用过采样和求均值提高ADC分辨率

AN2668Application noteImproving STM32F101xx and STM32F103xxADC resolution by oversamplingIntroductionThe STMicroelectronics Medium- and High-density STM32F101xx and STM32F103xxCort

利用过采样技术提高ADC 测量微弱信号时的分辨率 1. 引言 随着科学技术的发展，人们对宏观和微观世界逐步了解，越来越多领域（物理学、化学、天文学、军事雷达、地震学、生物医学等）的微弱信号需要被检测，例如：弱磁、弱光、微震动、小位移、心电、脑电等[1～3]。测控技术发展到现在，微弱信号检测技术已经相对成熟，基本上采用以下两种方法来实现：一种是先将信号放大滤波

过采样技术提升ADC采样精度其实原理很简单, 很容易明白, 怎样实现提高分辨率?假定环境条件: 10位ADC最小分辨电压1LSB 为 1mv假定没有噪声引入的时候, ADC采样上的电压真实反映输入的电压, 那么小于1mv的话,如ADC在0.5mv是数据输出为0我们现在用4倍过采样来, 提高1位的分辨率,当我们引入较大幅值的白噪声: 1.2mv振幅(大于1LS

传统的并行比较型ADC、逐次逼近型ADC、积分型、压频变换型ADC共同的特点就是都直接将信号幅度进行量化,所以它们的采样频率只要是输入信号频宽的两倍即可,因此均属于NyquistADC,即用信号频带2倍的Nyquist速率进行直接采样,这种ADC虽然输出速率非常快,但是它们的精度一般只能局限于10-20bits,其主要原因是模拟器件很难做到严格的匹配和线路的

讨论:关于ofdm的过采样的问题有3点不太明白:1.为什么要过采样?有些仿真BER曲线时,并没有过采样的.???2.总子载波数是10.为了过采样,在ifft插20个0.那么是总载波

过采样技术提升ADC采样精度其实原理很简单, 很容易明白, 怎样实现提高分辨率?假定环境条件: 10位ADC最小分辨电压1LSB 为1mv假定没有噪声引入的时候, ADC采样上的电压真实反映输入的电压, 那么小于1mv的话,如ADC在0.5mv是数据输出为0 我们现在用4倍过采样来, 提高1位的分辨率,当我们引入较大幅值的白噪声: 1.2mv振幅(大于1LS

AVR121: 使用过采样增加ADC精度翻译：邵子扬 2006年4月13日修订：邵子扬 2006年4月14日shaoziyang@特点• 使用过采样增加精度• 平均和抽取• 平均采样减少噪声1 介绍Atmel的AVR单片机提供了10位精度的模拟到数字转换器。在大多数情况10位精度已经足够了，但是某些情况下需要更高的精度。特殊的信号处理技术可以用来提高测量的精

ADC 的过采样技术其实原理很简单, 很容易明白, 怎样实现提高分辨率?假定环境条件: 10位ADC最小分辨电压1LSB 为1mv假定没有噪声引入的时候, ADC采样上的电压真实反映输入的电压, 那么小于1mv的话,如ADC在0.5mv是数据输出为0我们现在用4倍过采样来, 提高1位的分辨率,当我们引入较大幅值的白噪声: 1.2mv振幅(大于1LSB), 并

感谢大家的支持，还是硬着头皮去找我的辅导师，问题解决了，采用了更先进的分段采样的方法，可以把信号分成5段，每段采一次，加起来就是5X1024=5120够了，必须采用差分的输入方式，硬件改动不大，就加了长的4052切换1V.2V.3V.4V.还有默认的5V做为比较电压，具体分为0.1.2.3.4.共5个段，软件就是先判断模拟量属于哪一个段，然后送入相应的比较电

基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现首先，考虑一个传统ADC的频域传输特性。输入一个正弦信号，然后以频率fs采样--按照Nyquist定理，采样频率至少两倍于输入信号。从FFT分析结果可以看到，一个单音和一系列频率分布于DC到fs /2间的随机噪声。这就是所谓的量化噪声，主要是由于有限的ADC分辨率而造成的。单音信号的幅度和所有频率噪声的RMS幅度之和

w过采样理论简介AD转换的过采样技术一般分三步：1高速（相对于输入信号频谱）采样模拟信号2数字低通滤波3抽取数字序列。采用这项技术，既保留了输入信号的较完整信息，降低了对输入信号频谱的要求，又可以提高采样子系统的精度。奈奎斯特采样定理根据奈奎斯特采样定理，需要数字化的模拟信号的带宽必须被限制在采样频率fs的一半以下，否则将会产生混叠效应，信号将不能被完全恢复

过采样技术提高ADC分辨率1 基本原理ADC 转换时可能引入很多种噪声，例如热噪声、杂色噪声、电源电压变化、参考电压变化、由采样时钟抖动引起的相位噪声以及由量化误差引起的量化噪声。有很多技术可用于减小噪声，例如精心设计电路板和在参考电压信号线上加旁路电容等，但是ADC 总是存在量化噪声的，所以一个给定位数的数据转换器的最大SNR 由量化噪声定义。在一定条件下

利用过采样技术提高ADC 测量微弱信号时的分辨率 1. 引言 随着科学技术的发展，人们对宏观和微观世界逐步了解，越来越多领域（物理学、化学、天文学、军事雷达、地震学、生物医学等）的微弱信号需要被检测，例如：弱磁、弱光、微震动、小位移、心电、脑电等[1～3]。测控技术发展到现在，微弱信号检测技术已经相对成熟，基本上采用以下两种方法来实现：一种是先将信号放大滤波

基于过采样技术提高ADC 分辨率的研究与实现时间:2007-12-07 来源: 作者:李国点击：2135 字体大小:【大中小】很多应用场合需要使用模/数转换器ADC 进行参数测量，这些应用所需要的分辨率取决于信号的动态范围、必须测量的参数的最小变化和信噪比SNR。许多系统中既有很宽的动态范围又要求测量出参数的微小变化，因此就必须使用高分辨率的ADC。然而，高