光谱仪的工作原理元素的原子在激发光源的作用下发射谱线，谱线经光栅分光后形成光谱，每种元素都有自己的特征谱线，谱线的强度可以代表试样中元素的含量，用光电检测器将谱线的辐射能转换成电能。检测输出的信号，经加工处理，在读出装置上显示出来。然后根据相应的标准物质制作的分析曲线，得出分析试样中待测元素的含量。
表面轮廓仪介绍
表面轮廓仪 - 简介
表面轮廓仪LK-200M型表面轮廓仪采用广精精密最新的基于windows版本的测量软件，具有强大卓越的数据处理分析功能。测量时，零件装夹位置即使任意放置，也能得到满意的测量结果；即使需要测量长度为220mm的工件，测量软件也能保证其1μm的采样步长。
LK-200H型表面轮廓仪采用耐用可靠的16位A/D功能板，其极高的分辨率量程比（1/65536），用户即使需要大量程测量，仍能保持极高的测量精度。
LK-200M型表面轮廓仪采用工控计算机处理测量数据及仪器控制操作。其高质量、高可靠性及突出的防尘、防振、防油、防静电能力使广精精密用户将使用维护成本降至最低。
表面轮廓仪 - 原理
表面轮廓仪LK-200M型表面轮廓仪采用直角坐标法，传感器移动式。直线运动导轨采用高精度气浮导轨，作为测量基准；
电器部分由高级计算机组成；测量软件采用基于中文版Windows操作系统平台的系统测量软件，完成数据采集、处理及测量数据管理等工作。
表面轮廓仪 - 功能
角度处理：两直线夹角、直线与Y轴夹角、直线与X轴夹角
点线处理：两直线交点、交点到直线距离、交点到交点距离、交点到圆心距离、交点到点距离
圆处理：圆心距离、圆心到直线的距离、交点到圆心的距离、直线到切点的距离线处理:直线度、凸度、LG凸度、对数曲线
表面轮廓仪 - 技术规格
表面轮廓仪测量长度：≤200mm
Y量程：10mm
可测零件直径：12mm≤内圈≤300mm，外圈可较大
工作压力：0.35～0.43Mpa
气源压力：0.45～0.80Mpa
气源流量：≥0.2m³/min
电源：AC220V±10%50Hz
环境要求：温度：10～30℃；相对湿度：＜85%
主机重量：约200Kg
主机尺寸：750mm×480mm×1300mm
表面轮廓仪 - 仪器精度
表面轮廓仪导轨直线性系统精度：≤0.2μm/100mm
示值误差:0.6%-0.15%±3μm
电感传感器分辩率/量程：1/65536
X向光栅分辩率:1μm国产
表面轮廓仪 - 电器系统
表面轮廓仪用于处理测量数据，仪器控制操作界面的工控机电感传感器及16位A/D转换功能板
前置放大箱
光栅尺
彩色喷墨打印机
表面轮廓仪 - 机械结构
表面轮廓仪高精度气浮导轨
花岗岩工作台面
进口滚珠丝杆立柱
硬质合金测量头（斜测头、锥形测头）及宝石球测头
空气过滤系统
装夹机构
人体工学计算机台
表面轮廓仪 - 测量软件
表面轮廓仪的测量软件基于windows操作系统为操作平台
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双面轴承振动检测装置
双面轴承振动检测装置，包括转动轴（1）、振动检测触头（2）、机架（12）、轴承上料装置、轴承翻转装置（10、101、102）、轴承搬送装置（3）、分类排出装置（20）、中央控制系统和若干传感器，传感器、振动检测触头与中央控制系统电连接，中央控制系统分别与轴承上料装置、轴承翻转装置（10、101、102）、轴承搬送装置（3）、分类排出装置（20）电连接，其特征在于轴承上料装置包括2根顶轴（4）、驱动气缸（7）和2上料通道（9）；所述的2顶轴（4）设置在机架（12）上的轴套（13）内，2顶轴（4）前端分别设有上料压爪（11），所述的上料通道（9）设置在顶轴（4）前部，上料通道（9）上设置有压爪孔；所述的驱动气缸（7）上设有推动连杆（71），推动连杆（71）与驱动气缸（7）相连接，推动连杆（71）上方通过传动装置（5）与2顶轴（4）相连接，推动连杆（71）下方则固定设有推动轴（8），所述的2上料通道（9）分别设置在推动轴（8）的前端。
磁粉探伤仪的原理和适用范围
铁磁性材料被磁化后，其内部会产生很强的磁感应强度，磁力线密度增大到几百倍到几千倍，如果材料中存在不连续性，磁力线会发生畸变，部分磁力线有可能逸出材料表面，从空间穿过，形成漏磁场，漏磁场的局部磁极能够吸引铁磁物质。如果
在工件上撒上磁粉，漏磁场会吸附磁粉，形成与缺陷形状相近的磁粉堆积(磁痕)，从而显示缺陷。将工件磁化后，磁力线应均匀平行的穿过工件，若遇到缺陷，磁力线受到阻碍，磁力线会绕过缺陷穿过工件。缺陷在表面或近表面时，部分磁力线可能逸出材料表面，形成漏磁场，如果在工件上撒上磁粉，漏磁场会吸附磁粉，形成与缺陷形状相近的磁粉堆积(磁痕)，从而显示缺陷。从原理可知，缺陷形状与磁力线方向垂直的缺陷容易被发现。
磁粉探伤只能检测出铁磁性材料制成的工件表面和近表面的裂纹及其它缺陷。
γ射线探伤仪的原理
γ射线有很强的穿透性，γ射线探伤就是利用γ射线得穿透性和直线性来探伤的方法。γ射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器来接收。当γ射线穿过（照射）物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，获得的信号就弱。因此，用γ射线来照射待探伤的零部件时，若其内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过的强度就大些，若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收器也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平面投影和射线的透过量。一般情况下，γ射线探伤是不易发现裂纹的，或者说，γ射线探伤对裂纹是不敏感的。因此，γ射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷最敏感。即γ射线探伤适宜用于体积型缺陷探伤，而不适宜面积型缺陷探伤。
