电镜技术实验报告任课老师:实验名称：实验二：透射电镜使用及常规样品观察实验目的:了解透射电子显微镜的基本原理、电镜生物标本的制备方法及电镜金属标本的制备方法和观察。实验原理:透射电子显微镜是以图象方式提供样品的检测结果，其成像的决定因素是样

TEM制样PPT

透射电镜的样品制备透射电镜的样品制备是一项较复杂的技术，它对能否得到好的ＴＥＭ像或衍射谱是至关重要的．投射电镜是利用样品对如射电子的散射能力的差异而形成衬度的，这要求制备出对电子束＂透明＂的样品，并要求保持高的分辨率和不失真．电子束穿透固体

22+透射电镜制样+

透射电镜样品制备方法由于电子束穿透能力限制，必须把标本切成厚度小于0.1um以下的薄片才适用，这种薄片称为超薄切片。常用的超薄切片厚度是50-70nm。在透射电镜的样品制备方法中，超薄切片技术是最基本、最常用的制备技术。超薄切片的制作过程基

• D 阴极、阳极、栅极 E 正极、负极、栅极• 11、二次电子监测系统不包括（ ）• A 检测器B 阴极射线管C 闪烁器• D 光电倍增器 E 视频放大器• 12、固定液中戊二醛

透射电镜样品制备流程由于透射电镜能观察的样品必须很薄（60～70nm），所以透射电镜的样品准备要求很严格，方法也很单一，仅有一下两种方法：一．负染色技术负染色技术简单快速，可以显示生物大分子、细菌、分离的细胞器以及蛋白晶体等样品的形态、结构

二级复型照片二级复型照片2.萃取复型• 在需要对第二相粒子形状、大小 和分布进行分析的同时对第二相 粒子进行物相及晶体结构分析时。 常采用萃取复型的方法。 • 图7-4是萃取复型的

清华大学化学系 表面与材料实验室 11真空部分• 为了保证电子运动，减少与空气分子的碰撞，因此所有 装置必须在真空系统中，一般真空度为10－2～10－4Pa。 • 利用场发射电子枪

一、样品要求1．粉末样品基本要求（1）单颗粉末尺寸最好小于1μm；（2）无磁性；（3）以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪；2．块状样品基本要求（1）需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；（2）如

试验材料为经过热处理后的钢材!一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄，获得几

Si衬底上多层膜截面样 品的高分辨像材料中心部分厚度1 微米左右样品表面明显损伤氩离子减薄后的Si材 料薄膜样品对粘样品窄窄的缝 宽度三十纳米减薄后样品逢裂开加速电压过高造成 的损

支持膜的制作支持膜是一种能支持观察样品的膜，厚度 约20nm。性能良好的支持膜应具备： 1.较高的透明度 2.在电镜下无可见结构3.与所支持的各种样品不发生化学反应方华膜、碳膜、火

由透射电镜的工作原理可知，供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的；此外，所制得的样品还必须可以真实反映所分析材料的某些特征，因此，样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置，也是一个涉及面很广的题目。大体上透射电镜样品可分为间接样

透射电子显微镜-TEM内容样品制备 透射电子显微像 选区电子衍射分析透射电子显微镜样品制备TEM应用的深度和广度一定程度上取决于 试样制备技术。能否充分发挥电镜的作用，样品的制备是

透射电镜样品制备流程由于透射电镜能观察的样品必须很薄（60～70nm），所以透射电镜的样品准备要求很严格，方法也很单一，仅有一下两种方法：一．负染色技术负染色技术简单快速，可以显示生物大分子、细菌、分离的细胞器以及蛋白晶体等样品的形态、结构

实验二参观透射电子显微镜时间：2015年12月1日第一组：14:30-15:30 2013级金属材料工程专业一班第二组：15:30-16:30 2013级金属材料工程专业二班地点：材料科学与工程学院一楼TEM室讲解：龚伦军老师实验二透射电镜

材料中心部分厚度1 微米左右样品表面明显损伤氩离子减薄后的Si材 料薄膜样品对粘样品窄窄的缝 宽度三十纳米减薄后样品逢裂开加速电压过高造成 的损伤加速电压过高造成 的损伤减薄前表面

透射电镜试样制备一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才

2. 晶体薄膜样品块状材料多采用此方法。 通过减薄制成对电子束透明的薄膜样品。 薄膜样品制备方法要求： ①薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，且制 备过程中不引起材料组织的变