更具体的工作原理和使用方法，可参考S3C4510B用户手册。
用户系统若能正常完成上述操作并成功点亮连接在P3～P0口上的LED显示器，则表明
S3C4510B已在正常工作，且调试环境也已正确建立，以后的调试工作就相对简单。笔者曾遇到多个用户系统因为不能完成这步工作，使开发者失去信心而最终放弃。
很多工程师在对按键去抖动都会采用软件延时的方法,今天介绍下关于Piccolo DSP GPIO所具有的硬件去抖功能.
信号首先同步于系统时钟，在输入到内核改变之前要经过一定周期个数的量化,这种方式可以滤除噪声。量化窗口输入的结构示意图如图所示。
由图可知，外部的管脚输入信号经过一个量化窗口到达DSP内核。量化窗口的时间宽度取决于采样间隔和采样个数。采样间隔由GPxCTRL寄存器决定，采样个数由寄存器GPxQSELn决定。
如果QUxLPRDn=0，采样间隔为一个系统周期整数倍。如果QUxLPRDn=N(N≠0)，
采样周期为系统周期的2N倍。如表所示
采样个数可以配置位三个或六个。通过寄存器GPAQSEL1、GPAQSEL2、GPBQSEL1来配置，当外部管脚电平状态发生变化时，量化窗口检测到三个或六个周期内相同的状态时，才把此次状态改变传送到内核，否则会当成杂波滤除。
