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数字电路实验报告
数字电路实验报告
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Q3
Q2
Q1
Q0
0
0
1
0
0
1
2
3
4
六、实验报告及其要求 1.分析表 8-2 的实验结果,总结移位寄存器 74LS194 的逻辑功能并写入表格“功能总结”一栏中。 2. 分析串行累加器所得结果的正确性。 3. 写出本次实验心得。
实验三计数译码显示
一、实验目的
1 掌握中规模集成计数器的逻辑功能,以及用中规模集成计数器构成任意进制计数器的方法。
2 熟悉译码器和数码显示器的使用方法。 3 了解 数字可编程器件 实现的 集成计数、译码电路 功能 。 二.实验原理
计数器是一个用以实现计数功能的时序部件,它不仅可以用来对脉冲计数,还常用作数字系统的定时、分 频、执行数字运算以及其他一些特定的逻辑功能。 十进制计数、译码、显示电路中各集成芯片之间的连接 图:功能表:
引脚排列 逻辑表达式
逻辑图
Y = A·B + C·D·E + F·G·H + I·J
实验二触发器
一、实验目的 1. 掌握基本 RS 触发器的逻辑功能。 2. 掌握集成触发器的功能和使用方法。 3. 熟悉触发器之间相互转换的方法。
二、实验原理
触发器是基本的逻辑单元,它具有两个稳定状态,在一定的外加信号作用下可以由一种稳定
三.实验化化仪器及用具: 数学电子技术实验箱。 74192 芯片,74LS00 芯片,74LS248 芯片,LC5011.11 芯片。 四.实验内容: 3、测试 74LS192(或 CC40192)的逻辑功能 4、测试 74LS161 的逻辑功能 5.用两片 74LS192 组成二位十进制加法计数器,输入 1Hz 的连续脉冲,进行由 00 到 99 的累加计数,并记录之。同样 可以将 74LS192 的输出端接译码器,用二个数码管来显示其计数情况。
1000 → 0100 → 0010 → 0001
图 8-2 所示电路是一个有四个有效状态的计数器,这种类型计数器通常称为环形计数器。同时输出端输出脉冲在 时间上有先后顺序,因此也可以作为顺序脉冲发生器。
图 8-2 4 位环形计数器
四、 实验仪器与器件
1.TH-SZ 型数字电路实验箱
2. 两片 74LS194(或 CC40194)
0变1 1变0 0变1 1变0
Q n+1 = S + RQ n 三、实验设备与器材
1、数字逻辑电路实验箱。 2、数字逻辑电路实验箱扩展板。 3、双踪示波器,数字万用表。 4、芯片 74LS00.
四、实验内容及方法
1. 验证基本 RS 触发器的逻辑功 能 按图 2.5.1(a) 用 74LS00 组成基本 RS 触发器,并在 Q 端和 Q 端接两只发光二极管,输 入端 S 和 R 分别接逻辑开关。接通 +5V 电源,按照表 2.5.2 的要求改变 S 和 R 的状态, 观察输出端的状态,并将结果填入表 2.5.2。
按图 1-2 接线,输入端 A、B、C、D 接至逻辑开关输出插口,输出端 Z 接逻辑电平显示输入插口,按 真值表(自拟)要求,逐次改变输入变量,测量相应的输出值,验证逻辑功能,与表 1-1 进行比较,验证 所设计的逻辑电路是否符合要求。
三、实验设备与器件
1、 +5V 直流电源 2、 逻辑电平开关 3、 逻辑电平显示器 4、 直流数字电压表
2、 组合逻辑电路设计举例 用“与非”门设计一个表决电路。当四个输入端中有三个或四个为“1”时,输出端才为“1”。 设计步骤:根据题意列出真值表如表 1-1 所示,再填入卡诺图表 1-2 中。
表 1-1
D0000000011111111 A0000111100001111 B0011001100110011 C0101010101010101 Z0000000100010111
实验四 移位寄存器及其应用
一、 实验目的 1.掌握 4 位双向移位寄存器 74LS194 的逻辑功能及使用方法。 2.熟悉移位寄存器的应用——构成环形计数器和串行累加器。 二、 预习要求 1.复习寄存器及累加运算的有关内容。 2.了解 74LS194 的逻辑功能、移位寄存器构成环形计数器和串行累加器的方法。 三、 实验原理 1.移位寄存器 是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器。 根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。本实验选用的是 4 位双向移位寄存器,型号为 74LS194(TTL 器件)或 CC40194 (CMOS 器件),两者功能完全相同,可以互换使用。 74LS194 的最高时钟脉冲为 36MHZ,其逻辑符号及引脚排列如图 8-1 所示:
个数,使相应的三个输出端中的一个输出为“1”,要求用与门、与非门及或非门实现。
五、实验预习要求 1、 根据实验任务要求设计组合电路,并根据所给的标准器件画出逻辑图。 2、 如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完好? 3、 “与或非”门中,当某一组与端不用时,应作如何处理?
六、实验报告 1、列写实验任务的设计过程,画出设计的电路图。 2、对所设计的电路进行实验测试,记录测试结果。 3、 组合电路设计体会。 注:四路 2-3-3-2 输入与或非门 74LS54
状态转变为另一稳定态;无外加信号作用时,将维持原状态不变。因为触发器是一种具有记
忆功能的二进制存贮单元,所以是构成各种时序电路的基本逻辑单元。
1. 基本 RS 触发器
由两个与非门构成一个 RS 触发器如图 2.5.1(a) 所示。其逻辑功能如下:
Qn+1
D
CP
Qn =0
Qn =1
0 1
基本 RS 触发器的特性方程如下:
图 8-1 74LS194 的逻辑符号及引脚排列 其中:D0~D1 为并行输入端;Q0~Q3 为并行输出端;SR――右移串行输入端;SL--左移串行输入端;S1、S0――操 作模式控制端; ――为直接无条件清零端;CP――为时钟脉冲输入端。74LS194 模式控制及状态输出如表 8.1 所 示:
表 8.1 LS194 模式控制及状态输出表
5、 CC4011×2(74LS00) CC4012×3(74LS20) CC4030(74LS86)
CC4081(74LS08)
74LS54×2(CC4085) CC4001 (74LS02)
四、实验内容 1、设计用与非门及用异或门、与门组成的半加器电路。 要求按本文所述的设计步骤进行,直到测试电路逻辑功能符合设计要求为止。 2、 设计一个一位全加器,要求用异或门、与门、或门组成。 3、设计一位全加器,要求用与或非门实现。 4、设计一个对两个两位无符号的二进制数进行比较的电路;根据第一个数是否大于、等于、小于第二
进行逐项对比测试。
清除
0 1 1 1 1 1 1 1 01 10 10 10 10 00
时钟 CP
Ⅹ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑
表 8.2
串行控制
SL
SR
ⅩⅩ
ⅩⅩ
Ⅹ0
Ⅹ1
Ⅹ0
Ⅹ0
1
Ⅹ
1
Ⅹ
1
Ⅹ
1
Ⅹ
ⅩⅩ
2. 4 位环形计数器
输入 D3D2D1D0
2、移位寄存器的应用 移位寄存器的应用范围很广,可构成移位寄存器型计数器;顺序脉冲发生器;串行累加器;可用作数据转换,即 把串行数据转换为并行数据,或把并行数据转换为串行数据等。本实验研究移位寄存器用作环形计数器和串行累加器 的线路及其原理。 (1)环形计数器 把移位寄存器的输出反馈到它的串行输入端,就可以进行循环移位,如图 8-2 所示。把输出端 Q0 和右移串行输入 端 SR 相连,设初态为 Q3Q2Q1Q0=1000,则在 CP 作用下,模式设为右移,输出状态依次为:
实验一 组合逻辑电路的设计与测试
一、实验目的 掌握组合逻辑电路的设计与测试方法
二、实验原理 1、 使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计
组合电路的一般步骤如图 1-1 所示。
图 1-1 组合逻辑电路设计流程图
根据设计任务的要求建立输入、输出变量,并列出真值表。然后用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化 的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。 根据简化后的逻辑表达式,画出逻辑图,用 标准器件构成逻辑电路。最后,用实验来验证设计的正确性。
表 1-2
DA BC
00
01
11
10
00
01
1
11
1
1
1
10
1
由卡诺图得出逻辑表达式,并演化成“与非”的形式
Z=ABC+BCD+ACD+ABD= ABC ⋅ BCD ⋅ ACD ⋅ ABC
根据逻辑表达式画出用“与非门”构成的逻辑电路如图 1-2 所示。
图 1-2 表决电路逻辑图
用实验验证逻辑功能,在实验装置适当位置选定三个 14P 插座,按照集成块定位标记插好集成块 CC4012。
ⅩⅩⅩⅩ dcba ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ ⅩⅩⅩⅩ
输出 Q3Q2Q1Q0
功能总结
参照图 8-2 进行连线,先用并行送数法预置寄存器为某二进制数码(如 0100),然后进行右移循环,观察寄存器
输出端状态的变化,记入表 8.3 中。 表 8.3
CP
3. 双 D 触发器 74LS74(或 CC4013) 4. 全加器 74LS183
五、 实验内容和步骤
1.测试 74LS194(或 CC40194)的逻辑功能
、S1、S0、SL、SR、D3、D2、D1、D0 分别接逻辑电平开关;Q3Q2Q1Q0 用 LED 电平显示,CP 接单次脉冲源。按表 8.2
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