扫描电子显微镜SEM应用案例介绍
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SEM的应用4. SEM的应用SEM的应用主要表现在粉末颗粒分析、断口分析、高倍金相组织观察与分析和断裂过程的动态研究两方面。
1.粉末颗粒分析¾应用SEM对粉末颗粒的分析主要是通过电镜观察,确定粉末颗粒的外形轮廓、轮廓的清晰度、颗粒尺寸大小和厚薄、粒度分布和聚焦或堆叠状态等。
2.断口分析¾材料断口的微观形貌往往与其化学成分、显微组织、制造工艺及服役条件存在密切联系,所以断口形貌的确定对分析断裂原因常常具有决定性作用。
断口分析¾扫描电镜因其景深大,特别适用于断口分析。
¾新鲜金属断口可直接放入电镜进行观察,既简单又不致在制备过程中引入假象;扫描电镜允许在很宽的倍率范围内连续观察,可以对断口进行低倍(约10倍)大视域观察,并在此基础上确定感兴趣的区域(例如裂纹源)进行高倍观察分析,显示断口形貌的细节特征,揭示断裂机理。
3.高倍金相组织观察与分析在多相结构材料中,特别是在某些共晶材料和复合材料的显微组织和分析方面,由于可以借助于扫描电镜景深大的特点,所以完全可以采用深浸蚀的方法,把基体相溶去一定的深度,使得欲观察和研究的相显露出来,这样就可以在扫描电镜下观察到该相的三维立体的形态,这是光学显微镜和透射电镜无法做到的。
4.断裂过程的动态研究¾有的型号的扫描电镜带有较大拉力的拉伸台装置,这就为研究断裂过程的动态过程提供了很大的方便。
¾在试样拉伸的同时既可以直接观察裂纹的萌生及扩展与材料显微组织之间的关系,又可以连续记录下来,为科学研究提供最直接的证据。
断口观察SEM在断口观察中的应用一. 断裂分类1 从宏观现象上看,断裂可分为脆性断裂和延性断裂。
1.1脆性断裂¾脆性断裂表现为以材料表面、内部的缺陷或微裂纹为源,在较低的应力水平下(通常不超过材料的屈服强度),在无塑性变形或只有微小塑性变形的情况下裂纹急速扩展。
¾在出现宏观裂纹后裂纹的扩展速度迅速上升到某个极限速度,大约可达声波在该材料中传播速度的三分之一。
sem 固体形貌例子SEM(扫描电子显微镜)是一种常用的表征固体形貌的仪器,它通过扫描样品表面并测量电子的反射来获得高分辨率的图像。
SEM可用于观察各种固体形貌,包括材料的微观结构、纳米颗粒的形状和大小、生物组织的表面形态等。
以下列举了一些具体的例子,用于说明SEM在不同领域中的应用。
1. 金属材料的晶体形貌:通过SEM可以观察金属材料的晶体形貌,包括晶粒尺寸、晶体取向和晶界分布等。
这对于研究金属材料的力学性能和工艺优化具有重要意义。
2. 矿物学研究:SEM可以用于观察和分析各种矿物的形貌,包括矿石的晶体结构、矿物的颗粒形状和表面特征等。
这对于矿石的勘探和矿石加工有着重要的指导意义。
3. 纳米材料的形貌表征:SEM可以用于观察和测量纳米颗粒的形状、尺寸和分布等。
这对于研究纳米材料的制备工艺和性能调控非常重要。
4. 生物学研究:SEM可以用于观察生物组织的表面形貌,包括细胞的形状、微生物的外形和组织的表面结构等。
这对于生物学研究和医学诊断具有重要意义。
5. 地质学研究:SEM可以用于观察和分析地质样品的形貌,包括岩石的组成、矿物的结构和沉积物的特征等。
这对于地质学的研究和资源勘探具有重要意义。
6. 粉末冶金研究:SEM可以用于观察和分析粉末冶金材料的形貌,包括粉末的形状、尺寸和分布等。
这对于粉末冶金工艺的优化和制备高性能材料具有重要意义。
7. 材料界面的形貌表征:SEM可以用于观察和分析材料界面的形貌,包括金属与陶瓷的界面、纳米材料的界面和涂层的形态等。
这对于材料界面的性能评价和界面工程具有重要意义。
8. 光学器件的形貌表征:SEM可以用于观察和分析光学器件的形貌,包括光学镜片的表面形态、光纤的截面形貌和微透镜的形状等。
这对于光学器件的制备和性能评价具有重要意义。
9. 化学材料的形貌表征:SEM可以用于观察和分析化学材料的形貌,包括聚合物的形态、表面修饰材料的形貌和纳米颗粒的形状等。
这对于化学材料的合成和性能调控具有重要意义。
扫描电子显微镜SEM应用案例介绍扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种非常重要的科学仪器,在物理学、材料科学、地质学、生物学等领域有着广泛的应用。
SEM通过扫描物样表面并检测从样品表面反射回来的电子来获取样品的形貌信息,并利用其高分辨率和高放大倍数能够提供关于样品的详细结构的信息。
以下将介绍几个SEM应用案例。
1.材料科学中的SEM应用在材料科学领域,SEM被广泛用于研究材料的微观形貌和结构。
例如,在金属材料方面,SEM可以用于分析金属的晶体形貌、结构和尺寸分布,从而帮助优化材料的性能。
另外,SEM还可以用于研究陶瓷材料、聚合物材料以及复合材料等其他材料的形貌和结构。
2.生物学中的SEM应用在生物学研究中,SEM可以用于观察生物样品的微观形貌,例如细胞、细胞器、细菌、病毒等。
利用SEM的高分辨率和快速成像功能,研究者可以获得样品的真实形貌,并进一步了解生物系统的结构和功能。
例如,可以利用SEM观察细胞表面微结构的变化、细胞分裂过程中的细胞形态变化等。
3.地质学中的SEM应用在地质学领域,SEM可广泛用于矿物学、岩石学和沉积学等方面的研究。
例如,SEM可以用于分析岩石和矿物的形貌、组成以及微观结构,从而帮助研究者了解地质样品的成因和演化历史。
此外,SEM还可以用于进行环境和污染监测,例如观察和分析大气颗粒物、土壤微观结构以及水样中的微生物等。
4.纳米科学中的SEM应用在纳米科学和纳米技术研究中,SEM被广泛用于观察和研究纳米材料的表面形貌、尺寸分布以及形貌与性能之间的关系。
通过SEM的成像功能,可以观察到纳米材料的纳米颗粒、纳米管、纳米片等纳米结构的形态和尺寸,并进一步了解纳米材料的特殊性能。
综上所述,SEM作为一种重要的科学仪器,在多个领域都有广泛的应用。
它可以提供高分辨率、高放大倍数的图像,并利用这些图像帮助科研人员了解样品的微观形貌、结构和性质,进而推动科学研究和技术应用的发展。
问题:阐述扫描电子显微镜(SEM)的工作原理、特点及在实际中的一个应用实例?答:SEM的工作原理它是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。
图像为立体形象,反映了标本的表面结构。
为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。
SEM的特点(1)仪器分辨本领较高。
二次电子像分辨本领可达 1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝);(2)仪器放大倍数变化范围大(从几倍到几十万倍),且连续可调;(3)图像景深大,富有立体感。
可直接观察起伏较大的粗糙表面(如金属和陶瓷的断口等);(4)试样制备简单。
块状或粉末的试样不加处理或稍加处理,就可直接放到SEM中进行观察,比透射电子显微镜(TEM)的制样简单;(5)电子束对样品的损伤与污染程度较小;(6)在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。
应用实例:利用扫描电镜SEM和场发射扫描FESEM研究液液掺杂一冷冻干燥制备的铈钨阴极材料的结构,进一步解释该种材料的电子发射特性。
试验材料为ATM(偏钨酸铵)和Ce(NO3)·6H2O,首先采用夜夜掺杂的方法配制溶液,经过喷雾冷冻和真空冷冻干燥后制成粉料,再放入氢气还原炉进行粉料的分解还原,最后经过SPS的烧结,制备出新的铈钨阴极材料,样品号为FDC-W,其成分及配比为97.8%W+2.2%CeO2。
为了解释铈钨热电子发射材料的发射特性,通过SEM和FESEM对这种材料的的烧结体进行了研究。
图1FDC—W粉体的SEM像图1为FDC-W粉体的SEM像,从图中可以看出:在低倍数(1000X)下观察还原后的FDC-W粉末,其整体形貌呈现无规则的块状或片状,根本分辨不出小颗粒来。
扫描电子显微镜SEM应用案例介绍
首先,SEM在材料科学中的应用非常广泛。
例如,SEM可以用来观察和分析金属和陶瓷材料的晶体结构和相界面,以及纳米材料的形貌和结构特征。
此外,SEM还可以用来研究材料的力学性能,例如观察和分析材料的断裂面、表面缺陷和变形行为。
其次,SEM在生命科学中的应用也非常重要。
例如,SEM可以用来研究生物样品的细胞结构和器官形态,以及观察细胞的生长和形态变化。
SEM还可以用来研究昆虫和植物的微观结构,例如观察昆虫的鳞片和花粉的形态特征。
此外,SEM还可以用来研究生物材料的表面性质,例如观察和分析细菌的附着行为和生物膜的形成过程。
第三,SEM在地质学中也有重要的应用。
例如,SEM可以用来研究岩石和矿物的微观结构和化学成分,以及观察和分析岩石和矿石的形态特征和变化过程。
SEM还可以用来研究地质样品的变质和变形过程,例如观察和分析岩石的变形构造和岩浆的形态特征。
此外,SEM在化学研究中也有广泛的应用。
例如,SEM可以用来研究材料的表面性质和化学反应过程,以及分析材料的元素组成和化学结构。
SEM还可以用来研究纳米材料的合成和表征,例如观察和分析纳米颗粒的形态特征和分布情况。
此外,SEM还可以用来研究催化剂的形貌和结构特征,以及观察和分析化学反应的催化过程。
综上所述,扫描电子显微镜(SEM)在材料科学、生命科学、地质学和化学研究中具有广泛的应用。
通过SEM可以观察和分析物质的微观结构和特性,为科学研究和工程应用提供重要的帮助。
利用电子扫描显微镜进行材料表面形貌观察的方法材料科学是一门研究材料结构、性能和制备方法的学科,而电子扫描显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)则是材料科学中常用的分析工具之一。
SEM通过扫描样品表面并利用电子束与样品相互作用来获取样品的形貌信息。
本文将介绍利用SEM进行材料表面形貌观察的方法以及一些应用案例。
首先,为了进行SEM观察,需要准备样品并进行预处理。
样品可以是固体、液体或气体,但需要注意的是,样品必须具有一定的导电性,因为SEM是利用电子束与样品相互作用来获取图像的。
对于非导电样品,可以通过涂覆导电薄层或者使用特殊的样品支撑材料来解决。
此外,样品的尺寸也需要适应SEM的工作距离和深度范围。
在样品准备完成后,接下来是SEM的操作步骤。
首先,将样品放置在SEM的样品台上,并固定好。
然后,通过真空系统将SEM的操作环境抽至高真空状态,以避免电子束与空气分子的相互作用。
接着,调整SEM的工作参数,例如加速电压、电子束的聚焦和对准等。
这些参数的选择需要根据样品的性质和所需观察的细节来确定。
最后,开始扫描样品表面并获取图像。
SEM观察的图像通常呈现出高分辨率和大深度的特点,能够清晰地显示材料的微观形貌。
利用SEM可以观察到材料表面的粗糙度、纹理、晶体结构等细节信息。
此外,SEM还可以通过特殊的探针技术,如能谱分析和电子背散射模式,获取更多的化学和结构信息。
除了观察材料的形貌,SEM还可以用于定量分析。
例如,可以通过测量图像中的颗粒大小和分布来评估材料的颗粒性质;可以通过测量图像中的孔隙度和孔径来评估材料的孔隙结构。
这些定量分析可以为材料科学研究提供重要的参考数据。
在实际应用中,利用SEM进行材料表面形貌观察的方法被广泛应用于材料科学、纳米科学、生物医学等领域。
例如,在材料科学中,SEM可以用于评估材料的表面质量和制备工艺的效果;在纳米科学中,SEM可以用于观察纳米颗粒的形貌和组装结构;在生物医学中,SEM可以用于观察细胞和组织的微观形貌。