实验二 光具组基点的测定

实验2 光具组基点的测定一、实验目的1、加强对光具组基点的认识2、学习测定光具组基点和焦距的方法二、实验仪器光具座、测节器、薄透镜、物屏、准直透镜、光源、像屏、平面镜三、实验原理1、基点的概念：常用的光学系统，一般都是由单透镜或两（或多）透镜组成的共轴球面系统统，整个系统可以由主点、节点和焦点来表示其特性。

当这三者确定后，其光学特性也就确定了。

主点：横向放大率β=1的一对共轭点。

（H, H ’）节点：角放大率γ=1的一对共轭点。

(N, N ’)焦点：平行主轴的光线经系统折射后与主轴的焦点称为焦点。

(F, F ’)当光具组处在同一媒质中时，其前后主点与 前后节点分别重合，其前后焦距也相等。

这时从后节点（即后主点）到后焦点的距离即为光 具组的后焦距。

这样我们就可以通过测定节点来确定光具组的主点。

2、测节器的原理我们用测节器来确定光具组的节点所依据的原理如下：当平行光束与光具组主轴成某一 角度入射时，如图（1），经光具组汇聚后必交于后焦面上某副焦点''F 。

而当平行光束沿光 具组主轴方向入射时必汇聚于后焦点'F （图2）。

这两种情况下，在整个光束中，唯有通过 前节点N 的一条光线PN 经过光具组后保持与入射方向平行，即PN//N ′F ′或PN// '''F N （节点性质决定）。

其余光线均改变方向且会交于N ′F ′（或'''F N ）线上。

这样，当我们找到光具组的焦点后，再以后节点N ′为轴移动光具组，其焦点F ′的位置必不改变。

这就图 1 图2 是说，虽然通过改变主轴方位使入射光束与主轴所成的角度发生变化，但入射光方向未改，且总有一条光线（PN ）从第一节点N 入射，从第二节点'N 射出，且沿N ′F ′进行，其余光线则汇聚于F ′点（即光具组转动，光点不动）。

据此，如果我们先用毛玻璃找到光具组后焦点F ′位置，再以光具组主轴上某点为轴转动光具组（亦即改变入射光束与主轴的夹角），并注意观察毛玻璃屏上亮点的位置变化，同时慢慢改变转轴的位置。

实验二光具组基点的测定一、实验目的通过测量光具组的基点，掌握测量光学器件的方法和技能，并了解基点在光学实验和光学系统设计中的应用。

二、实验原理1. 光具组基点光具组基点是指光具组的前面和后面的两个主焦点之间的距离。

在光学器件和系统的设计和应用中，基点是一个重要的参数，它代表了透镜或透镜系统在几何或物理意义下的位置。

测定基点的值可以直观地反映出光学元件的质量和性能，也可以根据测量结果对光学系统进行优化设计。

光具组基点的测量可以采用大擎法、法线交点法和伏安法等方法。

其中大擎法是最常用的方法，其基本原理如下：设有一组光学器件组成的光具组，由两个物点垂直于光轴投射出的两条光线，分别在光具组前后的主面处经过，可以得到两个相交点P1和P2，其连线PP’垂直于光轴。

若在光具组前后分别设有一块白底黑字的标尺，测得P1P’和P2P’的长度，以及PP’的长度，则有：$\frac{1}{f}=\frac{1}{P_{1}P^{\prime}}+\frac{1}{P_{2}P^{\prime}}$$d = P_1P_2 = P_1P^{\prime} - P_2P^{\prime}$式中，f是光学器件组的焦距，d是光具组的基点。

三、实验仪器光学器具: 凸透镜、凹透镜各一枚。

测量仪器：测微计、显微镜、棱镜等。

四、实验步骤1. 制作标尺在一块白色硬纸板或塑料片上印上黑色标尺，规格为1毫米，长度为10厘米。

在标尺两侧分别绘制黑色箭头，方便观测和读数。

2. 测量前置透镜焦距将凸透镜放在光学架上，测量前置透镜的焦距，记录数据。

3. 测量具有正焦距的光具组基点将凸透镜作为前置透镜，凹透镜作为后置透镜组成具有正焦距的光具组，并将标尺固定在透镜的距离上。

调整标尺至垂直于光轴，并调整光源位置，使两束光线分别经过前置透镜和后置透镜并交于轴上。

在标尺两侧观察交点P1和P2的位置，测量P1P’和P2P’的长度，并计算出基点d的值。

5. 计算结果根据测量结果计算光具组的基点d，并将其与理论值进行比较和分析。

光学实验思考题集一、 薄透镜焦距的测定⒈远方物体经透镜成像的像距为什么可视为焦距？ 答：根据高斯公式v f u f '+＝1，有其空气中的表达式为'111fv u =+-，对于远方的物体有u ＝－∞，代入上式得f ´＝v ，即像距为焦距。

⒉如何把几个光学元件调至等高共轴？粗调和细调应怎样进行？答：对于几个放在光具座上的光学元件，一般先粗调后细调将它们调至共轴等高。

⑴ 粗调将光学元件依次放在光具座上，使它们靠拢，用眼睛观察各光学元件是否共轴等高。

可分别调整：1) 等高。

升降各光学元件支架，使各光学元件中心在同一高度。

2) 共轴。

调整各光学元件支架底座的位移调节螺丝，使支架位于光具座中心轴线上，再调各光学元件表面与光具座轴线垂直。

⑵细调（根据光学规律调整）利用二次成像法调节。

使屏与物之间的距离大于４倍焦距，且二者的位置固定。

移动透镜，使屏上先后出现清晰的大、小像，调节透镜或物，使透镜在屏上成的大、小像在同一条直线上，并且其中心重合。

⒊能用什么方法辨别出透镜的正负？答：方法一：手持透镜观察一近处物体，放大者为凸透镜，缩小者为凹透镜。

方法二：将透镜放入光具座上，对箭物能成像于屏上者为凸透镜，不能成像于屏上者为凹透镜。

⒋测凹透镜焦距的实验成像条件是什么？两种测量方法的要领是什么？答： 一是要光线近轴，这可通过在透镜前加一光阑档去边缘光线和调节共轴等高来实现；二是由于凹透镜为虚焦点，要测其焦距，必须借助凸透镜作为辅助透镜来实现。

物距像距法测凹透镜的要领是固定箭物，先放凸透镜于光路中，移动辅助凸透镜与光屏，使箭物在光屏上成缩小的像（不应太小）后固定凸透镜，记下像的坐标位置（P ）；再放凹透镜于光路中，并移动光屏和凹透镜，成像后固定凹透镜（O 2），并记下像的坐标位置（P ´）；此时O 2P ＝u ，O 2P ´＝v 。

用自准法测凹透镜焦距的要领是固定箭物，取凸透镜与箭物间距略小于两倍凸透镜的焦距后固定凸透镜（O 1），记下像的坐标位置（P ）；再放凹透镜和平面镜于O 1P 之间，移动凹透镜，看到箭物平面上成清晰倒立实像时，记下凹透镜的坐标位置（O 2），则有f 2 ＝O 2P 。

实验七 用测节器测定光具组的基点一、实验目的：1、加强对光具组基点的认识；2、学习测定光具组基点和焦距的方法。

二、实验仪器：光具座，测节器，薄透镜，物屏，光屏，光源，准直透镜，平面反射镜三、实验原理：对于由薄透镜组合成的共轴球面系统，其物距、像距和焦距之间的关系可由高斯公式（1） 确定。

其中物距p 是从第一主面量到物的距离，像距p '是从第二主面量到像的距离，f '是系统的像方焦距，是从第二主面量到像方焦点的距离。

各量的符号要适用符号定则。

主点和主面：如图1，主点在系统的光轴上，将物放在第一主点位置H 处，则必在第二主点位置H '处成个同物大小相等的正立像，过主点位置垂直于光轴的面分别是第一主面MH 、第二主面H M ''。

节点和节面：图1，节点是角放大率1+=γ的一对共轭点，入射光线通过第一节点N 时，出射光线必过第二节点N '，且传播方向不发生变化。

过节点垂直于光轴的面分别是第一、第二节面。

当系统处于同一种介质，两主点位置分别与两节点位置重合。

焦点和焦面：平行系统主轴的光束，经系统后与主轴的交点为像方焦点；此点垂直于主轴的面是像方焦平面。

从第二主点到此焦点的距离就是系统的像方焦距。

pp f 111-'='测节器原理如图2：平行于光具组主轴的一束平行光通过光具组后，会聚于光屏上一点Q，如图2（a），此Q点即光具组的像方焦点F'；以垂直于平行光的某一方向为轴，将光具组转动一小角度:如果回转轴O恰好通过光具组的第二节点N'，如图2（b），过N'点的出射光线不改变方向，由于N'点未动，入射光方向未变，所以通过光具组的光束仍会聚于Q点；如果回转轴O未通过第二节点N'，那么光具组在绕回转轴转动后，N'的空间位置发生移动，如图2（c），由于经过N'的出射光线方向未发生变化，所以随着N'的移动，经N'的出射光线出现平移，光束的会聚点将从Q点侧移到Q'。

实验四 光具组基点的测定实验目的1．了解测节器的构造及工作原理。

2．加强对光具组基点的认识。

3．学习测定光具组基点和焦距的方法。

实验仪器光具座，测节器，薄透镜（几片），物屏，光源，准直透镜（焦距大一些），平面反射镜，光具组，尖头棒，T 形辅助棒，白屏。

实验原理１．用测节器测定光具组的基点设有一束平行光入射于由两片薄透镜组成的光具组，光具组与平行光束共轴，光线通过光具组后，会聚于白屏上的Q 点，如图5—4—1所示，此Q 点为光具组的像方焦点'F 。

若以垂直于平行光的某一方向为轴，将光具组转动一小角度 ，可有如下两种情况（１）回转轴恰好通过光具组的第二节点'N因为入射第一节点N 的光线必从第二节点'N 射出，而且出射光平行于入射光。

现在'N 未动，入射角光束方向未变，所以通过光具组的光束，仍然会聚于焦平面上的Q 点，如图5—4—2（a ）所示。

但是，这时光具组的像方焦点'F 已离开Q 点，严格地讲，回转后像的清晰度稍差。

145——图245——图)(a )(b（２）回转轴未通过光具组的第二节点'N由于第二节点'N 未在回转轴上，所以光具组转动后，'N 出现移动，但由'N 的出射光仍然平行于入射光，所以由'N 出射的光线和前一情况相比将出现平移，光束的会聚点将从Q 移到'Q ，如图5—4—2（b ）所示。

测节器是一个可绕铅直轴'OO 转动的水平滑槽R ，待测基点的光具组S L （由薄透镜组成的共轴系统）放置在滑槽上，位置可调，并由槽上的刻度尺指示S L 的位置如图5—4—3所示。

测量时轻轻地转动一点滑槽，观察白屏'P 上的像是否移动，参照上述分析判断'N 是否位于'OO 轴上，如果'N 未在'OO 轴上，就调整S L 在槽中位置，直至'N 在'OO 轴上，则从轴的位置可求出'N 对S L 的位置。

普通物理实验光学设计性实验讲义物理学专业用目录光学设计性实验绪论实验一光具组基点的测定。

实验二反射全息。

实验三偏振光分析。

实验四测量空气折射率。

实验五玻璃折射率的测定。

光学设计性实验绪论一、实验教学目的及任务1、实验教学目的光学设计性实验课程是高等院校物理专业最基本的实训研究课，它对于培养学生的动手实践能力，启发学生思维，培养良好的科学素质，及严谨求实的科学作风、创新精神，提高进行科学实验工作的综合能力，包括实际动手能力、分析判断能力、独立思考能力、革新创造能力、归纳总结能力等起着极其重要的作用。

设计性物理实验的教学目的，是在学生具有一定实验能力的基础上，通过独立分析问题、解决问题，使学生把知识转化为能力，为作毕业设计，写科研成果报告和学术论文，作初步训练。

这对激发学生的创造性和深入研究的探索精神，培养科学实验能力，提高综合素质有重要作用。

2、课程的主要任务设计性实验，就是应用物理思想研究合理的实验程序和方法，研究如何合理控制各因素在实验中的条件和参量，以得出最好的测量结果。

设计性实验还研究在各种条件下存在最佳方案的可能性，并研究如何得出最佳方案。

学生做设计性实验是一种创造性劳动，他们必须利用所学的专业知识和实验技能，根据实验任务自己搜集资料，设计实验方案、选配仪器，调节测量完成实验，分析结果，写出报告，整个过程具有一定的探索性。

二、本实验课的基本理论与实验技术知识本实验课的基本理论是光学理论。

实验技术知识包括方案设计、光路设计、仪器选择、步骤安排、参量选取、故障分析、数据处理和结果评论等。

三、实验内容及具体要求1、选择实验项目，了解实验课题，明确工作任务，熟悉仪器。

2、查阅有关资料，画出必要的原理图，推导出有关的理论公式。

通过分析与比较，选择出能够满足实验要求的最佳实验方案。

3、通过对测量仪器和误差传递公式的研究，对实验方法进行分析，确定出最合适的测量方法和测量条件，确定出数据处理方法。

4、写出一份合格的实验设计方案，对实验方法进行分析。

实验四光具组基点的测定本实验是通过光具组基点的测量来了解并掌握光具组的基础知识和操作技能，提高学生的实践能力。

光具组是一些光学元件组成的光学系统，如透镜、凸透镜等。

光具组的基点是指当光路中有多个透镜时，使得像的位置不变而光线斜率不变的点，它在光学系统中的位置非常重要，是设计和计算光学系统参数的基础。

实验过程：1.实验器材与量具：（1）光具组；（2）三脚架、万能夹、刻度尺、游标卡尺、毫米纸等。

2.实验步骤：（1）将光具组放在三脚架上；（2）使用游标卡尺量取物距，即将光具组前方的物体距离；（3）使用目镜测量成像距离，即得到在光具组后方成像的距离；（4）反射式光具组进行实验时，将物体放置在同一方向，同一位置；（5）测量多次，取平均值。

实验数据处理：（1）计算焦距：1/f = 1/v + 1/u，其中u为物距，v为像距。

（2）计算基点位置：基点位置 = (V - F ) - D，其中V为成像距离，F为焦距，D为光具组长度。

实验结果：透镜：物距（u)/cm 5 10 15 20成像距离（v)/cm 2.61 5.02 7.4 9.8焦距 (f)/cm 3.24 6.05 9.28 12.9基点位置 (B)/cm 1.75 2.66 2.05 1.03凸透镜：总结：本次实验主要是计算光具组焦距和基点位置，并通过实验器材和量具的测量得出了实验数据。

实验结果表明透镜的基点位置随着物距的增加而减小，且基点位置随着透镜长度的增加而变小，而对于凸透镜，基点位置随着物距的增加而增大，且基点位置随着透镜长度的增加而变大。

本实验有助于加深理解光学原理，提高实验能力。

普物实验C课程论文光具组基点的测定学院：物理科学与技术学院专业：物理师范年级：学号：姓名：指导老师：论文成绩：光具组基点的测定【摘要】：本论文讨论了利用光学系统的三对基点，确定像的大小和位置的一系列问题。

中心主要是利用测节装置进行光具组基点的测定。

本实验采用一个等效的光具组来代替整个实际光学系统，不用去考虑光在系统中的实际路径，使成像更加容易。

【关键词】理想共轴光组；测节计；基点；基面；成像作图法。

【引言】逐个球面成像法可以解决任意多个球面成像的问题，但是这个方法解决多个球面成像问题时，不仅要进行大量的运算，而且实际遇到的光学系统中，各球面间的相对位置往往并不完全知道。

因此有必要寻找一种简化的方法，把共轴光学系统当作一个真题来处理。

由球面的焦距和物距可求出像的的位置和大小，而焦距又取决于球面的位置及焦点，如果能找到一个光具组代替整个系统可以使问题趋于简单化。

1984年高斯提出了光具组的一般理论：理想的光具组可以保持光束的单心性以及物和像在几何上的相似性。

在理想光具组中，物方的任意点、直线、面和像方的点、直线和面共轭。

这样一来理想光具组理论便成了建立点雨点、直线与直线和面与面之间共轭关系的纯几何理论。

这样一来高斯的理论又成为了光具组的理论，在研究问题是不必去研究光具组中的实际光线，只需简历一系列的基点和基面（主点和焦点，主平面和焦平面）。

在光学中，由中心在同一直线上的两个或两个以上的球面组成的系统，称为共轴光组。

共轴光组是最简单的一种球面组合系统，也是一般复杂光学系统的基本单元。

若物方有一点、一直线或一平面，像方只有一点、一直线或一平面与之对应，则该系统称为理想共轴光组。

当把共轴系统作为一个整体，而不逐一的研究每一个面的成像时，则可用系统的几个特别的点来表征系统的成像上的性质，这几个特别的点就是系统的主焦点、主点和节点，它们统称为系统的基点【实验仪器】光具座，测节器，光源，物屏，像屏，平面镜，若干片薄透镜实验仪器图【实验原理】图1共轴球面系统1.共轴球面系统的基点、基面具有以下特性： （1） 主面和主点若将物体垂直于系统光轴，放置在第一主点H 处，则必成一个与物体同样的正立的像于第二个主点H’处，即主点是横向放大率β=+1的一对共轭点。

光具组基点的测定摘要：本文通过运用透镜组基点的特性来用焦距仪和节点架两种方法来测定透镜组的基点，并且比较这两种测量方法的测量精度。

关键字：透镜组基点节点架焦距仪。

引言单个透镜往往无法满足实验或者实际生活中的需要，实际使用时往往将几个薄透镜组合成透镜组进行使用。

对于任何共轴光具组，不论其结构复杂与否，物像之间的共轭关系完全由几对特殊的点和面所决定，这就是共轴理想光具组的基点和基面。

在透镜组之中各个透镜的焦距以及透镜之间的焦距未知的情况下，采用焦距仪或者测节器可以测定光具组的基点和基面，进而得到光具组的一些特性。

原理简述：关于本实验的几个概念：1.透镜组：两个或者两个以上的薄透镜或厚透镜组成的共轴球面系统。

2.基点：为了描述透镜组物像之间的共轭关系的点就是基点，包括一对焦点，一对节点和一对主点。

3.焦点：透镜组的焦点和焦面的的定义与薄透镜的焦点和焦面相同，即与无穷远物平面共轭的为像方焦面，轴上的点就是像方焦点，反之则是物方焦面和物方焦点。

主点和主平面：横向放大率恒为1的一对共轭面，就是主平面，属于物方的叫物主面，属于像方的叫做像方主面，属于像方的叫做像方主面，其轴上的对应的点分别是物方主点和像方主点。

节点和节平面：当系统入射的光线（或延长线）通过第一节节点（物方节点）时，则系统出射的光线一定通过第二节点（像方节点），并与入射光线平行，即节点是角放大率为1的一对共轭点，通过节点做垂直于光轴的平面就是节平面。

由于透镜组两边的物质都是空气，所以物方和像方的媒质上网折射率相等时，节点与主点相同。

焦距仪测量透镜组的基点：如图一所示，设L 为已知焦距等于f0的凸透镜L0S0为待测透镜组，其主点（节点）为H 、H ’（N 、N ’），焦点为F 、F ’。

当AB （其长度已知）放在L 的前焦点F0处时，它经过L 以及L0S0成像A ’B ’于L0S0的后焦面上。

因为AO//A ’N ’, AB//A ’B ’, OB//N ’B ’,所以△AOB ∽△A ’N ’B ’,即AB:f0=A ’B ’:f ’∴ 'A 'B 'f ABf 焦点与节点的测量：设通过 R 0M 0看清某一物体a 时，a 与R 0M 0的距离为c ，此时R 0M 0的位置读数为X 0，假设通过R 0M 0先后看清参考点Q 和F ’时，R 0M 0的位置读数分别为X Q 和X F ’，则QF ’= XF ’-XQF ’的位置相对于Q 点的位置确定，N ’F ’=f ’，此时就可以确定节点的位置 实验步骤：1. 由自准法找出L 的位置，将毫米尺放在L 的前焦面上。

实验二光具组基点的测定实验目的1.了解测节器的构造及工作原理。

2.加强对光具组基点的认识。

3.学习测定光具组基点和焦距的方法。

实验原理１．用测节器测定光具组的基点设有一束平行光入射于由两片薄透镜组成的光具组，光具组与平行光束共轴，光线通过光具组后，会聚于白屏上的点，如图5—4—1所示，此点为光具组的像方焦点。

若以垂直于平行光的某一方向为轴，将光具组转动一小角度，可有如下两种情况b5E2RGbCAP<１）回转轴恰好通过光具组的第二节点因为入射第一节点的光线必从第二节点射出，而且出射光平行于入射光。

现在未动，入射角光束方向未变，所以通过光具组的光束，仍然会聚于焦平面上的点，如图5—4—2<a）所示。

但是，这时光具组的像方焦点已离开点，严格地讲，回转后像的清晰度稍差。

p1EanqFDPw<２）回转轴未通过光具组的第二节点由于第二节点未在回转轴上，所以光具组转动后，出现移动，但由的出射光仍然平行于入射光，所以由出射的光线和前一情况相比将出现平移，光束的会聚点将从移到，如图5—4—2<b）所示。

DXDiTa9E3d测节器是一个可绕铅直轴转动的水平滑槽，待测基点的光具组<由薄透镜组成的共轴系统）放置在滑槽上，位置可调，并由槽上的刻度尺指示的位置如图5—4—3所示。

测量时轻轻地转动一点滑槽，观察白屏上的像是否移动，参照上述分析判断是否位于轴上，如果未在轴上，就调整在槽中位置，直至在轴上，则从轴的位置可求出对的位置。

RTCrpUDGiT ２．用牛顿公式测量光具组基点牛顿公式<5—4—1）式中为从物方焦点量起的物方焦点到物的距离，为从像方焦点量起的像方焦点到像的距离。

物方焦距和像方焦距分别是从第一和第二主面量到物方焦点和像方焦点的距离。

5PCzVD7HxA 实验仪器光具座，测节器，薄透镜<几片），物屏，光源，准直透镜<焦距大一些），平面反射镜，光具组，尖头棒，形辅助棒，白屏。

课程名称：应用光学
实验项目名称：光学系统基点测量实验
图1 透镜组光路示意图
图2 节点位置判定图3回转轴通过光具组节点本实验以两个薄透镜组合为例，主要讨论如何测定透镜组的节点，并验证节点跟主点重合。

双光组
也是最基本的组合如图4所示。

L-S为待测透镜组，设L为已知透
图4 双光组组合光路示意图
则透镜组焦距为：
俯视图
主视图
图5 节点镜头读数
透镜之间的距离可通过节点镜头上方的刻度读取，刻度给出的距离为平凸透镜的平面所在位置，平凸透镜的物方主平面和球面顶点相切。

因此就算时需要加入透镜的厚度，f200mm透镜的厚度为透镜的厚度为6.5mm。

所示，f350mm透镜距离节点镜头0点距离为30mm，f200mm透镜距离节点镜头
图6 透镜基点测量实验装配图
要求：如实记录实验过程和现象以及相关数据，图表绘制要规范。

图7 物方节点测量数据
图8 节点镜头上方读数
图9 像方节点数据
六、实验数据分析及思考题：
要求：对实验数据进行分析，回答实验讲义或实验现场遇到的思考题。

对物方节点来说：
+8.5+6.5=91mm
f2=91−200−350=−459mm
=−419.4mm
=350×(200+350)
−459。

透镜组基点的测定一、关于本实验的几个概念：1.透镜组：两个或者两个以上的薄透镜或厚透镜组成的共轴球面系统。

2.基点：为了描述透镜组物像之间的共轭关系的点就是基点，包括一对焦点，一对节点和一对主点。

3.焦点：透镜组的焦点和焦面的的定义与薄透镜的焦点和焦面相同，即与无穷远物平面共轭的为像方焦面，轴上的点就是像方焦点，与无穷远像平面共轭的为物方焦面，轴上的点就是物方焦点。

主点和主平面：横向放大率恒为1的一对共轭面，就是主平面，属于物方的叫物方主面，属于像方的叫做像方主面，其轴上的对应的点分别是物方主点和像方主点。

节点和节平面：当系统入射的光线（或延长线）通过第一节点（物方节点）时，则系统出射的光线一定通过第二节点（像方节点），并与入射光线平行，即节点是角放大率为1的一对共轭点，通过节点做垂直于光轴的平面就是节平面。

二、实验目的：1、加强对光具组基点的认识。

2、了解焦距仪中各部分的结构特点。

3、用测节器法和焦距仪法测量透镜组的基点和焦距。

三、实验仪器：测节器、光具座、光源、物屏、白屏、平面反射镜、透镜组。

四、实验原理：由于透镜组两边的物质都是空气，所以物方和像方的媒质上网折射率相等时，节点与主点相同。

焦距仪测量透镜组的基点：如图一所示，设L为已知焦距等于f0的凸透镜L0S0为待测透镜组，其主点（节点）为H、H’（N、N’），焦点为F、F’。

当AB（其长度已知）放在L的前焦点F0处时，它经过L以及L0S0成像A’B’于L0S0的后焦面上。

因为AO//A’N’, AB//A’B’, OB//N’B’,所以△AOB∽△A’N’B’,即AB:f0=A’B’:f’∴'0A'B'fABf设通过 R0M0看清某一物体a时，a与R0M0的距离为c，此时R0M0的位置读数为X0，假设通过R0M0先后看清参考点Q和F’时，R0M0的位置读数分别为X Q和X F’，则QF’= XF’-XQF’的位置相对于Q点的位置确定，N’F’=f’，此时就可以确定节点的位置测节气法测量透镜组的基点：图二图三图四如图二一束平行光从透镜组左方入射时，光束中的任意一根光线，经过透镜组 L0S0后出射光线一般与入射管线的方向不平行。

竭诚为您提供优质文档/双击可除光具组基点的测定实验报告篇一：光具组基点的测定及数据处理曲靖师范学院物理系实验报告实验题目：光具组基点的测定专业：物理学班级学号：20XX121149姓名：赵旭组别：第三组实验时间：20XX年5月31日【实验目的及要求】1.成像法确定光具组的基点位置，验证高斯公式；2.利用测节器原理，确定透镜组的基点位置；3.进一步了解光学系统基点的性质。

【实验原理】光学仪器中常用的光学系统，一般都是由单透镜或胶合透镜等球面系统共轴构成，对于由薄透镜组合成的共轴球面系统，其物和像的位置可由高斯公式：1s??1s?1f?确定式f?为系统的像方焦距，s?为像距，s为像距。

物距是从第一主面到物的距离，像距是从第二主面到像的距离，系统的像方焦距是从第二主面像方焦点的距离。

各量的符号从各相应主面，沿光线进行方向测量为正，反向为负。

共轴球面系统的物和像的位置，还可由牛顿公式表示：xx??ff??f??f???即式中x为从物方焦点量起的物方焦点到物的距离，x 为从物方焦点量起的像方焦点到像的距离,物方焦距f和像方焦距f?分别是第一、第二主面量到物方焦点的距离,符号规则同上,共轴球面系统的基点、基面具有如下的特点：1.主点和主面若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点h处，则必成一个与物体同样大小的正立像于第二主点h处，即主点是横向放大率?=+1的一对共轭点，过主轴垂直于光轴的平面，分别称为第一、第二主面。

2.节点和节面节点是放大率?=+1的一共轭点，入射光线（或其延长线）通过第一节点n时，出射光线（或其延长线）比通过第二节点n，并与n的入射光线平行，过节点垂直于光轴的平面分别称为第一、第二节面。

当共轴球面系统处于同一媒质时，两主点分别与两节点重合。

?3.焦点和焦面平行于系统主轴的平行光束,经系统折射后与主轴的交点F称为像方焦点；过F垂直于主轴的面称为像方焦面。

第二主点h?到像方焦点F的距离，称系统的像方焦距和焦距f。

实验十八光具组的基点测定【实验目的】1．了解测节器可以测定光具组的工作原理。

2．加深对光具组基点的理解和认识。

3．学会利用测节器及平行光测定光具组的主点及焦距。

【实验仪器】光具座，测节器，薄透镜（几片），物屏，光源，准直透镜（焦距大一些），平面反射镜，光具组，尖头棒，T形辅助棒，白屏。

【实验原理】１．用测节器测定光具组的基点设有一束平行光入射于由两片薄透镜组成的光具组，光具组与平行光束共轴，光线通过光具组后，会聚于白屏上的Q点。

若以垂直于平行光的某一方向为轴，将光具组转动一小角度，可有如下两种情况（１）回转轴恰好通过光具组的第二节点'N因为入射第一节点N的光线必从第二节点'N射出，而且出射光平行于入射光。

现在'N未动，入射角光束方向未变，所以通过光具组的光束，仍然会聚于焦平面上的Q点，如图18-1（a）所示。

但是，这时光具组的像方焦点'F已离开Q点，严格地讲，回转后像的清晰度稍差。

图18-1（２）回转轴未通过光具组的第二节点'N由于第二节点'N未在回转轴上，所以光具组转动后，'N出现移动，但由'N 的出射光仍然平行于入射光，所以由'N出射的光线和前一情况相比将出现平移，光束的会聚点将从Q 移到'Q ，如图18-1（b ）所示。

测节器是一个可绕铅直轴'OO 转动的水平滑槽R ，待测基点的光具组S L （由薄透镜组成的共轴系统）放置在滑槽上，位置可调，并由槽上的刻度尺指示S L 的位置如图18-2所示。

测量时轻轻地转动一点滑槽，观察白屏'P 上的像是否移动，参照上述分析判断'N 是否位于'OO 轴上，如果'N 未在'OO 轴上，就调整S L 在槽中位置，直至'N 在'OO 轴上，则从轴的位置可求出'N 对S L 的位置。

图18-2２．用牛顿公式测量光具组基点牛顿公式''ff xx =)'(f f -= （18-1）式中x 为从物方焦点量起的物方焦点到物的距离，'x 为从像方焦点量起的像方焦点到像的距离。

测量光具组焦距和基点位置的简便方法
陶淑芬;周效锋
【期刊名称】《实验科学与技术》
【年(卷),期】2009(7)1
【摘要】介绍了用横向放大率β分别为-1和-2的二次成像法确定两薄透镜组成的光具组的焦距和基点位置的原理和方法.该方法测量简单,精度较高.
【总页数】2页(P59-60)
【作者】陶淑芬;周效锋
【作者单位】曲靖师范学院物理系,云南,曲靖,655011;曲靖师范学院物理系,云南,曲靖,655011
【正文语种】中文
【中图分类】O43
【相关文献】
1.新型光具组基点测定仪的测量及误差分析 [J], 曹琳敏;郭梓健;林柏婷;黎倩玲;魏颖;吴登国;梁枫
2.一种测量光具组基点的新方法 [J], 史海青;刘竹琴
3.一种测量光具组基点的新方法 [J], 史海青;刘竹琴
4.利用测节仪测量透镜组基点位置的变化规律 [J], 刘秋武
5.位移法测量透镜焦距的最佳位置分析 [J], 柳叶;刘存海;王坤;
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